公开(公告)号：CN1190837C

公开(公告)日：2005-02-23

申请号：CN99815785.6

申请日：1999-09-14

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 佐佐木雅子 ,  铃木一成 ,  市原诚一 ,  下石智明 ,  中村寿雄 ,  西邦彦 ,  田中英树 ,  中嶋宽

IPC: H01L23/31

CPC classification number: H01L21/6836 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/3114 ,  H01L23/3164 ,  H01L23/4951 ,  H01L23/49572 ,  H01L23/49833 ,  H01L23/4985 ,  H01L23/562 ,  H01L24/27 ,  H01L2221/68327 ,  H01L2224/05567 ,  H01L2224/05571 ,  H01L2224/05572 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/05624 ,  H01L2224/1134 ,  H01L2224/13144 ,  H01L2224/16 ,  H01L2224/16245 ,  H01L2224/274 ,  H01L2924/00013 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/07802 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15311 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2924/3512 ,  H01L2924/00

Abstract: 半导体装置是由包含在电路形成面(1X)上具有电极(1C)的半导体芯片(1)，覆盖上述半导体芯片(1)的电路形成面(1X)的树脂(7)，和覆盖与上述半导体芯片(1)的电路形成面(1X)相对的背面(1Y)的树脂薄膜(2)构成的。通过这样的构成，可以防止半导体芯片的龟裂。

公开(公告)号：CN1333921A

公开(公告)日：2002-01-30

申请号：CN99815785.6

申请日：1999-09-14

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 佐佐木雅子 ,  铃木一成 ,  市原诚一 ,  下石智明 ,  中村寿雄 ,  西邦彦 ,  田中英树 ,  中嶋宽

IPC: H01L23/31

CPC classification number: H01L21/6836 ,  H01L23/3107 ,  H01L23/3114 ,  H01L23/3164 ,  H01L23/4951 ,  H01L23/49572 ,  H01L23/49833 ,  H01L23/4985 ,  H01L23/562 ,  H01L24/27 ,  H01L2221/68327 ,  H01L2224/05567 ,  H01L2224/05571 ,  H01L2224/05572 ,  H01L2224/05573 ,  H01L2224/05624 ,  H01L2224/1134 ,  H01L2224/13144 ,  H01L2224/16 ,  H01L2224/16245 ,  H01L2224/274 ,  H01L2924/00013 ,  H01L2924/01029 ,  H01L2924/01079 ,  H01L2924/07802 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/15311 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2224/13099 ,  H01L2924/3512 ,  H01L2924/00

Abstract: 半导体装置是由包含在电路形成面(1X)上具有电极(1C)的半导体芯片(1),覆盖上述半导体芯片(1)的电路形成面(1X)的树脂(7),和覆盖与上述半导体芯片(1)的电路形成面(1X)相对的背面(1Y)的树脂薄膜(2)构成的。通过这样的构成,可以防止半导体芯片的龟裂。