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公开(公告)号：CN110245384A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910407038.3
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于特征频谱带阻滤波的寄生条纹消除方法及装置，该方法包括：获取含有寄生条纹的干涉仪采斑测量面形数据矩阵f(x,y)；计算寄生条纹的相关参数和所述面形数据矩阵f(x,y)频谱放大倍数N；根据所述相关参数和放大倍数N，对寄生条纹的频谱和频域特征进行处理，生成频谱数据；对所述频谱数据进行FFT反变换，得到消除寄生条纹的面形数据。该方法只消除寄生条纹的频谱，完全保留去除函数自身频谱，不会改变去除函数自身形态，使得在滤除寄生条纹的同时，去除函数自身形态得到了保持，提高了磁流变去除函数的提取精度。
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公开(公告)号：CN110227968B
公开(公告)日：2020-08-21
申请号：CN201910410490.5
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了基于小波变换的磁流变去除函数寄生条纹消除方法及装置，该方法能够准确去除寄生条纹，达到磁流变去除函数的精确提取，适用范围广，对于传统频域带阻滤波无法解决的寄生条纹和原始数据频谱严重混叠的情况，仍然适用，是一种较好的寄生条纹去除方法，可以有效应用于消除磁流变去除函数寄生条纹，实现磁流变去除函数的准确提取。同时也可以较好的用于其它超精密加工方式,如气囊抛光、离子束抛光等的去除函数寄生条纹的消除，便于推广应用。
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公开(公告)号：CN107806933A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201711295075.7
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于双束时间分辨泵浦探测技术的激光诱导光学材料体内冲击波波速的测量方法。光学材料激光诱导冲击波波速的测量方法，该方法包括以下步骤：1)双束探测成像系统获取泵浦激光脉冲激发待测样品内部冲击波某一时刻的相同位置、设定时间间隔的两幅图像；2)基于图像处理算法，比较两幅图像中冲击波波峰包络位置变化量，计算获取某一时刻的冲击波波速。本发明建立双束探测成像系统，一路泵浦激光脉冲作用于光学材料并激发诱导冲击波现象，双路探测激光脉冲以一定的时间间隔辐照至激发区域，携带冲击波位置信息的双路探测光分别由探测捕获，通过改变泵浦激光脉冲与探测激光脉冲之间的延时量，可精确测得任意时刻的激光诱导冲击波波速。
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公开(公告)号：CN110245384B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201910407038.3
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于特征频谱带阻滤波的寄生条纹消除方法及装置，该方法包括：获取含有寄生条纹的干涉仪采斑测量面形数据矩阵f(x,y)；计算寄生条纹的相关参数和所述面形数据矩阵f(x,y)频谱放大倍数N；根据所述相关参数和放大倍数N，对寄生条纹的频谱和频域特征进行处理，生成频谱数据；对所述频谱数据进行FFT反变换，得到消除寄生条纹的面形数据。该方法只消除寄生条纹的频谱，完全保留去除函数自身频谱，不会改变去除函数自身形态，使得在滤除寄生条纹的同时，去除函数自身形态得到了保持，提高了磁流变去除函数的提取精度。
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公开(公告)号：CN110245317A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910407648.3
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种磁流变抛光去除函数的提取方法及装置，该方法包括：获取基片元件采斑前和采斑后的面形检测数据；所述基片元件边缘处带有位置标记；根据所述采斑前、采斑后的面形检测数据及基片元件的位置标记，计算得残差数据；对所述残差数据进行中值滤波处理；对滤波处理后的残差数据，采用椭圆弧逼近去除函数轮廓，生成多个含有相同参数的去除函数；对所述多个含有相同参数的去除函数，执行数据偏移、求平均操作，提取去除函数。该方法能够准确提取磁流变抛光去除函数，提高去除函数准确性与磁流变加工精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110134915A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910411413.1
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种磁流变抛光驻留时间的处理方法及装置，该方法通过采用驻留点矩阵的方法，保持了在卷积计算时矩阵E、P的整体连续性，因此在计算卷积时，可以采用更高效的卷积计算方法；同时该方法从机床动态性能匹配的角度出发，实现了驻留时间计算过程中速度、加速度、速度匀滑性的有效控制，使得驻留时间计算方法具有面形收敛精度高、计算速度快与机床动态性能匹配等优点，适用于磁流变加工中驻留时间的求解，尤其是在大规模计算时相比于矩阵法具有较高的计算效率，是一种有效的驻留时间计算方法，可以提高磁流变加工的面形收敛精度，是值得推广的一种驻留时间计算方法。
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公开(公告)号：CN107806933B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN201711295075.7
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于双束时间分辨泵浦探测技术的激光诱导光学材料体内冲击波波速的测量方法。光学材料激光诱导冲击波波速的测量方法，该方法包括以下步骤：1)双束探测成像系统获取泵浦激光脉冲激发待测样品内部冲击波某一时刻的相同位置、设定时间间隔的两幅图像；2)基于图像处理算法，比较两幅图像中冲击波波峰包络位置变化量，计算获取某一时刻的冲击波波速。本发明建立双束探测成像系统，一路泵浦激光脉冲作用于光学材料并激发诱导冲击波现象，双路探测激光脉冲以一定的时间间隔辐照至激发区域，携带冲击波位置信息的双路探测光分别由探测捕获，通过改变泵浦激光脉冲与探测激光脉冲之间的延时量，可精确测得任意时刻的激光诱导冲击波波速。
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公开(公告)号：CN110134915B
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN201910411413.1
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种磁流变抛光驻留时间的处理方法及装置，该方法通过采用驻留点矩阵的方法，保持了在卷积计算时矩阵E、P的整体连续性，因此在计算卷积时，可以采用更高效的卷积计算方法；同时该方法从机床动态性能匹配的角度出发，实现了驻留时间计算过程中速度、加速度、速度匀滑性的有效控制，使得驻留时间计算方法具有面形收敛精度高、计算速度快与机床动态性能匹配等优点，适用于磁流变加工中驻留时间的求解，尤其是在大规模计算时相比于矩阵法具有较高的计算效率，是一种有效的驻留时间计算方法，可以提高磁流变加工的面形收敛精度，是值得推广的一种驻留时间计算方法。
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公开(公告)号：CN109814184A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201910221501.5
申请日：2019-03-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本申请实施例提供一种复合光学透镜、激光装置及长焦深涡旋光束的产生方法，属于激光装置技术领域。复合光学透镜具有用于同一光束穿过的第一透镜面和第二透镜面，第一透镜面为螺旋相位面，第二透镜面为锥镜面，螺旋相位面沿远离第二透镜面的方向螺旋延伸，锥镜面的尖端远离第一透镜面，螺旋相位面的轴线与锥镜面的轴线重合。激光装置中，使激光光束依次穿过第一透镜面和第二透镜面或者使激光光束依次穿过第二透镜面和第一透镜面，得到长焦深涡旋光束，利于光学器件的研究。
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公开(公告)号：CN110245317B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201910407648.3
申请日：2019-05-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种磁流变抛光去除函数的提取方法及装置，该方法包括：获取基片元件采斑前和采斑后的面形检测数据；所述基片元件边缘处带有位置标记；根据所述采斑前、采斑后的面形检测数据及基片元件的位置标记，计算得残差数据；对所述残差数据进行中值滤波处理；对滤波处理后的残差数据，采用椭圆弧逼近去除函数轮廓，生成多个含有相同参数的去除函数；对所述多个含有相同参数的去除函数，执行数据偏移、求平均操作，提取去除函数。该方法能够准确提取磁流变抛光去除函数，提高去除函数准确性与磁流变加工精度。
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