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    用于检查管子的设备和方法
    1.
    发明授权
    用于检查管子的设备和方法 有权

    公开(公告)号：CN103453862B

    公开(公告)日：2018-10-02

    申请号：CN201310150075.3

    申请日：2013-04-26

    Applicant: 波音公司

    Inventor： B·A·菲泽 ,  N·S·格雷瓦尔 ,  P·K-K·黄 ,  W·R·谢尔 ,  K·B·布德罗

    IPC: G01B17/04 ,  G01B17/00

    Abstract: 本发明的名称是用于检查管子的设备和方法。用于检查管状工件(200)的设备可包括探头组合件(150)和旋转机构(122)。探头组合件(150)可包括可邻近管状工件(200)的内表面放置的变换器阵列(150)。探头组合件(150)可产生发送声波并可接收反射声波。旋转机构(122)可以以使得变换器阵列(150)在发送声波(166)的传输过程中在圆周方向(180)上越过内表面(214)的方式，相对于管状工件(200)旋转探头组合件(150)。

    用于可变角度加工部件的非破坏性检查的装置和方法
    3.
    发明公开
    用于可变角度加工部件的非破坏性检查的装置和方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN113030254A

    公开(公告)日：2021-06-25

    申请号：CN202011382565.2

    申请日：2020-12-01

    Applicant: 波音公司

    Inventor： B·A·菲泽 ,  K·谢哈布

    IPC: G01N29/04 ,  G01N29/22 ,  G01N29/265

    Abstract: 本申请题为“用于可变角度加工部件的非破坏性检查的装置和方法”。本文公开一种非破坏性检查装置，其利用偏置的探头壳体来维持与零件的超声耦合。该装置包括附接到具有工具中心点(TCP)的机器人臂的附接主体。该装置还包括：探头组合件，其耦接至附接主体，使得TCP的移动导致探头组合件的相应移动；以及探头壳体，其围绕探头组合件设置并且可移动地耦接至附接主体。该装置还包括设置在附接主体与探头壳体之间的偏置构件，该偏置构件将探头壳体推离附接主体。还公开一种方法，该方法包括：将探头壳体和探头组合件定位在零件附近；超声扫描零件的缺陷；以及相对于附接主体偏置探头壳体以维持零件的接合。

    具有用多中心半径聚焦的圆角表面的结构的超声检查方法
    4.
    发明公开
    具有用多中心半径聚焦的圆角表面的结构的超声检查方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN113281415A

    公开(公告)日：2021-08-20

    申请号：CN202110191204.8

    申请日：2021-02-20

    Applicant: 波音公司

    Inventor： B·A·菲泽 ,  J·P·宾汉姆

    IPC: G01N29/06 ,  G01N29/04 ,  G01N29/26 ,  G01N29/265

    Abstract: 本发明涉及具有用多中心半径聚焦的圆角表面的结构的超声检查方法，多中心半径聚焦用于检查具有变化的半径的圆角部分(10、22)的圆角表面(26)，而不需机械地调整阵列传感器(30、46)。多个聚焦定律经设计在与具有变化的半径的模拟的圆角表面的曲率中心对应的相应焦点处电子地转向和聚焦超声。承载该阵列传感器的机械探针(40)被定位到两个物理位置，这两个物理位置在半径区域的外部并具有小于圆角表面变化的半径而改变的空间关系。随着该探针沿圆角部分移动，该探针维持该阵列传感器处于相对于圆角部分的恒定位置。随着该阵列传感器扫描该圆角部分，对该阵列传感器进行电子调整，以依次地聚焦在相应的焦点处。

    多探针无损检查系统
    5.
    发明公开
    多探针无损检查系统 审中-实审

    公开(公告)号：CN112630481A

    公开(公告)日：2021-04-09

    申请号：CN202011012208.7

    申请日：2020-09-24

    Applicant: 波音公司

    Inventor： J·M·史诺泽奇 ,  B·A·菲泽

    IPC: G01R1/073

    Abstract: 本发明的名称为多探针无损检查系统。本文公开了无损检查系统。该无损检查系统包括运动平台和工具组件。该工具组件连接至运动平台，使得工具组件可相对于运动平台移动。该工具组件包括检查工具组件，该检查工具组件包括连接至工具组件的基础结构和连接至基础结构的多个探针组件。每个探针组件包括第一线性致动器和探针，该探针不同于多个探针组件中的任何其他一个的探针，用于检查结构的不同结构特征。每个探针使用多个探针组件中的相应一个的第一线性致动器，沿第一轴相对于探针中的另一个并且基本垂直于基础结构可移动。

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