一种实时监测功率模块封装老化模式的方法及相关装置

    公开(公告)号:CN119511015A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411532376.7

    申请日:2024-10-30

    Abstract: 本发明公开了一种实时监测功率模块封装老化模式的方法及相关装置,属于电力电子器件技术领域。本方法根据功率模块的结构,建立不同封装老化模式下对应的热网络模型,找到不同封装老化模式对应的频率分离点;设置测试频率,采集功率模块的导通压降和逆变电路负载电流;根据键合线脱落,焊层疲劳,散热系统老化等不同老化模式会导致导通压降滞回曲线偏移或旋转,分析导通压降滞回曲线的差异性,确定功率模块的封装老化模式。采用本方法能够实现实时监测功率模块的封装老化模式,有效区分老化原因,进而准确采取维护措施,避免严重故障发生,有助于降低维护成本;同时通过及时监测和修复封装老化问题,可以提升整个系统的可靠性和稳定性。

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