转移叠层的方法以及制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN102867736B

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201210352567.6

    申请日:2003-05-16

    Abstract: 本发明的名称为转移叠层的方法以及制造半导体器件的方法,其目的是提供一种在短时间内将待要剥离的物体转移到转移部件上而不对叠层中待要剥离的物体造成损伤的方法。而且,本发明的另一目的是提供一种制造半导体器件的方法,其中,制造在衬底上的半导体元件被转移到转移部件,典型地说是塑料衬底上。此方法的特征在于包括:在衬底上形成剥离层和待要剥离的物体;通过双面胶带键合待要剥离的物体和支座;用物理方法从剥离层剥离待要剥离的物体,然后将待要剥离的物体键合到转移部件上;以及从待要剥离的物体剥离支座和双面胶带。

    半导体器件的制造方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1893000B

    公开(公告)日:2012-06-27

    申请号:CN200610099724.1

    申请日:1994-03-12

    Abstract: 半导体器件的制造方法,本发明涉及半导体器件的一种制造方法,其特征在于,它包括下列步骤:在具有绝缘表面的衬底上形成一层晶体半导体膜;在所述晶体半导体膜上通过利用四乙氧基硅烷形成包括二氧化硅的栅绝缘膜;形成邻近所述晶体半导体膜的栅电极,其中所述栅绝缘膜插入在所述晶体半导体膜和所述栅电极之间,所述栅电极包括从由钽、钛、钨、钼和硅组成的组中选取的一种材料;以及通过所述栅绝缘膜向所述晶体半导体膜中引入杂质元素,从而在所述晶体半导体膜中形成至少一个杂质区。

    薄膜晶体管
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1893118B

    公开(公告)日:2010-05-12

    申请号:CN200610099725.6

    申请日:1994-03-12

    Abstract: 本发明涉及半导体器件的一种制造方法,其特征在于,它包括下列步骤:在具有绝缘表面的衬底上形成一层晶体半导体膜;在所述晶体半导体膜上通过利用四乙氧基硅烷形成包括二氧化硅的栅绝缘膜;形成邻近所述晶体半导体膜的栅电极,其中所述栅绝缘膜插入在所述晶体半导体膜和所述栅电极之间,所述栅电极包括从由钽、钛、钨、钼和硅组成的组中选取的一种材料;以及通过所述栅绝缘膜向所述晶体半导体膜中引入杂质元素,从而在所述晶体半导体膜中形成至少一个杂质区。

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