-
公开(公告)号：CN101305286A
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：CN200580052032.5
申请日：2005-11-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 金子茂树
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2887 , G01R31/2893
Abstract: 本发明的电子部件试验装置(10)具备：使IC器件移动并按压到插座301上的接触臂(312)；控制接触臂(312)的控制装置(316)；向控制装置(316)指示接触臂(312)的按压扭矩的指示部件(321)；从测试器(20)取得在按照由指示部件(321)指示的扭矩由接触臂(312)将IC器件按压在插座(301)上时执行的IC器件的试验结果的取得部件(322)；与由取得部件(322)取得的试验结果对应地，对向控制装置(316)指示的扭矩进行修正的修正部件(323)；在修正部件(323)没有修正扭矩的情况下，将试验结果正常的试验时的行程设定为最优行程的设定部件(324)。
-
公开(公告)号：CN100422756C
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200380107718.0
申请日：2003-12-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 大岛英幸
IPC: G01R31/3181
CPC classification number: G01R31/31922
Abstract: 在从DUT输出的系统时钟的边沿定时，取得与比系统时钟高速的内部时钟同步的恢复时钟。包括：时间插补器(20)、数字滤波器(40)和数据侧选择器(30)。时间插补器包括输入DUT(1)的系统时钟的触发器(21a～21n)、顺次将以一定的定时间隔延迟的选通脉冲输入到FF(21)并输出时间系列的电平数据的延迟电路(22)、输入从FF输出的时间系列的电平数据并编码成表示边沿定时的位置数据的编码器(28)。数字滤波器包括顺次存储编码器的位置数据在预定的定时输出的多个寄存器(41a～41n)，输出来自寄存器(41)的位置数据作为恢复时钟。数据侧选择器将恢复时钟作为选择信号选择DUT的输出数据。
-
公开(公告)号：CN100416286C
公开(公告)日：2008-09-03
申请号：CN02828818.1
申请日：2002-04-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/2886
Abstract: 一种电子部件试验装置，在将被试验电子部件搭载于电子部件输送介质(11、12、13、14)的状态下由移动机构将被试验电子部件的输入输出端子推压到测试头部(100)的触头部进行测试；其中：同时地由一方的移动机构把持搭载了被试验电子部件的2片电子部件输送介质(11、12)，由另一方的移动机构把持搭载了被试验电子部件的2片电子部件输送介质(13、14)，各移动机构独立地进行相对触头群的送入送出。
-
公开(公告)号：CN100397785C
公开(公告)日：2008-06-25
申请号：CN00108325.2
申请日：2000-03-24
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 川端雅之
CPC classification number: H03M1/1009 , H03M1/1215
Abstract: 一种用于校准时间误差的模/数(A-D)转换装置(100，120，130)包括：模拟信号输入部分(10)；多个模拟-数字转换器(12)；提供同步采样时钟信号或提供交替采样时钟信号的采样时钟信号发生器(14)；根据同步采样时钟信号，对A-D转换器输出的数字信号进行取平均处理的取平均处理单元(18b)；以及根据交替采样时钟信号将进行采样操作的A-D转换器输出的数字信号进行交替的交替处理单元(18a)。一种A-D转换装置包括用于计算时间误差的误差计算单元(72)、误差校准值计算单元(74)以及进行校准操作的误差校准单元(70b)。校准多个A-D转换器之间产生的误差的方法。
-
公开(公告)号：CN1329740C
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN02813836.8
申请日：2002-07-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 山下毅
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R31/2867 , G01R31/2874
Abstract: 一种推杆30，由能够直接接触待测试的电子元件的推杆主体31和33，在推杆主体31、33上提供的热吸收及辐射体35，在推杆主体31上提供的、能够直接或者间接接触待测试的电子元件2加热器311，以及在推杆主体31、33和加热器311之间提供的绝热材料312组成。依照这种推杆30，能够执行对电子元件的温度控制，以便使电子元件接近用于测试的目标规定温度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101000275A
公开(公告)日：2007-07-18
申请号：CN200710001332.1
申请日：2007-01-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 浮田润一
