压延铜箔的表面处理液及表面处理方法以及压延铜箔的制造方法

    公开(公告)号:CN110462103A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201880021257.1

    申请日:2018-03-23

    Abstract: 本发明涉及压延铜箔的制造方法、压延铜箔的表面处理方法以及压延铜箔用表面处理液。本发明中,使含有过氧化氢(A)、硫酸(B)、醇(C)和苯基脲(D)、并且过氧化氢(A)/硫酸(B)的摩尔比处于0.3~3.0的范围内、硫酸(B)处于0.5~15.0质量%的范围内、醇(C)处于0.1~5.0质量%的范围内的表面处理液与压延铜箔表面接触而将压延铜箔表面溶解,由此处理压延铜箔表面。根据本发明的优选方式,可以将压延铜箔表面平滑化而不会产生环形山状的蚀刻、坑。

    铜箔用蚀刻液和使用其的印刷电路板的制造方法以及电解铜层用蚀刻液和使用其的铜柱的制造方法

    公开(公告)号:CN112055759A

    公开(公告)日:2020-12-08

    申请号:CN201980026980.3

    申请日:2019-04-22

    Abstract: 本发明涉及:边抑制铜布线的侧蚀刻的发生、边能对铜箔进行蚀刻的铜箔用蚀刻液和使用其的铜箔的蚀刻方法和印刷电路板的制造方法。另外,本发明涉及:边抑制电解铜层的侧蚀刻的发生、边能对电解铜层进行蚀刻的电解铜层用蚀刻液和使用其的电解铜层的蚀刻方法和铜柱的制造方法。本发明的蚀刻液的特征在于,含有:过氧化氢(A)、硫酸(B)、和选自由5‑氨基‑1H‑四唑、1,5‑五亚甲基四唑和2‑正十一烷基咪唑组成的组中的至少1种唑化合物(C),过氧化氢(A)相对于硫酸(B)的摩尔比处于6~30的范围内,唑化合物(C)的浓度处于0.001~0.01质量%的范围内,所述蚀刻液实质上不含有磷酸。

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