公开(公告)号：CN118795020A

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202410541623.3

申请日：2024-04-30

Applicant: 合肥工业大学

Inventor： 李帷韬 ,  王天齐 ,  金宇奇 ,  代陆 ,  董开阳 ,  李志军 ,  闫锦涛 ,  房楚博 ,  李奇越 ,  孙伟 ,  张倩 ,  张志强

IPC: G01N27/90 ,  G01R27/02 ,  G01R27/26 ,  G16C20/30 ,  G16C20/70 ,  G16C20/80 ,  G16C20/90 ,  G16C60/00 ,  G06F30/23 ,  G06F30/27 ,  G06N5/04 ,  G06T17/20 ,  G06F111/10

Abstract: 本发明提供基于STM32的非接触式材料电学性质测量方法及系统，方法包括：利用电涡流传感器靠近不同的被测材料，测量电路响应变化，以得到电涡流传感器的电感变化数据；根据电感变化数据，进行电磁场理论分析、电涡流传感器理论分析、电容三点式振荡电路理论分析，得到材料磁场强度分布，以推断被测材料的电性学性质；对被测材料进行实验及模拟仿真，获取并根据实验数据，建立并存储不同温度下的电路响应数据库；基于STM32控制芯片，设计电涡流传感器的电容三点式振荡电路，实时采集电路响应数据，与电路响应数据库进行比较，以获取并显示电学性质检测结果。本发明解决了环境干扰、材料复杂性以及测量模型复杂的技术问题。