反向导通绝缘栅双极性晶体管

    公开(公告)号:CN105702718B

    公开(公告)日:2018-10-30

    申请号:CN201510918997.3

    申请日:2015-12-10

    CPC classification number: H01L29/7397 H01L29/0623 H01L29/0834 H01L29/1095

    Abstract: 本发明提供一种对两步式导通现象的产生进行抑制的反向导通绝缘栅双极性晶体管。反向导通绝缘栅双极性晶体管(1)的半导体层(10)具备n型的势垒区(18),所述势垒区(18)被设置在体区(15)内,并且通过从半导体层(10)的表面(10B)延伸的柱区(19)而与发射极(24)电连接。势垒区(18)具有第一势垒部分区域(18a)及第二势垒部分区域(18b),其中,所述第一势垒部分区域(18a)到漂移区(14)的距离为第一距离(18Da),所述第二势垒部分区域(18b)到漂移区(14)的距离为与第一距离(18Da)相比较长的第二距离(18Db)。第二势垒部分区域(18b)与绝缘沟槽栅部(30)的侧面相接。

    半导体装置与其制造方法

    公开(公告)号:CN107623026B

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN201710551971.9

    申请日:2017-07-07

    Abstract: 本发明提供一种能够缓和外周耐压区的电场的半导体装置与其制造方法。所述半导体装置的半导体基板具有元件区和外周耐压区。外周耐压区具有对元件区进行多重包围的p型的多个保护环。多个保护环具有内周侧保护环和外周侧保护环,所述外周侧保护环被配置在与内周侧保护环相比靠外周侧并且与内周侧保护环相比宽度较窄。内周侧保护环彼此之间的间隔与外周侧保护环彼此之间的间隔相比较窄。内周侧保护环各自具有第一高浓度区和第一低浓度区。外周侧保护环各自具有第二高浓度区和第二低浓度区。第一低浓度区在表面处的宽度与第二低浓度区在表面处的宽度相比较宽。

    半导体装置与其制造方法

    公开(公告)号:CN107623026A

    公开(公告)日:2018-01-23

    申请号:CN201710551971.9

    申请日:2017-07-07

    Abstract: 本发明提供一种能够缓和外周耐压区的电场的半导体装置与其制造方法。所述半导体装置的半导体基板具有元件区和外周耐压区。外周耐压区具有对元件区进行多重包围的p型的多个保护环。多个保护环具有内周侧保护环和外周侧保护环,所述外周侧保护环被配置在与内周侧保护环相比靠外周侧并且与内周侧保护环相比宽度较窄。内周侧保护环彼此之间的间隔与外周侧保护环彼此之间的间隔相比较窄。内周侧保护环各自具有第一高浓度区和第一低浓度区。外周侧保护环各自具有第二高浓度区和第二低浓度区。第一低浓度区在表面处的宽度与第二低浓度区在表面处的宽度相比较宽。

    半导体装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105938830A

    公开(公告)日:2016-09-14

    申请号:CN201610115150.6

    申请日:2016-03-01

    Inventor: 安田佳史

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置,其能够保护检测开关元件免受浪涌影响,并且能够使用检测开关元件而以较高精度来对主开关元件的电流进行检测。所述半导体装置具有:第一主电极和第二主电极,其与半导体基板的正面相接;背面电极,其与半导体基板的背面相接;第一电容器电极;其被配置在所述正面上;第一绝缘膜,其被配置在第一电容器电极上;第二电容器电极,其被配置在第一绝缘膜上。在第一主电极与背面电极之间形成有第一绝缘栅型开关元件。在第二主电极与背面电极之间形成有第二绝缘栅型开关元件。第一主电极和第二主电极中的任意一方与第一电容器电极导通,第一主电极和第二主电极中的另一方与第二电容器电极导通。

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