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公开(公告)号:CN103460388A
公开(公告)日:2013-12-18
申请号:CN201280016150.0
申请日:2012-09-04
IPC: H01L29/12 , H01L21/336 , H01L29/78
CPC classification number: H01L29/66666 , H01L21/3065 , H01L29/1608 , H01L29/34 , H01L29/4236 , H01L29/66068 , H01L29/7813
Abstract: 一种碳化硅半导体器件的制造方法,包括:在碳化硅衬底(1)上形成漂移层(2);在所述漂移层(2)的表面部分上或表面部分中形成基极层(3);在所述基极层(3)的表面部分中形成源极区(4);形成沟槽(6),以穿透所述基极层(3)并且到达所述漂移层(2);在所述沟槽(6)中的所述栅极绝缘膜(7)上形成栅极电极(8);形成电连接至所述源极区(4)和所述基极层(3)的源极电极(9);以及在所述衬底(1)的背侧表面上形成漏极电极(11)。形成所述沟槽(6)包括:对衬底表面进行平坦化,并且在平坦化之后蚀刻以形成所述沟槽(6)。
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公开(公告)号:CN108292668A
公开(公告)日:2018-07-17
申请号:CN201680060502.0
申请日:2016-09-16
IPC: H01L29/417 , H01L29/66 , H01L29/739 , H01L29/78
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L23/3192 , H01L29/1095 , H01L29/417 , H01L29/41741 , H01L29/66068 , H01L29/66348 , H01L29/66734 , H01L29/7397
Abstract: 提供了一种制造半导体器件的方法,其包括形成层间绝缘。层间绝缘膜包括第一绝缘层和第二绝缘层。所述第一绝缘层覆盖每个栅极电极的上表面。所述第二绝缘层位于所述第一绝缘层上。在所述层间绝缘膜中沟槽之间的位置处设置有接触孔。然后,在低于所述第一绝缘层的软化温度且高于所述第二绝缘层的软化温度的温度下加热所述层间绝缘膜,以使所述第二绝缘层的表面成为曲面,从而使得所述第二绝缘层的端部的表面从对应的接触孔起倾斜,以便朝向对应的沟槽的中央向上移位。
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公开(公告)号:CN107004725A
公开(公告)日:2017-08-01
申请号:CN201580068085.X
申请日:2015-10-19
IPC: H01L29/872 , H01L21/329 , H01L29/06 , H01L29/47
CPC classification number: H01L29/0623 , H01L21/0465 , H01L21/761 , H01L29/0619 , H01L29/0692 , H01L29/1608 , H01L29/6606 , H01L29/872
Abstract: SBD具备与阳极电极接触的p型接触区和与阳极电极肖特基接触的n型漂移区。p型接触区具备:第一p型区域,其具有角部;第二p型区域,其与角部连接;边缘填充部,其被配置在第一p型区域与第二p型区域的连接部处。在将第一p型区域的轮廓的向连接部侧延长的延长线设为第一延长线,并将第二p型区域的轮廓的向所述连接部侧延长的延长线设为第二延长线时,第一延长线与第二延长线以锐角交叉。边缘填充部填充被形成在第一延长线与第二延长线之间的锐角边缘。
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公开(公告)号:CN106537602A
公开(公告)日:2017-03-22
申请号:CN201580039069.8
申请日:2015-06-03
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/0623 , H01L29/1095 , H01L29/1608 , H01L29/42368 , H01L29/66068 , H01L29/66734
Abstract: 实现具有与底部绝缘层的下端部相接的p型区域的开关元件的高耐压特性。具有配置于沟槽部绝缘层(20)靠表面侧的位置的栅极电极(24)的开关元件。半导体基板(12)具有与栅极绝缘膜(22)相接的第一n型区域(30)、与栅极绝缘膜(22)相接的第一p型区域(32)、与底部绝缘层(20)的端部相接的第二p型区域(34)、以及使第二p型区域(34)与第一p型区域(32)分离的第二n型区域(36)。从第一p型区域(32)的背面侧端部到第二p型区域(34)的表面侧端部为止的距离A与从底部绝缘层(20)的背面侧端部到第二p型区域(34)的背面侧端部为止的距离B满足A<4B的关系。(18)内的底部的底部绝缘层(20)和配置于比底
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公开(公告)号:CN102856382B
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:CN201210226273.9
申请日:2012-06-29
Applicant: 丰田自动车株式会社
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/045 , H01L29/0865 , H01L29/1095 , H01L29/1608 , H01L29/4236 , H01L29/66068 , H01L29/7825 , H01L29/7827
Abstract: 本发明涉及一种碳化硅半导体器件。在碳化硅半导体器件中,多个沟槽(7)具有一个方向上的纵向方向并且以条纹图案布置。每个所述沟槽(7)均具有在所述纵向方向上延伸的第一侧壁和第二侧壁。所述第一侧壁与(11-20)平面和(1-100)平面中的一个平面成第一锐角,所述第二侧壁与(11-20)平面和(1-100)平面的所述一个平面成第二锐角,并且所述第一锐角小于所述第二锐角。第一导电类型区(5)仅与每个所述沟槽(7)的所述第一侧壁和所述第二侧壁中的所述第一侧壁接触,并且电流通路仅形成在所述第一侧壁和所述第二侧壁中的所述第一侧壁上。
