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公开(公告)号：CN116148543A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202310040603.3
申请日：2023-01-13
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于量子测量系统的谐振腔结构，属于量子测量技术领域，包括金属腔体（1），在所述金属腔体（1）的前侧设置有微波耦合窗（2），在所述金属腔体（1）的左右两侧各设置有一个相互对应的激光光孔（3），在所述金属腔体（1）的内部设置有铯泡（4）；本发明还公开了采用前述的系统进行量子测量的方法；采用本发明的谐振腔结构测量的灵敏度、精确度等明显提高。
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公开(公告)号：CN118624963A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410805562.7
申请日：2024-06-21
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
Abstract: 本发明公开了一种波导微波探针，属于芯片测试设备技术领域，包括探针针尖（1）、探针支架腔体（2）、探针上部左腔体（3）和探针上部右腔体（4），其中，所述探针支架腔体（2）设置有波导通道以及用于所述探针针尖（1）放置的位置，所述探针针尖（1）设置于探针支架腔体（2）前端，所述探针上部左腔体（3）与探针上部右腔体（4）左右相接构成探针主体，在所述探针主体的末端设置用于与波导接口连接的法兰；本发明能够实现超过110GHz的芯片在片测量，并且结构简单，容易实现。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118330275B
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410774093.7
申请日：2024-06-17
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
Abstract: 本发明公开了一种用于深腔测试的射频探针及测试方法，属于射频测试技术领域，包括弹性针尖（1）、微波吸收体（2）、固定座（3）、射频连接器组件（4）和线缆固定支架（5），其中，所述射频连接器组件（4）包括连接器部分和线缆部分，所述弹性针尖（1）设置于线缆部分的末端，所述线缆部分固定于线缆固定支架（5）上，测试方法为先根据测试高度H及测试角度θ设计制作线缆固定支架（5），再将所述射频连接器组件（4）的线缆部分弯折至与所述线缆固定支架（5）重合，然后再用紧固胶固定；本发明解决了特殊测试情况常规探针无法满足测试的问题，减少芯片排版设计压力，提升了芯片设计的灵活性。
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公开(公告)号：CN118330275A
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202410774093.7
申请日：2024-06-17
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
Abstract: 本发明公开了一种用于深腔测试的射频探针及测试方法，属于射频测试技术领域，包括弹性针尖（1）、微波吸收体（2）、固定座（3）、射频连接器组件（4）和线缆固定支架（5），其中，所述射频连接器组件（4）包括连接器部分和线缆部分，所述弹性针尖（1）设置于线缆部分的末端，所述线缆部分固定于线缆固定支架（5）上，测试方法为先根据测试高度H及测试角度θ设计制作线缆固定支架（5），再将所述射频连接器组件（4）的线缆部分弯折至与所述线缆固定支架（5）重合，然后再用紧固胶固定；本发明解决了特殊测试情况常规探针无法满足测试的问题，减少芯片排版设计压力，提升了芯片设计的灵活性。
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公开(公告)号：CN116338549A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310248281.1
申请日：2023-03-15
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种非对称共面波导校准件，包括短路标准件、开路标准件、负载标准件和直通标准件，短路标准件包括同轴设置的第一矩形部和第二矩形部，第一矩形部为金属电路图形制成的信号线，第二矩形部为金属电路图形制成的地线，以第一矩形部和第二矩形部同轴的方向为y轴建立坐标系，则x轴为第一矩形部和第二矩形部的宽度方向，两矩形部宽度均大于等于针尖宽度，且第二矩形部长度至少为第一矩形部长度的两倍；开路标准件、负载标准件、直通标准件均在短路标准件基础上制得。本发明能解决了非对称探针的探针校准问题，其校准效果在10MHz‑40GHz范围内，回波损耗小于‑20dB，插入损耗小于0.5dB，表现出良好直通的性能，表明上述校准准确，可以用于实际测试。
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公开(公告)号：CN115739786A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211323068.4
申请日：2022-10-27
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
Abstract: 本发明公开了一种干湿结合的探针清洗方法，属于集成电路测试领域，包括：（1）电镀前依次进行超声清洗和等离子体清洗，（2）组装后进行超声清洗；本发明的方法具有工艺成熟，速度快、成本低、效率高且一致性好等优点，适合大批量生产，同时可以有效增强探针弹性件表面膜层结构强度，探针高频次测试（＞50万次）结果证明膜层结构完好，增强探针的可靠性；并且，能够提高探针制作的一致性，提升探针性能，为更高频微波探针制作奠定基础。
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公开(公告)号：CN221446175U
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202323299005.2
申请日：2023-12-05
Applicant: 西南应用磁学研究所(中国电子科技集团公司第九研究所)
IPC: G01R1/067
Abstract: 本实用新型公开了一种宽频同轴探针，属于微波器件测试领域，包括支架（1）和射频连接器（2），所述支架（1）上设置有安装孔（3），所述安装孔（3）内侧设置有安装耳轨道（4），所述射频连接器（2）的外周设置有与所述安装耳轨道（4）对应的安装耳（5）；本实用新型的宽频同轴探针安装/维修更方便，且无需焊接或铆压就可实现防止旋转效果，防止焊接/解焊过程的高温造成连接器内部变形及损坏。
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