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公开(公告)号：CN105190262B
公开(公告)日：2018-07-03
申请号：CN201480009125.9
申请日：2014-02-19
Applicant: 新加坡国立大学
Inventor： 黄志伟 , 麦德斯·塞尔沃斯特·伯格浩特 , 郑伟 , 何凯宇
CPC classification number: A61B5/0075 , A61B1/00165 , A61B5/0084 , G01J3/0218 , G01J3/0272 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J3/44 , G01N21/65 , G01N2201/129 , G02B23/2469 , G02B23/26
Abstract: 一种诊断仪器，包括单色光源、用于将来自单色光源的光传输到测试部位的传输设备、用于传输来自测试部位的散射光的采集设备和用于接收来自所述采集设备的散射光的光谱分析仪，所述光谱分析仪包括衍射光栅，所述衍射光栅设有第一光栅元件和第二光栅元件，所述第一光栅元件在第一光谱范围将光衍射，所述第二光栅元件在第二光谱范围将光衍射；所述光谱分析仪进一步包括感光设备，所述第一光栅元件被布置在将光衍射到所述感光设备的第一区域上，所述第二光栅元件被布置在将光衍射到所述感光设备的第二区域上。
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公开(公告)号：CN104062006B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201410086386.2
申请日：2014-03-10
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 金井政史
CPC classification number: G01J3/0218 , B41J2/125 , B41J11/009 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/506 , G01J3/51 , G09G5/02 , G09G2320/0626 , G09G2320/0666 , G09G2320/0693 , G09G2320/08 , G09G2360/145
Abstract: 本发明涉及光测定装置、印刷装置及图像显示装置。光测定装置能够在一处测定从不同场所导来的多种光。光测定装置具有：选择性地透过期望的波长的光的一个分光器、将测定对象光导向分光器的多个导光部、以及接收从分光器出射的光的光接收部。多个导光部设置于作为测定对象光向多个导光部的入射端分别入射不同光的位置，且多个导光部的出射端向分光器的不同位置分别出射光的位置。分光器将从多个导光部入射的光分别从不同位置出射，光接收部分开接收从分光器的不同位置出射的光。
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公开(公告)号：CN107966098A
公开(公告)日：2018-04-27
申请号：CN201710997257.2
申请日：2017-10-20
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/002 , G01B11/0608 , G01B2210/50 , G01J3/0218 , G01J3/0248 , G01J3/2823 , G01J5/0896 , G01B11/00
Abstract: 一种光谱共焦传感器，包括：光源部，用于射出具有不同波长的多个光束；物镜，用于使所述多个光束会聚于不同的聚焦位置处；射出口，其中所述多个光束中的在所述聚焦位置处被待测物体反射的测量光从所述射出口射出；位置计算部，用于基于所射出的测量光来计算所述待测物体的位置；观察部，其包括图像传感器和用于射出观察光的观察光源；以及分束器，用于使穿过所述物镜的所述测量光的至少一部分射出到所述射出口，并且使穿过所述物镜并被所述待测物体反射的所述观察光的至少一部分射出到所述图像传感器。
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公开(公告)号：CN107806898A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201710807755.6
申请日：2017-09-08
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0218 , G01J3/0221 , G01J3/0264 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J2003/2876 , G01N21/274 , G01N21/359 , G01D21/02 , G01D3/036
Abstract: 本发明提供一种使用至少在近红外区域具有检测灵敏度的检测器的光学测定方法。光学测定方法包含：获取在任意的曝光时间通过检测器来对任意的样本光进行测定后的输出值的步骤；以及如果获取到输出值时的曝光时间处于第二范围内则以与输出值对应的校正量来校正输出值的步骤。校正量包含如下的系数与曝光时间的平方之积，该系数为：表示在第二范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出值相对于在第一范围内的曝光时间通过检测器进行测定后得到的输出线性偏差了多大程度的系数。
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公开(公告)号：CN106248208B
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201610548916.X
申请日：2016-07-13
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: G01J3/0224 , G01J3/0218 , G01J3/44 , G01J3/447 , G02B6/27 , G02B6/2706 , G02B6/2746 , G02B6/2786
