用于运行电化学设备的方法,电化学设备

    公开(公告)号:CN119162594A

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202410790181.6

    申请日:2024-06-19

    Abstract: 一种用于运行电化学设备(1)、尤其是电解设备的方法,该电化学设备包括:至少一个堆(2),尤其是电解堆;以及用于电供应的部件(3),堆(2)与用于电供应的部件(3)分开地容纳在填充有气体,尤其空气和/或惰性气体的气密地封闭的体积(4)中,在电化学设备(1)运行期间,体积(4)中的压力(p1)和/或环境中或另一体积(5)中的压力(p2)被设定为压力(p1)小于压力(p2),在另一体积中容纳了用于电供应的部件(3)。本发明还涉及一种电化学设备(1),尤其是电解设备,该设备适用于实施该方法或可根据该工艺运行。

    用于制造微机械构件的方法

    公开(公告)号:CN107986228A

    公开(公告)日:2018-05-04

    申请号:CN201711011247.3

    申请日:2017-10-26

    Abstract: 本发明提出一种用于制造微机械构件的方法,其中,微机械构件包括衬底装置和罩装置,其中,在准备步骤中,使衬底装置和/或罩装置结构化,其中,在第一子步骤中,设定第一压力和/或第一化学组分,并且将衬底装置和罩装置这样相互连接,使得形成相对于微机械构件的周围环境封闭的第一空穴,其中,在第一空穴中存在第一压力和/或包含第一化学组分,其中,在第二子步骤中,设定第二压力和/或第二化学组分,并且衬底装置和罩装置这样相互连接,使得形成相对于微机械构件的周围环境并且相对于第一空穴封闭的第二空穴,其中,在第二空穴中存在第二压力和/或包含第二化学组分。

    用于制造微机械构件的方法

    公开(公告)号:CN107986228B

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN201711011247.3

    申请日:2017-10-26

    Abstract: 本发明提出一种用于制造微机械构件的方法,其中,微机械构件包括衬底装置和罩装置,其中,在准备步骤中,使衬底装置和/或罩装置结构化,其中,在第一子步骤中,设定第一压力和/或第一化学组分,并且将衬底装置和罩装置这样相互连接,使得形成相对于微机械构件的周围环境封闭的第一空穴,其中,在第一空穴中存在第一压力和/或包含第一化学组分,其中,在第二子步骤中,设定第二压力和/或第二化学组分,并且衬底装置和罩装置这样相互连接,使得形成相对于微机械构件的周围环境并且相对于第一空穴封闭的第二空穴,其中,在第二空穴中存在第二压力和/或包含第二化学组分。

    用于制造具有电连接部的硅层系统的方法

    公开(公告)号:CN119731116A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202380060152.8

    申请日:2023-07-10

    Abstract: 一种用于制造硅层系统(310)的方法,包括以下步骤:提供具有表面的载体衬底,其中,载体衬底设有形成在所述表面上的绝缘层;在所述绝缘层上施加第一硅层;将第一硅层结构化,用于在第一硅层中形成沟槽,其中,沟槽至少在局部延伸穿过第一硅层;将第一硅层钝化,其中,沟槽被填充,并且,在第一硅层的背离绝缘层的一侧上形成第一钝化层;将第一钝化层结构化,其中,在第一硅层中形成第一牺牲区域和功能区域,并且,第一牺牲区域在第一硅层的背离绝缘层的一侧上至少在局部没有第一钝化层。从施加起重复这些步骤,由此在另外的硅层中形成牺牲区域和功能区域;接着去除所有牺牲区域。这些步骤实施成,使得形成包括至少一个专用功能区域的电连接部(390),通过所述电连接部能在两个元件(380)之间建立电连接,其中,所述至少一个专用功能区域仅用于电连接部(390)。

    用于制造微机电结构的方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119731115A

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202380060150.9

    申请日:2023-07-20

    Abstract: 一种用于制造微机电结构的方法,包括提供载体衬底(110),其具有中心层(140)和表面以及布置在中心层的一侧上且施加在所述表面上的绝缘层(122);在绝缘层上施加硅层(150a);对硅层进行结构化以形成在局部延伸穿过硅层的沟槽(156);对硅层进行钝化,其中,沟槽被填充并形成钝化层(154);对钝化层进行结构化,其中,形成牺牲区域(153)和功能区域(152),且牺牲区域局部地没有钝化层;去除载体衬底(110)的一部分以形成新表面,并在新表面上形成第二绝缘层(172)。接着,在第二绝缘层上重复施加、结构化和钝化用于第二硅层(180a)并且针对第二钝化层(184)重复结构化而形成牺牲区域和功能区域,并且去除所有牺牲区域。

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