薄膜电容器寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119375587A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411553442.9

    申请日:2024-11-02

    Abstract: 本申请属于电子元器件老化测试技术领域,具体公开了一种薄膜电容器寿命预测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:获取老化试验工况下待测薄膜电容器两端在当前预测周期时段的电压信息;提取电压信息中的电压直流分量和电压谐波分量,并基于电压谐波分量确定老化加速因子;基于电压直流分量、当前预测周期时段的热点温度和老化加速因子,确定待测薄膜电容器在当前预测周期时段的老化速率;在确定老化速率满足预设寿命终止阈值条件的情况下,根据当前预测周期时段对应的总时长确定待测薄膜电容器的寿命。通过本申请,实现了对薄膜电容器寿命的自动预测,而无需人工参与,可以大大提高薄膜电容器寿命预测的准确性和效率。

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