公开(公告)号：KR100650571B1

公开(公告)日：2006-11-27

申请号：KR1020067003657

申请日：2002-03-19

Applicant: 유디 테크놀로지 코포레이션

Inventor： 엘모어더글라스엘 ,  짜오메이웨이 ,  라볼트존에프

IPC: G01J3/40 ,  G01N21/62

CPC classification number: G01J3/14 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01N21/35 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3577

Abstract: An apparatus (300') and method capable of providing spatially multiplexed IR spectral information simultaneously in real-time for multiple samples or multiple spatial areas of one sample using IR absorption phenomena requires no moving parts or Fourier Transform during operation, and self-compensates for background spectra and degradation of component performance over time. IR spectral information and chemical analysis of the samples is determined by using one or more IR sources (310, 311), one or more sampling accessories (330, 331) for positioning the sample volumes, one or more optically dispersive elements (350), a focal plane array (FPA) (370) arranged to detect the dispersed light beams, and a processor (380) and display (390) to control the FPA (370), and display(390) to control the FPA (370) and display IR spectrograph.

公开(公告)号：TW201521686A

公开(公告)日：2015-06-16

申请号：TW103141575

申请日：2014-12-01

Applicant: 風格構想工場公司 ,  STYLE IDEA FACTORY SOCIEDAD LIMITADA

Inventor： 佩瑞茲 卡薩斯 喬弟 ,  PEREZ CASAS, JORDI ,  普丁格南諾 安格羅 ,  PUTIGNANO, ANGELO ,  迪佛特 瓦特 ,  DEVOTO, WALTER

IPC: A61C19/00

CPC classification number: G01J3/508 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/524

Abstract: 一種用於辨別牙齒顏色的牙科用裝置(1)包含：具有數位攝影機(20)的手機(2)，該數位攝影機(20)包含透鏡(21)以及充當閃光燈的光源(22)；外殼(3)；隔片(7)，其安裝於該外殼(3)上、對應於該透鏡(21)與該光源(22)；第一偏光濾光鏡(4)以及第二偏光濾光鏡(5)，其在該隔片(7)內側分別安置於該透鏡(21)與該光源(22)上；校準標記(8)，其安置於該隔片(7)中；資料庫(100)，其含有複數個數位樣本影像，該等數位樣本影像明確地界定樣本顏色；以及比較軟體(101)，其用以將該裝置(1)拍攝的牙齒之數位影像與該資料庫(100)之該等樣本影像進行比較以辨別該所拍攝牙齒之顏色。

Abstract in simplified Chinese: 一种用于辨别牙齿颜色的牙科用设备(1)包含：具有数码摄影机(20)的手机(2)，该数码摄影机(20)包含透镜(21)以及充当闪光灯的光源(22)；外壳(3)；隔片(7)，其安装于该外壳(3)上、对应于该透镜(21)与该光源(22)；第一偏光滤光镜(4)以及第二偏光滤光镜(5)，其在该隔片(7)内侧分别安置于该透镜(21)与该光源(22)上；校准标记(8)，其安置于该隔片(7)中；数据库(100)，其含有复数个数码样本影像，该等数码样本影像明确地界定样本颜色；以及比较软件(101)，其用以将该设备(1)拍摄的牙齿之数码影像与该数据库(100)之该等样本影像进行比较以辨别该所拍摄牙齿之颜色。

公开(公告)号：TWI454745B

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：TW097118879

申请日：2008-05-22

Applicant: 尼康股份有限公司 ,  NIKON CORPORATION

Inventor： 勝沼淳 ,  KATSUNUMA, ATSUSHI

IPC: G02B27/28 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/32 ,  G01J3/447 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1282 ,  G01J2003/1286 ,  G02B27/0018 ,  G02B27/283 ,  G02F1/13 ,  G02F1/13363 ,  G02F1/29 ,  G02F2001/3528 ,  G02F2203/055 ,  G02F2203/06

公开(公告)号：TW200905246A

公开(公告)日：2009-02-01

申请号：TW097118879

申请日：2008-05-22

Applicant: 尼康股份有限公司 NIKON CORPORATION

Inventor： 勝沼淳 KATSUNUMA, ATSUSHI

IPC: G02B ,  G01J

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/32 ,  G01J3/447 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1282 ,  G01J2003/1286 ,  G02B27/0018 ,  G02B27/283 ,  G02F1/13 ,  G02F1/13363 ,  G02F1/29 ,  G02F2001/3528 ,  G02F2203/055 ,  G02F2203/06