CPC classification number: G01M11/319
Abstract: 提供了一种失真测量设备，包括记录布里渊散射光的光谱的布里渊散射光光谱记录单元，所述布里渊散射光是作为提供入射光的结果在光纤中生成的；峰值频率近似单元，获取布里渊散射光的光谱取最大值的近似的峰值频率；峰值频率推导单元，推导光谱在一频率范围内取最大值的峰值频率，所述频率范围是基于近似的峰值频率处光谱的幅度获得的；以及失真推导单元，基于推导的峰值频率推导光纤的失真。
-
公开(公告)号：CN1926422A
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN200480042647.5
申请日：2004-03-31
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 清川敏之
CPC classification number: G01M11/00 , G01R31/2641 , H01L27/14618 , H01L2224/16225 , H04N5/2257 , H04N17/002
Abstract: 一种影像传感器用试验装置，一边对影像传感器(DUT)的感光面照射光，一边从接触部对影像传感器的输入输出端子输入输出电信号，试验影像传感器(DUT)的光学特性，其中：用第一摄像机(326)拍摄由接触臂(315)把持的状态的影像传感器(DUT)，由图象处理识别影像传感器(DUT)对于接触部的相对位置，在该相对位置加上预先计算的影像传感器(DUT)的光轴对于光源的光轴的偏移量，计算影像传感器(DUT)的对齐量，根据它，驱动驱动部(322)，在锁定和释放机构(318)成为不约束的状态下，使与可动台(321)接触的把持一侧臂(317)移动。
-
公开(公告)号：CN1922842A
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：CN200580005772.3
申请日：2005-02-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 加藤隆志
CPC classification number: H04L27/364 , H03C3/40 , H04L25/063
Abstract: 对通过正交调制得到的RF信号不进行正交解调地进行校正。具有：同相乘法器(14I)，将同相校正用用户信号和规定的本地频率的同相本地信号(Lo)混合，输出同相转换信号，该同相校正用用户信号由具有同相校正用信号输出器(32I)输出的正弦波电压的同相校正用信号和同相用户信号(I信号)相加而得到；正交乘法器(14Q)，将正交校正用用户信号和与同相本地信号的相位相差90度的正交本地信号(Lo)混合，输出正交转换信号，该正交校正用用户信号由与正交校正用信号输出器(32Q)输出的同相校正用信号的相位相差90度的正交校正用信号和正交用户信号(Q信号)相加而得到；将同相转换信号和正交转换信号相加的加法器(18)；测定加法器(18)的输出电压的功率检测器(56)；以及根据功率检测器(56)的测定结果确定正交调制的误差的误差确定部(62)。
-
公开(公告)号：CN1853109A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200480027007.7
申请日：2004-09-14
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R27/28 , G01R35/005
Abstract: 通过减少校准配件连接和分离的次数来校准DUT(被测器件)电路参数的测量系统是可能的。一种误差因子获取器件包括：第一校准器(100)，连接到端口(18，28)，并且具有对网络分析器的端口(18，28)实现开路、短路和标准负载或使端口(18，28)短路的第一状态实现单元(120)；以及第二校准器(200)，连接到第一校准器(100)和DUT 400，并且具有对端口(18，28)实现开路、短路和标准负载的第二状态实现单元(220)。第一校准器(100)包括将端口(18，28)连接到第一状态实现单元(120)或第二校准器(200)的第一连接单元(110a，110b)，同时第二校准器(200)包括将端口(18，28)连接到第二状态实现单元(220)或DUT 400的第二连接单元(210)。
-
公开(公告)号：CN1846141A
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：CN200480025335.3
申请日：2004-09-08
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/316
CPC classification number: G01R31/31932 , G01R31/3191
Abstract: 一种用于对装置测试的测试设备，包括：定时发生器，用于生成指明施加测试信号的定时的定时信号；多个定时延迟部件，用于延迟所述定时信号；多个驱动器，用于施加所述测试信号；采样器，用于对所述测试信号进行采样，以输出采样电压；比较器，用于输出指明所述采样电压是否高于参考电压的比较结果；确定部件，用于确定所述采样电压是否与所述参考电压一致；和定时校准部件，用于校准由所述多个定时延迟部件提供的定时信号中的延迟时间，从而使得将所述测试信号施加到该被测试装置的定时彼此一致。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
586
records
(took 0.044 seconds)