Abstract: 本发明公开了一种基于频域消偏结构的光谱偏振无关测量的装置与方法，该装置包括泵浦光源模块、消偏模块、SBS效应发生模块以及数据采集与光谱重构模块。本发明提出的方法包括：泵浦光源模块发出偏振态固定的激光；泵浦光源模块输出端的激光通过消偏模块成为消偏光；将此消偏光作为泵浦光输入到SBS效应发生模块与外界输入到SBS效应发生模块的待测信号光发生相互作用；待测信号光经过SBS效应发生模块放大后由数据采集与光谱重构模块进行数据采集处理并最终得到待测信号的光谱。本发明可以消除基于SBS效应的光谱测量装置在对具有任意偏振态的输入光信号进行测量时，呈现出的光谱信息获取不准确、功率测量不稳定等问题，具有重要的应用前景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107024438A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201610941635.0
申请日：2016-10-25
Applicant: 株式会社堀场制作所
Inventor： 井户琢也
CPC classification number: G01N21/59 , G01J3/0218 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/4338 , G01N21/61 , G01N33/0073 , G01N2021/399 , G01N2201/0612 , G01N2201/0691 , G01N2201/12 , G01N21/3103 , G01N21/01 , G01N2021/3129
Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，利用对测量光的吸光，高精度地分析对象气体。气体分析装置(100)包括多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)、导入部(5)、受光部(7)和分析部(94)，多个光源(1‑1、1‑2、……1‑n)分别同时输出测量光(Lm1、Lm2、……Lmn)。导入部(5)将多种测量光(Lm1、Lm2、……Lmn)导入测量空间(S)。受光部(7)测量合计强度(Im)。分析部(94)基于多种测量光经过存在多种对象气体中的任意的对象气体的测量空间(S)时由受光部(7)测量的作为合计强度(Im)的测量对象强度(Id)与多种测量光经过不存在多种对象气体中的任意的对象气体的测量空间(S)时由受光部(7)测量的作为合计强度(Im)的基准强度(Id)之差，进行对象气体的分析。
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公开(公告)号：CN106840399A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710037368.9
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0218 , G01J3/2803 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明公开了一种集成光纤的多光谱成像探测器，探测器包括探测器模块、多波段滤光片、光学耦合器和异形传输光纤。异形传输光纤入射端为多排线列结构，出射端则由异形传输光纤转换成多个出射端面，通过光学耦合器，分别与相应波段的探测器模块耦合。所有光纤出射端面均集成窄波段滤光片，系统成像光线进入该探测器时通过窄波段滤光片可实现自动分光。该类型多光谱成像探测器可自适应探测器模块结构，扩展性强、集成度高，可实现高精度、窄间距、多光谱等综合探测需求。
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公开(公告)号：CN103284691B
公开(公告)日：2017-04-26
申请号：CN201310023749.3
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号：CN106461459A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580027587.8
申请日：2015-05-26
Applicant: 英特尔公司
CPC classification number: G02B6/4295 , G01J3/0218 , G01J3/0237 , G01J3/0259 , G01J3/0297 , G01J3/1809 , G01J3/1895 , G01J3/20 , G01J3/32 , G02B6/12004 , G02B6/12007 , G02B6/124 , G02B6/3508
Abstract: 用于单片光子集成电路（PIC）以提供光谱测定功能的技术和机制。在实施例中，PIC包括光子器件、第一波导和第二波导，其中第一波导和第二波导中的一个包括相对于PIC的衬底自由移动的释放部分。在评估被测材料的计量周期期间，控制逻辑操作致动器以相对于光子器件连续地配置释放部分的多个位置。在另一个实施例中，在计量周期期间，来自第一波导的光被光子器件的光栅不同地衍射，其中将光的部分引导到第二波导中。对于释放部分的不同位置，可能连续地检测衍射到第二波导中的光的不同波长，以确定在波长范围上的光谱测定测量。
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公开(公告)号：CN106248208A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610548916.X
申请日：2016-07-13
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: G01J3/0224 , G01J3/0218 , G01J3/44 , G01J3/447 , G02B6/27 , G02B6/2706 , G02B6/2746 , G02B6/2786
Abstract: 本发明公开了一种基于频域消偏结构的光谱偏振无关测量的装置与方法，该装置包括泵浦光源模块、消偏模块、SBS效应发生模块以及数据采集与光谱重构模块。本发明提出的方法包括：泵浦光源模块发出偏振态固定的激光；泵浦光源模块输出端的激光通过消偏模块成为消偏光；将此消偏光作为泵浦光输入到SBS效应发生模块与外界输入到SBS效应发生模块的待测信号光发生相互作用；待测信号光经过SBS效应发生模块放大后由数据采集与光谱重构模块进行数据采集处理并最终得到待测信号的光谱。本发明可以消除基于SBS效应的光谱测量装置在对具有任意偏振态的输入光信号进行测量时，呈现出的光谱信息获取不准确、功率测量不稳定等问题，具有重要的应用前景。
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