载板及其制作方法
    121.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102730626A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201110342829.6

    申请日:2011-10-25

    Abstract: 本发明提供一种载板的制作方法,其中载板用于微机电感测装置,载板的制作方法包括下列步骤:提供第一基板,其中第一基板包括第一金属层、第一介电层及第一开孔;提供第二基板,其中第二基板包括第二金属层、第二介电层及第二开孔,其中第一开孔与第二开孔的面积及位置相对应;提供网状元件;压合第一基板、网状元件及第二基板以形成复合板,其中第一开孔及第二开孔形成通孔,网状元件位于通孔之间;以及于复合板中形成至少一导通孔。

    微机电系统结构
    125.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102452635A

    公开(公告)日:2012-05-16

    申请号:CN201110002502.4

    申请日:2011-01-07

    CPC classification number: B81B3/0072 B81B2201/0257 H04R19/005

    Abstract: 本发明公开一种微机电系统结构,其包含衬底、结构状的电介质层以及振动膜的MEMS结构。结构状的电介质层安置于衬底的上方。振动膜由结构状的电介质层固持于周边端部处。振动膜包含位于周边区域处且围绕振动膜的中心区域的多个沟槽/脊环。皱状结构位于振动膜的中心区域处,由沟槽/凹痕环所围绕。本发明能够有效吸收残余应力,且该振动膜能提高对于空气压力的灵敏度。

    半导体装置的制造方法
    129.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102161471A

    公开(公告)日:2011-08-24

    申请号:CN201110060035.0

    申请日:2007-05-29

    Abstract: 本发明公开了一种半导体装置的制造方法。目的在于:当制造具有脆弱部分的结构的半导体装置时,在避免对半导体装置造成损坏的情况下进行切割。本发明的半导体装置(100)的制造方法,包括:工序(a),在具有多个芯片的半导体晶片(101)中的各个芯片的规定区域上形成振动膜(103);工序(b),将含有位于各个芯片的振动膜(103)上的牺牲层(113)的中间膜(102)形成在半导体晶片上;工序(c),在中间膜(102)上形成固定膜(104);工序(d),通过对半导体晶片(101)进行刀片切割,来将各个芯片(100a)分开;以及工序(e),通过对各个芯片(100a)进行蚀刻,来除去牺牲层(113),在振动膜(103)与固定膜(104)之间设置空隙。

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