Abstract: 本發明提供一種可調變濾光器,具備:偏光分歧元件,將輸入光分歧成具有相互正交的振動方向的二個直線偏光;波長分散型偏光元件,將由該偏光分歧元件所分歧的該二個直線偏光,對應該二個直線偏光,而分光成在一方向上具有空間廣度的二個光譜像;及反射型空間調變元件,相對於該二個光譜像相互獨立地調變並反射各波長區域的直線偏光;其中,藉由將由該反射型空間調變元件所反射的調變光再輸入該波長分散型偏光元件及該偏光分歧元件,該調變光之中,由該反射型空間調變元件所調變的波長區域的輸出光與未經調變的波長區域的輸出光會分歧而被輸出;通往該偏光分歧元件的輸入光及再輸入光、及通往該波長分散型偏光元件的輸入光及再輸入光皆為平行光束。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种可调制滤光器,具备:偏光分歧组件,将输入光分歧成具有相互正交的振动方向的二个直线偏光;波长分散型偏光组件,将由该偏光分歧组件所分歧的该二个直线偏光,对应该二个直线偏光,而分光成在一方向上具有空间广度的二个光谱像;及反射型空间调制组件,相对于该二个光谱像相互独立地调制并反射各波长区域的直线偏光;其中,借由将由该反射型空间调制组件所反射的调制光再输入该波长分散型偏光组件及该偏光分歧组件,该调制光之中,由该反射型空间调制组件所调制的波长区域的输出光与未经调制的波长区域的输出光会分歧而被输出;通往该偏光分歧组件的输入光及再输入光、及通往该波长分散型偏光组件的输入光及再输入光皆为平行光束。

公开(公告)号：TW201734417A

公开(公告)日：2017-10-01

申请号：TW106101090

申请日：2017-01-13

Applicant: 克萊譚克公司 ,  KLA-TENCOR CORPORATION

Inventor： 克里許南 桑卡 ,  KRISHNAN, SHANKAR ,  王 大衛 Y ,  WANG, DAVID Y.

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/427 ,  G01N21/21 ,  G01N21/3563

CPC classification number: G01N21/3563 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J3/427 ,  G01J2003/4275 ,  G01N21/211 ,  G01N21/31 ,  G01N21/9501 ,  G01N2021/213 ,  G01N2021/3568

Abstract: 本文中呈現用於在紫外線波長、可見波長及紅外線波長下執行對半導體結構之同時光譜量測之方法及系統。在另一態樣中，藉由將偵測器表面上之波長色散方向定向成垂直於至該偵測器表面上之入射平面之投影而減小波長誤差。在另一態樣中，藉由包含具有不同敏感特性的多個光敏區域之一偵測器偵測一廣紅外線波長範圍。收集光根據波長跨該偵測器之該表面線性色散。各不同光敏區域配置於該偵測器上以感測一不同入射波長範圍。以此方式，藉由一單一偵測器以高信號對雜訊比偵測一廣紅外線波長範圍。此等特徵以高處理量、精度及準確度實現對高深寬比結構之高處理量量測。

Abstract in simplified Chinese: 本文中呈现用于在紫外线波长、可见波长及红外线波长下运行对半导体结构之同时光谱量测之方法及系统。在另一态样中，借由将侦测器表面上之波长色散方向定向成垂直于至该侦测器表面上之入射平面之投影而减小波长误差。在另一态样中，借由包含具有不同敏感特性的多个光敏区域之一侦测器侦测一广红外线波长范围。收集光根据波长跨该侦测器之该表面线性色散。各不同光敏区域配置于该侦测器上以传感一不同入射波长范围。以此方式，借由一单一侦测器以高信号对噪声比侦测一广红外线波长范围。此等特征以高处理量、精度及准确度实现对高深宽比结构之高处理量量测。

公开(公告)号：TWI479133B

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：TW098133222

申请日：2009-09-30

Applicant: 皇家飛利浦電子股份有限公司 ,  KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V.

