半导体器件
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100593856C

    公开(公告)日:2010-03-10

    申请号:CN200610121913.4

    申请日:2006-08-28

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种半导体器件,该半导体器件能够抑制因噪声引起的信号品质的劣化,并且能够减少因闩锁引起的电路误操作,能够确保良好的隔离度。该半导体器件包括:第1层,在半导体衬底内形成,电阻率比10Ωcm大、且比1kΩcm小;第2层,在半导体衬底内的表面侧且位于第1层上方形成;2个半导体元件或半导体电路,在第2层内或第2层之上形成;以及沟槽型绝缘区域,位于2个半导体元件之间,形成在半导体衬底内且从半导体衬底的表面到达上述第1层,将2个半导体元件或半导体电路电分离。

    半导体器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1925157A

    公开(公告)日:2007-03-07

    申请号:CN200610121913.4

    申请日:2006-08-28

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种半导体器件,该半导体器件能够抑制因噪声引起的信号品质的劣化,并且能够减少因闩锁引起的电路误操作,能够确保良好的隔离度。该半导体器件包括:第1层,在半导体衬底内形成,电阻率比10Ωcm大、且比1kΩcm小;第2层,在半导体衬底内的表面侧且位于第1层上方形成;2个半导体元件或半导体电路,在第2层内或第2层之上形成;以及沟槽型绝缘区域,位于2个半导体元件之间,形成在半导体衬底内且从半导体衬底的表面到达上述第1层,将2个半导体元件或半导体电路电分离。

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