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公开(公告)号：CN113490525A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201980092950.2
申请日：2019-02-25
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 实现能够通过有限个数的光检测器正确地检测发光元件的光量的紧凑的光动力治疗装置。本公开的光动力治疗装置包括：发光部(112、112)，具备多个光源(110)，所述多个光源(110)分别属于多个组中的某一个组；光检测器(120X、120Y)，输出与来自1个以上的所述光源(110)的光的光接收量对应的电信号；发光控制部(160)，使所述多个光源(110)按照每个所述组依次发光；及运算部(151)，基于与属于所述各组的1个以上的所述光源(110)和所述光检测器(120X、120Y)之间的距离相关的距离系数以及与来自属于该组的1个以上的所述光源的光对应地由所述光检测器(120X、120Y)输出的所述电信号的值，计算与属于所述各组的1个以上的所述光源的光量相关的组光量值。
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公开(公告)号：CN113390353A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110268504.1
申请日：2021-03-12
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 稻也大辅
Abstract: 本发明涉及光学测定方法、光学测定装置及光学测定程序。其技术问题是使用简易的测定机构测定分光光谱，确定该分光光谱中包括的峰值或谷值的次数并且测定准确的延迟。本发明的光学测定方法，包括：对样品测定分光光谱的步骤；使用第一波长色散公式按峰值或谷值表示的每个波长计算样品的厚度，并且在基于计算出的厚度的评价值最大的条件下，临时决定第一波长色散公式所包括的系数的步骤；在多种条件下设定特定的峰值的次数，根据设定的多个条件，计算第二波长色散公式的步骤；基于包括临时决定的系数的第一波长色散公式和第二波长色散公式，确定特定的峰值的次数，并且基于确定的次数和第二波长色散公式，正式决定系数的步骤；计算延迟的步骤。
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公开(公告)号：CN112710634A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011144739.1
申请日：2020-10-23
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 田口都一
Abstract: 一种能更准确地测量测量对象物的透射率或反射率的光学测量装置及光学测量方法。光学测量装置具备：照射光学系统，向对象区域以直线状照射包含多个波长的照射光；受光光学系统，接收通过向对象区域照射照射光而从对象区域产生的作为透射光或反射光的测量光；以及计算部，基于受光光学系统中的测量光的受光结果生成受光光谱并基于生成的受光光谱计算出配置于测量区域的测量对象物的每一波长下的透射率或反射率，计算部根据基于从不存在测量对象物时的测量区域产生的测量光的第一基准光谱、基于从非测量区域产生的测量光的第二基准光谱以及基于从存在测量对象物时的测量区域产生的测量光的测量光谱，计算出测量对象物的透射率光谱或反射率光谱。
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公开(公告)号：CN105890746B
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201610086088.2
申请日：2016-02-15
Applicant: 大塚电子株式会社
Abstract: 提供一种即使是指向性强的光源也能够以更高的精度测量该光源的配光特性的配光特性测量装置以及配光特性测量方法。配光特性测量装置包括：摄像部，其被配置为与光源分离规定距离；移动机构，其在维持光源与摄像部之间的距离的状态下，使摄像部相对于光源的位置关系连续变化；以及处理单元，其计算光源的配光特性。处理单元获取在第一摄像条件下拍摄到的多个图像数据以及在与第一摄像条件不同的第二摄像条件下拍摄到的多个图像数据，并且根据在第一摄像条件下以及在第二摄像条件下拍摄到的图像数据所包含的与关注相对位置对应的第一图像信息以及第二图像信息，来决定与关注相对位置对应的校正后的图像信息。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111257229A
公开(公告)日：2020-06-09
申请号：CN202010087557.9
申请日：2016-07-07
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供一种光学测定装置，具备：光纤，其用于将来自光源的光引导至壳体；检测元件，其配置在所述壳体的内部；衍射光栅，其用于将来自所述光源的光引导至所述检测元件；冷却机构，其至少局部与所述检测元件接合，用于冷却所述检测元件；温度调节机构，其用于使所述壳体的内部空间的温度维持为固定；以及隔热机构，其配置在所述壳体的周围，用于减少热从所述壳体的周围向所述壳体内的侵入，其中，所述冷却机构包括：基部，其形成所述壳体的一部分，并且用于支承所述检测元件；第一电子冷却元件，其配置在所述基部的内部；以及冷却翅片，其经由接合层接合于所述基部的外表面。
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公开(公告)号：CN110954301A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201910910100.0
申请日：2019-09-25
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
Abstract: 本申请涉及测定系统及测定方法。测定系统包括：积分器，具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗；受光器，通过在离开试样窗规定距离的位置形成的观测窗，测定积分器的照度；挡板，配置于连结积分器内的试样窗和观测窗的光学路径上；以及处理装置，通过处理从受光器输出的测定值来计算出光学特性。入射窗构成为能选择来自配置于积分器的外部的第一光源的光的向积分器内的导入和切断。试样窗构成为能选择性地装接反射率已知的漫反射构件和第二光源。
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公开(公告)号：CN110500964A
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201910414006.6
申请日：2019-05-17
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01B11/06
Abstract: 一种厚度测定装置及方法，谋求提高测定配置于一对探头间的基板厚度的厚度测定装置的测定精度。该装置包括：第一探头，输出与到测定对象的表面的距离相关的第一测定信号；第二探头，输出与到测定对象的背面的距离相关的第二测定信号；运算部，计算出配置于第一探头与第二探头之间的测定试样的厚度。运算部在第一探头与第二探头间配置有基准试样的状态下，基于第一测定信号算出第一距离，基于第二测定信号算出第二距离，在第一探头与第二探头间配置有测定试样的状态下，基于第一测定信号算出第三距离，基于第二测定信号算出第四距离，将基准试样的厚度、第一距离和第二距离设为加法要素，将第三距离和第四距离设为减法要素，算出测定试样的厚度。
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公开(公告)号：CN107806898A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201710807755.6
申请日：2017-09-08
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0218 , G01J3/0221 , G01J3/0264 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J2003/2876 , G01N21/274 , G01N21/359 , G01D21/02 , G01D3/036
Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。
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