用於可靠極紫外線功率量測之切線入射反射之最小化技術
    117.
    发明专利
    用於可靠極紫外線功率量測之切線入射反射之最小化技術 审中-公开
    用于可靠极紫外线功率量测之切线入射反射之最小化技术

    公开(公告)号:TW201608576A

    公开(公告)日:2016-03-01

    申请号:TW104124119

    申请日:2015-07-24

    Abstract: 一種光源包括一光產生腔室及置設於該光產生腔室中之一集光器。經組配以將一定量的靶材朝向一照射區域推進之一靶材產生器置設於該集光器之一反射性表面前方。多個光偵測器模組置設於該光產生腔室外,其中該等光偵測器模組中之每一者朝向該照射區域定向。多個管置設於一對應光偵測器模組與該照射區域之間。每一管具有朝向該照射區域定向之一中心線,且每一管具有一粗糙化內表面。該粗糙化內表面之表面粗糙度足以使光之切線入射消除而非反射離開該粗糙化內表面。亦描述一種產生光之方法及一種量測光能之方法。

    Abstract in simplified Chinese: 一种光源包括一光产生腔室及置设于该光产生腔室中之一集光器。经组配以将一定量的靶材朝向一照射区域推进之一靶材产生器置设于该集光器之一反射性表面前方。多个光侦测器模块置设于该光产生腔室外,其中该等光侦测器模块中之每一者朝向该照射区域定向。多个管置设于一对应光侦测器模块与该照射区域之间。每一管具有朝向该照射区域定向之一中心线,且每一管具有一粗糙化内表面。该粗糙化内表面之表面粗糙度足以使光之切线入射消除而非反射离开该粗糙化内表面。亦描述一种产生光之方法及一种量测光能之方法。

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