-
公开(公告)号：CN104603588A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201480002262.X
申请日：2014-02-26
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 白岩久治
IPC: G01J3/02
Abstract: 一种分光光度计，其特征在于，包括：光检测部，其将所接收的光转换为电信号并输出；电路部，其包括多个增益放大器和多个AD转换器，对来自所述检光检测部的输出信号使用所述多个增益放大器以多个增益进行放大，并使用所述多个AD转换器转换为数字信号，作为多个光量数据予以输出；饱和判定部，其判定来自所述电路部的各光量数据是否饱和；以及测量结果计算部，其根据所述饱和判定部的判定结果，使用所述多个光量数据中的一部分或者全部的光量数据计算所述所接收的光的测量结果。
-
公开(公告)号：CN103575508A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310030361.6
申请日：2013-01-25
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置，包括内壁具有反射面的半球部以及平面部，该平面部被配置成堵塞半球部的开口，在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗，该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗，该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置，用于从半球部的内部取出光。
-
公开(公告)号：CN103364177A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201310058976.X
申请日：2013-02-25
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 江南世志
IPC: G01M11/02
CPC classification number: G01J1/4257 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4228 , G01J3/505 , G01J3/51 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种用于测量光源的配光特性的配光特性测量装置和配光特性测量方法。配光特性测量装置包括以具有规定的相对关系的方式配置的多个检测器。一个检测器的检测范围的至少一部分与邻接的其它检测器的检测范围重复。配光特性测量装置还包括：驱动单元，其将多个检测器作为一体来进行驱动，由此更新多个检测器相对于光源的位置关系；以及计算单元，其根据由多个检测器在相同的时刻获取到的各个检测结果，进行与多个检测器的相对关系和检测范围的重复中的至少一方相应的处理，计算光源的配光特性。
-
公开(公告)号：CN103292978A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310054909.0
申请日：2013-02-20
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
CPC classification number: F21V21/14 , G01J1/0223 , G01J1/0228 , G01J1/0242 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供光源支承装置及采用该光源支承装置的光辐射特性测定装置。该光源支承装置包括：基座部；第1支承部，其用于将基座部能够绕第1轴旋转地支承；第1臂部和第2臂部，其分别连接于基座部的两端，沿着与第1轴平行的方向延伸；一对第2支承部，其设置在第1臂部和第2臂部的彼此面对的各个位置，用于支承被测定光源。一对第2支承部构成为使所支承的被测定光源能够绕与第1轴垂直的第2轴旋转。第1臂部和第2臂部中的至少一个臂部相对于基座部装卸自如。
-
公开(公告)号：CN102954765A
公开(公告)日：2013-03-06
申请号：CN201210285463.8
申请日：2012-08-10
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01B11/06 , G01B11/0625 , G01B11/0641 , G01N21/211 , G01N2021/213
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置以及光学特性测量方法。光学特性测量装置(100)具备光源(10)、检测器(40)以及数据处理部(50)。数据处理部(50)具备建模部、分析部以及拟合部。将多个膜模型方程式联立，假设包含在多个膜模型方程式中的光学常数相同来进行规定的运算，通过进行将算出的膜的膜厚以及光学常数代入膜模型方程式而获得的波形与由检测器(40)获取的波长分布特性的波形的拟合来判定包含在多个膜模型方程式中的光学常数是否相同，由分析部算出的膜的膜厚以及光学常数是否为正确的值。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101277457A
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200810087451.8
申请日：2008-03-28
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种运动图像处理装置以及方法，使用电照相机(3a)多次拍摄在判定对象显示器(2)的显示画面(21)上移动的运动图像。所拍摄的数据由在判定对象显示器(2)的运动图像移动方向的位置以及这些各时刻中的显示器的发光亮度的信息组成。根据该数据，进行眼睛的运动图像跟踪模拟，通过沿着该眼睛的跟踪方向用(1)帧时间的整数倍进行积分计算，由此求判定对象显示器(2)的运动图像应答曲线。根据该运动图像应答曲线，能够进行运动图像特性评价、运动图像模糊评价。
-
公开(公告)号：CN101035304A
公开(公告)日：2007-09-12
申请号：CN200710085086.2
申请日：2007-02-28
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: H04N17/04 , H04N9/3117 , H04N9/3194
Abstract: 本发明提供一种活动图像响应曲线的测定方法及其装置，在测定对象显示器(5)中使图像滚动，并用彩色摄影机(3)跟踪拍摄上述滚动着的活动图像以取得活动图像跟踪图像，并将使用了基于上述活动图像跟踪图像而得到的感光强度数据的彩色活动图像响应曲线变换成使用了测定对象显示器(5)的显示元件的发光强度的彩色活动图像响应曲线。能够逐个构成颜色地分解活动图像跟踪图像的边缘的差色，并进行色调变化的客观的定量评价。
-
公开(公告)号：CN1296684C
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN01813502.1
申请日：2001-07-05
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 稻本直树
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0262 , G01J3/2803
Abstract: 按照本发明的光谱检测设备，包括光电检测器(13)和覆盖该光电检测器(13)光接收表面(13a)的透光板(13b)，又在该设备中，透光板(13b)的前表面(S)是倾斜的，且在入射光中，一旦被透光板(13b)后表面(T)反射的任何光，此后的传播都被透光板(13b)的前表面(S)和后表面(T)全反射，射向透光板(13b)的侧表面(13d)。任何杂散光都能够被阻止进入光电检测器(13)。
-
公开(公告)号：CN1700779A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN200510073705.7
申请日：2005-05-20
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 岡宏一
IPC: H04N17/00
Abstract: 使测定图形在显示器上移动，使图像传感器的视野跟踪所述测定图形的移动，并对测定图形的图像进行摄影。根据该摄影的图像，求活动图像响应曲线。接着，将获得的活动图像响应曲线变换为MTF(Modulation Transfer Function)。求从所述MTF的最亮部分以规定比例开始下降时的标准化的空间频率的值N_Sf(a％)。用所述标准化的空间频率的值N_Sf(a％)，评价显示器的活动图像质量。用直观上理解容易的活动图像质量评价指标，可以评价显示器的活动图像质量。
-
公开(公告)号：CN1136433C
公开(公告)日：2004-01-28
申请号：CN99813471.6
申请日：1999-09-20
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G02F1/13 , G02F1/1337
CPC classification number: G02F1/1309 , G01B11/06 , G01B11/14 , G02F2001/133742
Abstract: 一种垂直定位的液晶板的单元间隙的测量方法和测量装置。光线以相对于VA(垂直定位的)液晶板的一个角度入射，该液晶板的表面垂直于液晶分子的光轴，因此人为产生只归因于液晶层的双折射。这就允许VA液晶的厚度(单元间隙)能被精确地测量。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
143
records
(took 0.048 seconds)
