公开(公告)号：CN102800366A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201210169924.5

申请日：2012-05-28

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 葭叶一道 ,  大岛广美

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56012 ,  G11C29/028

Abstract: 提供一种精度很好地测试收发数据信号和时钟信号的被测试器件的测试装置，该测试装置具有：对被测试器件供给数据信号及时钟信号作为测试信号的测试信号供给部；以被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号的数据取得部；根据数据取得部取得的数据信号与期望值比较得到的比较结果判断被测试器件的好坏的判断部；以及在调整的时间中，调整用于生成取得数据信号的时序的时钟信号的延迟量的调整部。

公开(公告)号：CN101946313B

公开(公告)日：2012-09-26

申请号：CN200880127099.4

申请日：2008-03-26

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 甲元芳雄 ,  梅村芳春

IPC: H01L21/66 ,  G01R1/073 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R1/07378 ,  G01R31/2831

Abstract: 本发明提供一种与具有多个半导体芯片的半导体晶片电连接的探针晶片。该探针晶片包括：具有晶片连接面并在晶片连接面的背面形成的装置连接面的间距变换用晶片基板；形成在间距变换用晶片基板的晶片连接面，对各个半导体芯片至少每一芯片设置一个，并与对应的半导体芯片的输入输出端子电连接的多个晶片侧连接端子；在晶片基板的装置连接面与多个晶片侧连接端子一一对应，以与晶片侧连接端子不同的间距而形成，用于与外部的装置电连接的多个装置侧连接端子；以及用于将对应的晶片侧连接端子与装置侧连接端子电连接的多个传输电路。

公开(公告)号：CN101145770B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN200710143083.X

申请日：2007-08-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 藤田和宽 ,  须田昌克 ,  莲见卓也

IPC: H03K5/13 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/3016

Abstract: 本发明提供一种延迟电路、测试装置、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。

公开(公告)号：CN102460194A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN200980160165.2

申请日：2009-06-29

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 小塚纪义

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/31924 ,  G01R31/31726

Abstract: 本发明提供一种测试装置，用于测试被测试器件，其包括：第一端子群组和第二端子群组，其具有向被测试器件输出信号的多个驱动器；第一共用设定部，其共用地设定从第一端子群组中的一驱动器和第二端子群组中的一驱动器输出的信号的延迟量；以及群组间调整部，其基于第一共用设定部在第一端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值，及第一共用设定部在第二端子群组内调整基准相位时所设定的延迟量设定值，来拉近从第一端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位与从第二端子群组内的多个驱动器输出的信号的基准相位。

公开(公告)号：CN101238566B

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN200580051329.X

申请日：2005-08-18

Applicant: 爱德万测试株式会社 ,  国立大学法人东北大学

Inventor： 冈安俊幸 ,  须川成利 ,  寺本章伸

IPC: H01L21/66 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC classification number: H01L23/544 ,  G01R31/31718 ,  G11C2029/4402 ,  H01L21/76254 ,  H01L22/14 ,  H01L2223/5444 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T29/49004 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。

公开(公告)号：CN102435939A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201110256764.3

申请日：2011-09-01

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 桥本伸一

IPC: G01R31/327 ,  G01R31/12

CPC classification number: G01R31/2617 ,  G01R31/2839

Abstract: 本发明提供一种测试被测试器件的测试装置，包括：电源部，其向被测试器件提供电源电力；比较部，其检出表示所述被测试器件的状态的特性值，将特性值与预定的阈值进行比较；阻断部，其根据在比较部上的比较结果，阻断电源部向被测试器件提供的所述电源电力；以及控制部，其改变在比较部上的阈值或用于检出特性值的检出时序中的至少一方。

公开(公告)号：CN102197313A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN200980142610.2

申请日：2009-10-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 安高刚 ,  小岛昭二

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2874

Abstract: 设置有彼此相对配置的第1测试基板及第2测试基板；设置在所述第1测试基板中的与所述第2测试基板对着的面上，测试被测试器件的第1测试电路；设置在第2测试基板中的与第1测试基板对着的面上，测试被测试器件的第2测试电路；通过密闭第1测试基板及第2测试基板之间的空间，将第1测试电路及第2测试电路密闭在共同的空间内，且在共同的空间填充冷却材料的密闭部。

公开(公告)号：CN101231325B

公开(公告)日：2011-08-31

申请号：CN200810006859.8

申请日：2004-03-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 市吉清司

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/318342 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/31907

Abstract: 一种测试装置(10)，具备有数个测试模组(150a～g)、数个分站控制装置(130)以及连接设定装置(140)。其中数个测试模组(150a～g)与数个受测元件(100)的任何一个连接，并供给测试信号给受测元件(100)。分站控制装置(130)控制数个测试模组(150a～g)，且分别并行测试数个受测元件(100)。连接设定装置(140)以数个分站控制装置(130)分别连接于各个受测元件(100)的方式，设定数个分站控制装置(130)与数个测试模组(150a～g)的连接形式。

公开(公告)号：CN102165327A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN200980137681.3

申请日：2009-09-18

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 森川昭夫

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/318335 ,  G01R31/31921

Abstract: 本发明公开了一种测试模块，包括：压缩信息存储部(118)，存储对应图案列及识别图案列的图案列识别信息的压缩信息；基本图案存储部(106，108)，将多个图案列数据作为一群基本图案存储，该图案列数据将与命令对应包含所述图案列或者所述图案列识别信息；存储指示信息的指示信息存储部(114)；读出图案列数据的基本图案读出部(200)；图案列读出部(210)，当在图案列数据中包含图案列识别信息时，参照压缩信息，读出与图案列识别信息对应的图案列；图案输出部(220，240)，将图案列数据中包含的图案列或与图案列识别信息对应的所述图案列，重复次数信息指定的重复次数后输出。

公开(公告)号：CN102132166A

公开(公告)日：2011-07-20

申请号：CN200980133261.8

申请日：2009-08-27

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 泷泽茂树

IPC: G01R31/28 ,  G01R35/00

CPC classification number: G01R31/31725

Abstract: 本发明提供一种布线基板，其用于测定通过将包含第1信号和第2信号的测试信号提供给被测试设备来测试被测试设备的测试装置中的输出管脚之间的偏差，其包括：与应输出第1信号的第1输出管脚耦连的第1端子；与应输出第2信号的第2输出管脚耦连的第2端子；将第1端子和第2端子二者连接起来的连接节点；连接于测量输入信号的过渡定时的定时测量电路的输出节点；连接第1端子和连接节点的第1布线；连接第2端子和连接节点的第2布线；以及连接连接节点和输出节点的第3布线；其中，第1布线和第2布线被形成得长度相同。