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公开(公告)号:CN102339863B
公开(公告)日:2014-07-02
申请号:CN201110206210.2
申请日:2011-07-15
IPC: H01L29/78
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/0696 , H01L29/0878 , H01L29/1095 , H01L29/1608 , H01L29/66068 , H01L29/7397 , H01L29/7828
Abstract: 一种SiC半导体装置,包括:反转型MOSFET,所述MOSFET包括:基底(1);基底上的漂移层(2)和基极区(3);基极区上的基极接触层(5)和源极区(4);多个沟槽(6),具有在第一方向上的纵向方向,沟槽(6)穿透所述源极区和所述基极区;经由栅极绝缘膜(8)处于每个沟槽中的栅极电极(9);中间层绝缘膜(12),覆盖所述栅极电极并具有接触孔(12a),所述源极区和所述基极接触层通过所述接触孔(12a)得到暴露;源极电极(11),通过所述接触孔与所述源极区和所述基极区电耦合;以及所述基底上的漏极电极(13)。源极区和基极接触层沿垂直于第一方向的第二方向延伸,并且沿第一方向交替布置。接触孔具有在所述第一方向上的纵向方向。
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公开(公告)号:CN109417090A
公开(公告)日:2019-03-01
申请号:CN201780041600.4
申请日:2017-06-29
IPC: H01L29/06 , H01L29/12 , H01L29/47 , H01L29/78 , H01L29/861 , H01L29/868 , H01L29/872
Abstract: 在p型连接层(30)的前端连结p型扩张区域(40)。通过形成这样的p型扩张区域(40),能够消除在p型连接层(30)与p型保护环(21)之间间隔变大的区域。因此,在台面部中,能够抑制等电位线过度隆起,能够确保耐压。
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公开(公告)号:CN104718624B
公开(公告)日:2018-02-13
申请号:CN201380041833.6
申请日:2013-08-06
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/12
CPC classification number: H01L29/66734 , H01L21/049 , H01L21/28158 , H01L21/30604 , H01L29/045 , H01L29/1095 , H01L29/1608 , H01L29/4236 , H01L29/4238 , H01L29/66068 , H01L29/7397 , H01L29/7813
Abstract: 在具备具有沟槽栅结构(9)的纵型开关元件的碳化硅半导体装置的制造方法中,使用相对于(0001)面或(000-1)面具有偏轴角的衬底(1),以使沟槽(6)的侧壁面朝向(11-20)面或(1-100)面的方式,将沟槽(6)从源区(4)的表面形成到将基区(3)贯通并到达漂移层(2)的深度,在上述沟槽(6)的形成后不进行牺牲氧化,形成栅氧化膜(7)。
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公开(公告)号:CN105874576A
公开(公告)日:2016-08-17
申请号:CN201480071043.7
申请日:2014-10-14
Applicant: 丰田自动车株式会社
IPC: H01L21/336 , H01L21/316 , H01L29/06 , H01L29/12 , H01L29/78
CPC classification number: H01L29/408 , H01L21/02164 , H01L21/022 , H01L21/02271 , H01L21/324 , H01L29/06 , H01L29/0623 , H01L29/0649 , H01L29/12 , H01L29/1608 , H01L29/66734 , H01L29/7397 , H01L29/78 , H01L29/7802 , H01L29/7811 , H01L29/7813
Abstract: 本发明公开一种能够抑制在沟槽内的绝缘层中产生裂纹或空隙的情况的技术。半导体装置(100)具有形成有元件区(110)和包围元件区(110)的终端区(120)的半导体基板(10)。元件区(110)具有:沟槽(20);栅极绝缘膜(22),其覆盖沟槽(20)的内表面;栅电极(24),其设置于栅极绝缘膜(22)的内侧。终端区(120)具有:终端沟槽(30),其被配置于元件区(110)的周围;第一绝缘层(32b),其覆盖终端沟槽(30)的内表面;第二绝缘层(34b),其被形成于第一绝缘层(32b)的内侧,且被填充于终端沟槽(30)内。第一绝缘层(32b)的折射率大于第二绝缘层(34b)的折射率。
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公开(公告)号:CN102856382A
公开(公告)日:2013-01-02
申请号:CN201210226273.9
申请日:2012-06-29
CPC classification number: H01L29/7813 , H01L29/045 , H01L29/0865 , H01L29/1095 , H01L29/1608 , H01L29/4236 , H01L29/66068 , H01L29/7825 , H01L29/7827
Abstract: 本发明涉及一种碳化硅半导体器件。在碳化硅半导体器件中,多个沟槽(7)具有一个方向上的纵向方向并且以条纹图案布置。每个所述沟槽(7)均具有在所述纵向方向上延伸的第一侧壁和第二侧壁。所述第一侧壁与(11-20)平面和(1-100)平面中的一个平面成第一锐角,所述第二侧壁与(11-20)平面和(1-100)平面的所述一个平面成第二锐角,并且所述第一锐角小于所述第二锐角。第一导电类型区(5)仅与每个所述沟槽(7)的所述第一侧壁和所述第二侧壁中的所述第一侧壁接触,并且电流通路仅形成在所述第一侧壁和所述第二侧壁中的所述第一侧壁上。
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