Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop

    公开(公告)号:DE10231776B4

    公开(公告)日:2021-07-22

    申请号:DE10231776

    申请日:2002-07-13

    Abstract: Verfahren zur Scanmikroskopie, umfassend folgende Schritte:• Beleuchten einer Probe (23), die zumindest einen Fluoreszenzfarbstoff enthält, mit Beleuchtungslicht,• Detektieren des von Rasterpunkten der Probe (23) ausgehenden Detektionslichtes mit einem Spektraldetektor (29), der für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt,• Ermitteln eines Amplitudenwertes zu jedem Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten und• Übertragen der Amplitudenwerte an ein Verarbeitungsmodul (39), dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine in der Probe (23) enthaltene Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten durch Vergleichen der Spektraldaten mit in einem Speichermodul (35) für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten ermittelt wird, und• nach der Übertragung der Amplitudenwerte an das Verarbeitungsmodul (39) die Spektraldaten in dem Verarbeitungsmodul (39) aus den übermittelten Amplitudenwerten rekonstruiert werden.

    Vorrichtung zur Montage für mehrere Laser und Mikroskop

    公开(公告)号:DE102005059650B4

    公开(公告)日:2011-08-18

    申请号:DE102005059650

    申请日:2005-12-14

    Abstract: Vorrichtung zur Montage für mehrere Laser (16a, 16b, 16c), wobei eine Lichtleitfaser (20) Licht der mehreren auf einer Montageplatte (15) befestigten Laser (16a, 16b, 16c) zu einem optischen System (10) führt, wobei eine Vereinigungseinheit (18) auf der Montageplatte (15) befestigt ist, die Vereinigungseinheit (18) mehrere Eingangsports (18a, 18b, 18c) aufweist, jeder Laser (16a, 16b, 16c) einen Ausgang (25a, 25b, 25c) für Licht aufweist, jeder Laser (16a, 16b, 16c) derart auf der Montageplatte (15) montiert ist, dass der jeweilige Ausgang (25a, 25b, 25c) eines Lasers mit dem jeweils zugehörigen Eingangsport (18a, 18b, 18c) der Vereinigungseinheit (18) kollinear ist, die Vereinigungseinheit (18) das Licht der mehreren Laser (16a, 16b, 16c) zu einem einzigen Strahl (30) vereinigt und die Montageplatte (15) eine Oberseite und eine Unterseite ausgebildet hat, wobei die Oberseite (15a) die Vereinigungseinheit und die mehreren Laser, und die Unterseite mindestens einen weiteren Laser trägt.

    Scanmikroskop mit Manipulationslichtstrahl und Verfahren zur Scanmikroskopie

    公开(公告)号:DE10233549B4

    公开(公告)日:2021-10-14

    申请号:DE10233549

    申请日:2002-07-23

    Abstract: Scanmikroskop mit einer Lichtquelle, die einen Beleuchtungslichtstrahl zum Beleuchten einer Probe emittiert, der entlang eines Beleuchtungsstrahlenganges verläuft und der mit einer Strahlablenkeinrichtung über oder durch die Probe führbar ist, und mit einem Detektor, der von der Probe ausgehendes Detektionslicht, das entlang eines Detektionsstrahlenganges verläuft, empfängt, und mit einer weiteren Lichtquelle, die einen Manipulationslichtstrahl, der entlang eines Manipulationsstrahlenganges verläuft, erzeugt, wobei der Manipulationslichtstrahl ebenfalls von der Strahlablenkeinrichtung über oder durch die Probe führbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Manipulationslichtstrahl dem Beleuchtungslichtstrahl durch Einstellen des Winkels zwischen dem Beleuchtungslichtstrahl und dem Manipulationslichtstrahl vorauseilend geführt ist.

    Verfahren zur Einstellung der Systemparameter eines Rastermikroskops und Rastermikroskop

    公开(公告)号:DE10229407B4

    公开(公告)日:2021-10-14

    申请号:DE10229407

    申请日:2002-06-29

    Inventor: STORZ RAFAEL DR

    Abstract: Verfahren zur Einstellung der Systemparameter eines Rastermikroskops, wobei die mit dem Rastermikroskop durchgeführte Bildaufnahme eines Objekts von einem Steuerrechner gesteuert wird, dadurch gekennzeichnet, dass nach einer Bildaufnahme des Objekts von einem Benutzer mindestens ein Bildqualitätsmerkmal eingestellt wird, das von dem Steuerrechner mittels inverser Rechenoperationen, wobei die technischen Zusammenhänge zwischen Systemparametern und Bildqualitätsmerkmalen berücksichtigt werden, in mindestens einen verändert einzustellenden Systemparameter des Rastermikroskops umgerechnet wird, wobei der Wert der aktuell eingestellten Bildqualitätsmerkmale angezeigt wird.

    Scanmikroskop
    7.
    发明专利

    公开(公告)号:DE10115590B4

    公开(公告)日:2020-11-05

    申请号:DE10115590

    申请日:2001-03-29

    Abstract: Scanmikroskop (1) mit einem Laser (2), der einen Lichtstrahl einer ersten Wellenlänge (5, 43, 53) emittiert, der auf ein optisches Element (9) gerichtet ist, das die Wellenlänge des Lichtstrahles zumindest zum Teil verändert, und mit einem Mittel (16) zur Unterdrückung des Lichtes der ersten Wellenlänge in dem in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahl (15, 47, 57),wobei das optische Element (9) aus Photonic-Band-Gap-Material besteht und als Lichtleitfaser (11) ausgestaltet ist zur Veränderung der Wellenlänge derart, dass ein breites Spektrum entsteht, undwobei das Mittel (16) zur Unterdrückung ein Filter (17) ist, den der in der Wellenlänge veränderte Lichtstrahl durchläuft und der in dem in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahl die Leistung des Lichtanteils im Bereich der ersten Wellenlänge auf das Niveau der übrigen Wellenlängen des in der Wellenlänge veränderten Lichtstrahls reduziert.

    Scanmikroskop
    9.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102004058565B4

    公开(公告)日:2022-04-21

    申请号:DE102004058565

    申请日:2004-12-03

    Abstract: Scanmikroskop mit einer Scaneinrichtung (1), einer Detektionseinrichtung (2), einer Elektronik (3) zum Betreiben des Scanmikroskops und einer Kühleinrichtung (4) für die Scaneinrichtung (1) und die Detektionseinrichtung (2), wobei die Kühleinrichtung (4) mit einem flüssigen Kühlmedium betreibbar ist, wobei die Kühleinrichtung (4) ein oder mehrere an zu kühlende Stellen der Scaneinrichtung (1) und der Detektionseinrichtung (2) angekoppelte Module oder Kühlmodule (6) aufweist und wobei das oder die Module oder Kühlmodule (6) mittels des Kühlmediums durchströmbar sind.

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