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公开(公告)号：CN112723297A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN201910973824.X
申请日：2019-10-14
Applicant: 苏州市计量测试院
Abstract: 本申请提供一种微纳米级台阶高度样板及其制备方法，该微纳米级台阶高度样板包括基座、台阶结构和防护层；台阶结构设置于基座上；防护层包覆基座和台阶结构，本申请还提供该微纳米级台阶高度样板的制备方法：包括以下步骤：对待加工材料粗切割，形成待处理样板，待处理样板包括基座和台阶结构；对待处理样板进行热处理；对经过热处理的待处理样板进行高精度磨床加工；对经过高精度磨床加工后的待处理样板进行表面黑色磷化处理，得到该微纳米级台阶高度样板；其中，微纳米级台阶高度样板的表面包括防护层。如此，本申请提供的微纳米级台阶高度样板样板表面具有漫反射表面特征，满足激光非接触式和其他类型扫描形式测量仪器的校准需求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112393696B
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN201910739676.5
申请日：2019-08-12
Applicant: 苏州市计量测试院
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明涉及尺寸测量技术领域，具体是一种几何量测量校准的标准装置，包括：底座和至少一个标准球，所述底座包括第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板，所述第一固定板、所述第二固定板、所述第三固定板和所述第四固定板构成梯形结构，所述梯形结构内部设有中空空间；所述第一固定板、所述第二固定板和所述第三固定板均设有至少一个凸台，所述凸台与所述标准球一一对应，每个所述凸台上设有盲孔，所述标准球设置在所述盲孔内；本发明能够采用中空梯形结构，使第一固定板第二固定板、第三固定板形成空间上的错落和高度差，提高成像效果和校准装置的校准的稳定性，统计不同尺寸几何量测量误差，适用性广泛。
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公开(公告)号：CN112393696A
公开(公告)日：2021-02-23
申请号：CN201910739676.5
申请日：2019-08-12
Applicant: 苏州市计量测试院
IPC: G01B15/00
Abstract: 本发明涉及尺寸测量技术领域，具体是一种几何量测量校准的标准装置，包括：底座和至少一个标准球，所述底座包括第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板，所述第一固定板、所述第二固定板、所述第三固定板和所述第四固定板构成梯形结构，所述梯形结构内部设有中空空间；所述第一固定板、所述第二固定板和所述第三固定板均设有至少一个凸台，所述凸台与所述标准球一一对应，每个所述凸台上设有盲孔，所述标准球设置在所述盲孔内；本发明能够采用中空梯形结构，使第一固定板第二固定板、第三固定板形成空间上的错落和高度差，提高成像效果和校准装置的校准的稳定性，统计不同尺寸几何量测量误差，适用性广泛。
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公开(公告)号：CN211346688U
公开(公告)日：2020-08-25
申请号：CN201922213745.7
申请日：2019-12-11
Applicant: 苏州市计量测试院
Abstract: 本实用新型公开了一种光学轴类测量仪的校准装置，包括校准主体以及手柄，校准主体具有相对的第一端面和第二端面，第一端面与第二端面之间设有多个标准圆柱部，多个标准圆柱部的轴径自第一端面向第二端面逐渐增大，校准主体具有中心轴线，标准圆柱部沿着中心轴线旋转对称；手柄的中轴线与校准主体的中心轴线重合，手柄具有相对的第三端面和第四端面，第三端面与第二端面连接。本实用新型的光学轴类测量仪的校准装置通用性强，测量准确度高。
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公开(公告)号：CN211783367U
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN202020383065.X
申请日：2020-03-25
Applicant: 苏州市计量测试院
IPC: G01B21/02
Abstract: 本申请提供一种线缆计米器在线校准装置，包括测量机构、固定机构和数据显示机构；测量机构与固定机构连接；测量机构包括测量轮和光电编码器，光电编码器与测量轮连接；数据显示机构包括控制仪表和显示仪表；控制仪表与光电编码器连接；控制仪表与显示仪表能够通过无线进行数据传输。本申请提供的线缆计米器在线校准装置，将测量轮、光电编码器、固定机构和数据显示机构整合在一起，本校准装置的光电编码器能够将数据传递给数据显示机构的控制仪表，控制仪表与显示仪表能够通过无线进行数据传输，无需每次都要停顿计数，简单方便，集成化程度高，且本申请提供的线缆计米器在线校准装置能够在线检测，测量精度更高。
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公开(公告)号：CN210198334U
公开(公告)日：2020-03-27
申请号：CN201921297941.0
申请日：2019-08-12
Applicant: 苏州市计量测试院
IPC: G01B15/00
Abstract: 本实用新型涉及尺寸测量技术领域，具体是一种几何量测量校准的标准装置，包括：底座和至少一个标准球，所述底座包括第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板，所述第一固定板、所述第二固定板、所述第三固定板和所述第四固定板构成梯形结构，所述梯形结构内部设有中空空间；所述第一固定板、所述第二固定板和所述第三固定板均设有至少一个凸台，所述凸台与所述标准球一一对应，每个所述凸台上设有盲孔，所述标准球设置在所述盲孔内；本实用新型能够采用中空梯形结构，使第一固定板第二固定板、第三固定板形成空间上的错落和高度差，提高成像效果和校准装置的校准的稳定性，统计不同尺寸几何量测量误差，适用性广泛。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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