Inventor： 海麥特 瑞菲 雅特 慕司塔法 ,  HIKMET, RIFAT ATA MUSTAFA ,  梅吉爾 愛德華 喬翰尼斯 ,  MEIJER, EDUARD JOHANNES ,  凡 包麥爾 帝斯 ,  VAN BOMMEL, TIES

IPC: G01J3/12 ,  G02F1/1333

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/12 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/505 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/3016 ,  G02F1/13718 ,  G02F2001/133541 ,  G02F2001/13775

公开(公告)号：TW200813420A

公开(公告)日：2008-03-16

申请号：TW096116639

申请日：2007-05-10

Applicant: 睿勵科技儀器(上海)有限公司 RAINTREE SCIENTIFIC INSTRUMENTS (SHANGHAI) CORPORATION

Inventor： 呂彤欣 TONGXIN LU ,  王笑寒 XIAOHAN WANG

IPC: G01N ,  G01J ,  H01L

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/10 ,  G01N21/8806

Abstract: 本發明揭示了一種光學測量及/或檢測裝置,在一種應用中,其可被用於半導體裝置的檢測。其包括:一光源,用以提供入射光線;一半拋物面形反射器,具有一內反射面,其中,反射器具有一焦點及一對稱軸,且待測部件被配置在焦點附近。進入與反射器之對稱軸平行的光線會被導向焦點且反射離開該待測部件並產生表示該待測部件的資訊,然後反射的光線離去該反射器。一檢測器陣列接收離去的光線且光線可被分析以確定待測部件的特徵。

Abstract in simplified Chinese: 本发明揭示了一种光学测量及/或检测设备,在一种应用中,其可被用于半导体设备的检测。其包括:一光源,用以提供入射光线;一半抛物面形反射器,具有一内反射面,其中,反射器具有一焦点及一对称轴,且待测部件被配置在焦点附近。进入与反射器之对称轴平行的光线会被导向焦点且反射离开该待测部件并产生表示该待测部件的信息,然后反射的光线离去该反射器。一检测器数组接收离去的光线且光线可被分析以确定待测部件的特征。

公开(公告)号：TWI614484B

公开(公告)日：2018-02-11

申请号：TW105121069

申请日：2016-07-04

Applicant: 采鈺科技股份有限公司 ,  VISERA TECHNOLOGIES COMPANY LIMITED

Inventor： 林國峰 ,  LIN, KUO FENG ,  郭武政 ,  KUO, WU CHENG ,  林宗澔 ,  LIN, CHUNG HAO ,  蕭玉焜 ,  HSIAO, YU KUN

IPC: G01J3/18 ,  G02B5/18 ,  G02B6/293 ,  H04N9/097

CPC classification number: H04N9/045 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/1895 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1204 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/1828 ,  G02B5/1842 ,  G02B6/29329 ,  G02B6/29395 ,  G02B6/29397 ,  H04N5/3696 ,  H04N9/083

公开(公告)号：TWI456184B

公开(公告)日：2014-10-11

申请号：TW100147224

申请日：2011-12-19

Applicant: 財團法人工業技術研究院 ,  INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE

Inventor： 張光博 ,  CHANG, KUANG PO ,  王淑儀 ,  WANG, SHU YI

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01J3/2889 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/443 ,  G01N21/718

公开(公告)号：TW201022649A

公开(公告)日：2010-06-16

申请号：TW098133222

申请日：2009-09-30

Applicant: 皇家飛利浦電子股份有限公司

Inventor： 海麥特 瑞菲 雅特 慕司塔法 ,  梅吉爾 愛德華 喬翰尼斯 ,  凡 包麥爾 帝斯

IPC: G01J ,  G02F

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/12 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/505 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/3016 ,  G02F1/13718 ,  G02F2001/133541 ,  G02F2001/13775

Abstract: 本發明係關於一種用於量測遍及電磁頻譜之諸部分之光之性質的頻譜偵測器,該頻譜偵測器包含膽固醇型液晶材料及能夠改變該膽固醇型液晶材料之螺旋節距的切換構件,使得回應於該切換構件而調整透射波段的位置。該頻譜偵測器可進一步包含至少一個光方向選擇結構,該結構係用於選擇入射在該頻譜偵測器上、具有某一入射角的光。本發明亦係關於一種包含本發明之頻譜偵測器的照明系統。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系关于一种用于量测遍及电磁频谱之诸部分之光之性质的频谱侦测器,该频谱侦测器包含胆固醇型液晶材料及能够改变该胆固醇型液晶材料之螺旋节距的切换构件,使得回应于该切换构件而调整透射波段的位置。该频谱侦测器可进一步包含至少一个光方向选择结构,该结构系用于选择入射在该频谱侦测器上、具有某一入射角的光。本发明亦系关于一种包含本发明之频谱侦测器的照明系统。