公开(公告)号：CN103635072A

公开(公告)日：2014-03-12

申请号：CN201310370256.7

申请日：2013-08-22

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 松村洋 ,  渡边真也 ,  纳土章

IPC: H05K13/02

Abstract: 本发明提供一种料盘式供料器、电子元件搭载装置及载体的转移方法，准确地将载体收纳体的错误的载体保持架所保持的载体转移到本应收纳的载体保持架。使载体保持台移动到与载体保持架相对的位置，将载体从载体保持架拉出，使其移动到载体保持台上。接着，使载体保持台上升到与载体暂存架相对的位置，使载体移动到载体暂存架。接着，使载体保持台下降到与载体保持架相对的位置，将载体从载体保持架拉出。然后，通过使载体保持台上升到与载体保持架相对的位置，且使载体移动到载体保持架，而在载体保持架保持如配膳数据那样的载体。

公开(公告)号：CN104144602A

公开(公告)日：2014-11-12

申请号：CN201410105499.2

申请日：2014-03-20

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 米山茂和 ,  高田力 ,  纳土章

IPC: H05K13/02

Abstract: 本发明的目的在于提供一种供料器维护装置，能够自动且连续地执行对带式供料器的多种维护作业。在以相对于安装于槽（21S）的带式供料器（2）移动自如的方式设置的移动体（22）上，具备在移动体（22）位于第一作业位置的状态下对带式供料器（2）执行第一维护作业的第一维护作业部（16）（链轮驱动转矩测定部31及输送精度测定部32）、及在移动体（22）位于第二作业位置的状态下对带式供料器（2）执行与第一维护作业不同的第二维护作业的第二维护作业部（28）（带按压部件高度测定部33），通过移动体移动电动机（24）使移动体（22）在第一作业位置与第二作业位置之间移动。

公开(公告)号：CN101755497A

公开(公告)日：2010-06-23

申请号：CN200880025377.5

申请日：2008-08-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 远藤忠士 ,  纳土章 ,  永尾和英

IPC: H05K13/04

CPC classification number: H05K13/041 ,  H05K13/0812 ,  Y10T29/49131

Abstract: 提供一种能够防止安装头在可移动区域内的自由操作受到限制且能够改善安装节拍时间的元件放置设备。元件放置设备(1)包括由将检查光投射在水平方向上的投影器(21)和接收投影器(21)所投射的检查光的线阵传感器(22)构成的线阵传感器照相机(23)，元件放置设备(1)设置成使安装头(7)移动，以允许吸到安装头(7)的抽吸管嘴(9)的元件(P)在安装到基板(10)上之前与线阵传感器照相机(23)的检查光的光轴(20)水平相交，以使线阵传感器照相机(23)执行对元件的成像，并基于线阵传感器照相机(23)对元件(P)成像所得到的元件(P)的图像(DP)来判断元件(P)相对于抽吸管嘴(9)的抽吸姿态的行为，其特征在于，构成线阵传感器照相机(23)的投影器(21)和线阵传感器(22)布置在安装头(7)相对于基座(2)的可移动区域(R)的外侧。

公开(公告)号：CN1292208A

公开(公告)日：2001-04-18

申请号：CN99803275.1

申请日：1999-02-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森本正通 ,  蜂谷荣一 ,  田边敦 ,  纳土章 ,  佐野公昭

IPC: H05K13/04

CPC classification number: H05K13/0812 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49133 ,  Y10T29/49462 ,  Y10T29/53543

Abstract: 通过对高度检测器(8)所检测的高度测量区进行限定,从而只对连接部分进行检测,而对其他的干扰目标不进行检测。亮度图象索取装置(3)用于获得电子元件(2)的整个底面的亮度图象数据,及高度图象索取装置(8),用于获得电子器件(2)的整个底面的高度图象数据。通过单独选择使用亮度图象索取装置(3)所进行的二维位置检测和高度图象索取装置(8)的三维位置检测而进行电子元件(2)的位置检测。具有多个凸电极(2a)的电子元件(2)的整个底部的高度图象被高度检测检测器(3)索取作为二维图象数据,从高度图象数据获取各个凸电极(2a),从而检测各个凸电极(2a)的体积和形状。当凸电极(2a)的体积和形状不满足预定的标准时,就认为电子元件(2)为非正常。

公开(公告)号：CN101755497B

公开(公告)日：2012-03-14

申请号：CN200880025377.5

申请日：2008-08-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 远藤忠士 ,  纳土章 ,  永尾和英

IPC: H05K13/04

CPC classification number: H05K13/041 ,  H05K13/0812 ,  Y10T29/49131

Abstract: 提供一种能够防止安装头在可移动区域内的自由操作受到限制且能够改善安装节拍时间的元件放置设备。元件放置设备(1)包括由将检查光投射在水平方向上的投影器(21)和接收投影器(21)所投射的检查光的线阵传感器(22)构成的线阵传感器照相机(23)，元件放置设备(1)设置成使安装头(7)移动，以允许吸到安装头(7)的抽吸管嘴(9)的元件(P)在安装到基板(10)上之前与线阵传感器照相机(23)的检查光的光轴(20)水平相交，以使线阵传感器照相机(23)执行对元件的成像，并基于线阵传感器照相机(23)对元件(P)成像所得到的元件(P)的图像(DP)来判断元件(P)相对于抽吸管嘴(9)的抽吸姿态的行为，其特征在于，构成线阵传感器照相机(23)的投影器(21)和线阵传感器(22)布置在安装头(7)相对于基座(2)的可移动区域(R)的外侧。

公开(公告)号：CN1205847C

公开(公告)日：2005-06-08

申请号：CN99803275.1

申请日：1999-02-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 森本正通 ,  蜂谷荣一 ,  田边敦 ,  纳土章 ,  佐野公昭

IPC: H05K13/04

CPC classification number: H05K13/0812 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49133 ,  Y10T29/49462 ,  Y10T29/53543

Abstract: 通过对高度检测器(8)所检测的高度测量区进行限定，从而只对连接部分进行检测，而对其他的干扰目标不进行检测。亮度图象索取装置(3)用于获得电子元件(2)的整个底面的亮度图象数据，及高度图象索取装置(8)，用于获得电子器件(2)的整个底面的高度图象数据。通过单独选择使用亮度图象索取装置(3)所进行的二维位置检测和高度图象索取装置(8)的三维位置检测而进行电子元件(2)的位置检测。具有多个凸电极(2a)的电子元件(2)的整个底部的高度图象被高度检测检测器(3)索取作为二维图象数据，从高度图象数据获取各个凸电极(2a)，从而检测各个凸电极(2a)的体积和形状。当凸电极(2a)的体积和形状不满足预定的标准时，就认为电子元件(2)为非正常。