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公开(公告)号:FR3017746A1
公开(公告)日:2015-08-21
申请号:FR1451297
申请日:2014-02-18
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: MANTELLI MARC , NIEL STEPHAN , REGNIER ARNAUD , LA ROSA FRANCESCO , DELALLEAU JULIEN
IPC: H01L27/115 , H01L29/788
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142.
公开(公告)号:FR3013920A1
公开(公告)日:2015-05-29
申请号:FR1361560
申请日:2013-11-25
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: GAILHARD BRUNO , CUENCA MICHEL
IPC: H03K17/16 , H03K17/687 , H03K19/094
Abstract: Le dispositif électronique comprend une borne d'entrée, une borne de sortie et un bloc de commutation (BLC1P) comportant un transistor principal MOS (T1) commandable par un signal de commande principal, possédant une première électrode de conduction et une deuxième électrode de conduction connectée à la borne de sortie, et des moyens de commande principaux (MCP) configurés pour délivrer le signal de commande principal de façon à conférer audit transistor principal MOS un état passant ou un état bloqué. Le bloc de commutation comprend en outre des premiers moyens de contrôle (MCTL1P) configurés pour, lorsque ledit transistor principal (Tl) est dans son état passant, connecter son substrat et sa première électrode de conduction à la borne d'entrée (BE), et lorsque ledit transistor principal (T1) est dans son état bloqué, isoler sa première électrode de conduction de la borne d'entrée et appliquer sur cette première électrode de conduction une première tension de polarisation (GND) choisie pour réduire un courant de fuite entre les deux électrodes de conduction du transistor principal, et appliquer sur le substrat du transistor principal une deuxième tension de polarisation (Vdd) choisie pour réduire un courant de fuite vers ou provenant de la borne de sortie.
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公开(公告)号:FR3011680A1
公开(公告)日:2015-04-10
申请号:FR1359631
申请日:2013-10-04
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: GAILHARD BRUNO , CUENCA MICHEL
IPC: H01L23/34
Abstract: Le procédé comprend une génération d'un premier courant (I1) proportionnel à la température absolue, une élaboration d'un deuxième courant (I2) représentatif de la variation en température des tensions de seuil des transistors de l'inverseur et limité à une fraction (Q/N) inférieure à un du premier courant (I1) et une alimentation de l'inverseur avec un courant d'alimentation (I3) égal au premier courant (I1) duquel on a soustrait le deuxième courant limité (I2).
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公开(公告)号:ITTO20130595A1
公开(公告)日:2015-01-16
申请号:ITTO20130595
申请日:2013-07-15
Inventor: CASTOLDI LAURA MARIA , FARALLI DINO , VIGNA BENEDETTO
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公开(公告)号:FR3001309B1
公开(公告)日:2015-01-09
申请号:FR1350593
申请日:2013-01-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , MELEXIS TECHNOLOGIES NV
Inventor: BOUSQUET THIERRY , ZHUK OLEKSANDR
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公开(公告)号:FR2987696B1
公开(公告)日:2014-11-21
申请号:FR1251969
申请日:2012-03-05
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: LA ROSA FRANCESCO , PIZZUTO OLIVIER , NIEL STEPHAN , BOIVIN PHILIPPE , FORNARA PASCAL , LOPEZ LAURENT , REGNIER ARNAUD
IPC: H01L21/8239
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公开(公告)号:FR2969390B1
公开(公告)日:2014-09-26
申请号:FR1060561
申请日:2010-12-15
Inventor: COULON DAVID , DESCHAMPS BENOIT , BARBIER FREDERIC
IPC: H01L31/11
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公开(公告)号:FR3003418A1
公开(公告)日:2014-09-19
申请号:FR1352324
申请日:2013-03-15
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: RIZZO PIERRE , VALLESPIN NATHALIE , PAPART EMMANUEL
Abstract: L'invention concerne un procédé d'anticollision pour dispositif NFC (1) dans lequel en mode lecteur, on surveille une variation d'une information représentative de l'amplitude du signal dans une antenne (14) du dispositif, et si cette information excède un seuil, on provoque une commutation du dispositif en mode carte.
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公开(公告)号:FR3002099A1
公开(公告)日:2014-08-15
申请号:FR1351172
申请日:2013-02-12
Applicant: PROTON WORLD INT NV , ST MICROELECTRONICS ROUSSET
Inventor: VAN NIEUWENHUYZE OLIVIER , CHARLES ALEXANDRE
Abstract: L'invention concerne un procédé de configuration d'un premier dispositif pour une communication en champ proche avec un deuxième dispositif, dans lequel un mode poste à poste (P2P) est sélectionné si le deuxième dispositif tire l'alimentation de ses circuits d'une batterie.
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公开(公告)号:FR3001309A1
公开(公告)日:2014-07-25
申请号:FR1350593
申请日:2013-01-24
Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET , MELEXIS TECHNOLOGIES NV
Inventor: BOUSQUET THIERRY , ZHUK OLEKSANDR
Abstract: Procédé de traitement d'erreurs de transmission lors d'une communication sans contact d'informations entre un dispositif, par exemple une carte, et un lecteur, les informations étant transmises sous forme de trames à un module d'émission/réception (DIS1) du lecteur (SYS) en couplage sans contact avec ledit dispositif (CT) et contrôlé par un module de contrôle (DIS2) couplé au module d'émission/réception, lesdites informations étant extraites desdites trames au sein du module d'émission/réception pour être délivrées au module de contrôle, le procédé comprenant une détection d'erreurs de transmission devant être ignorées intégralement effectuée au sein du module d'émission/réception (DIS 1).
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