等离子体处理系统和方法

    公开(公告)号:CN1158404C

    公开(公告)日:2004-07-21

    申请号:CN00800061.1

    申请日:2000-01-10

    Abstract: 一种基片处理系统包括处理室(10)、设置在该室中的基片支架(12)、该室输送生成气体的气源(54)、位于该室中的至少一个离子源(20)和能量源,该能量源通过对阳极(30)施加正偏压和阴极(32)施加负偏压来给离子源输送能量,在每个实例中偏压都是相对于该室的。离子源使生成气体离子化以产生用于处理设置在室中的基片支架上的基片的离子。一个实施例包括两个这种离子源。在这种情况下,能量源以时分多路的方式给第一和第二阳极(30,40)和阴极(32,42)提供能量,以使在任何时候仅有一个第一或第二离子源通电,因而消除了离子源之间的相互作用。

    等离子体处理系统和方法

    公开(公告)号:CN1293717A

    公开(公告)日:2001-05-02

    申请号:CN00800061.1

    申请日:2000-01-10

    Abstract: 一种基片处理系统包括处理室(10)、设置在该室中的基片支架(12)、该室输送生成气体的气源(54)、位于该室中的至少一个离子源(20)和能量源,该能量源通过对阳极(30)施加正偏压和阴极(32)施加负偏压来给离子源输送能量,在每个实例中偏压都是相对于该室的。离子源使生成气体离子化以产生用于处理设置在室中的基片支架上的基片的离子。一个实施例包括两个这种离子源。在这种情况下,能量源以时分多路的方式给第一和第二阳极(30,40)和阴极(32,42)提供能量,以使在任何时候仅有一个第一或第二离子源通电,因而消除了离子源之间的相互作用。

    等离子体加工系统和方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1397151A

    公开(公告)日:2003-02-12

    申请号:CN01804421.2

    申请日:2001-01-23

    Abstract: 一种基片加工系统包括一个加工腔(10),一个安置在腔内的电浮置的基片支撑架(12),一个为该腔提供处理气体的气体源(54),至少一个位于腔内离子源(20),与一个以一个脉冲序列使阳极(40)正偏和阴极(22)负偏给离子源提供能量的电源19(b),该脉冲序列具有可选择变化的占空因数和大小,以保持一个选择的时间平均电流,每个情况下的偏置都是相对于腔而言的。离子源(20)电离处理气体,产生离子以加工放置在腔内浮置的基片支撑架(12)上的基片。浮置基片上的偏置电压与它上面的净电荷一致,而净电荷受高能电子束流控制。一种实施方案包括两个这样的离子源(22,42)。在这种情况下,电源以一种时间复用的方式给第一和第二阳极(30,40)以及阴极(22,42)提供能量,以致在任何时间内只有第一或者第二离子源中的一个被提供能量,从而消除了离子源之间的相互作用。

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