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公开(公告)号：CN1157739C
公开(公告)日：2004-07-14
申请号：CN97193086.4
申请日：1997-12-19
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 碁石优
CPC classification number: G11C29/003 , G01R31/31935 , G11C29/44 , G11C29/56
Abstract: 一种对并行输入/并行输出型存储器和串行输入/串行输出型存储器进行试验的存储器试验装置，在对串行输入/串行输出型存储器进行试验时，能够将串行输出的读出数据中的失效数据按位分开，且在时间轴的不同时刻存储到不良解析存储器中，并能够确定不良位的位置。在逻辑比较器13的输出侧设置选取来自被试验存储器10之端子的输出的失效多路转换器14，在所述失效多选择器与不良解析存储器15之间设置位选择器17，在对串行输入/串行输出型存储器进行试验的时候，由该位选择器将从失效多路转换器输出的串行失效数据按位分开，且在时间轴的不同时刻提供给不良解析存储器，并在不良解析存储器中存储不良位的位置。
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公开(公告)号：CN1146731C
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN97117880.1
申请日：1997-06-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G11C29/56 , G01R31/2834 , G01R31/31935
Abstract: 一种半导体器件(IC)测试装置，它在装载器部件中把被测试IC装入测试支架，传送到测试部件进行测试，然后，在卸载器部件中，把已测试IC从测试支架转载到通用支架上，再把变空的测试支架传送到装载器部件，能独立地检测出装载到测试支架上的IC载体的故障，设有IC载体故障分析存储器，各存储地址累计存储判定为故障的IC个数，累计值超过设定值则将收纳判定为故障的IC的IC载体判定为故障。
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公开(公告)号：CN1141593C
公开(公告)日：2004-03-10
申请号：CN97181433.3
申请日：1997-11-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本好弘
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R31/3004
Abstract: 在实行功能测试和直流测试的IC测试装置中，在直流测试装置的输出端连接高电阻的电阻器，通过该电阻器的连接，即使在将直流测试装置连接到功能测试装置的状态下，也能正常操作功能测试装置，从而在功能测试的实行过程中插入直流测试，并行实行功能测试和直流测试，将直流测试装置中开关切换这样花费时间的控制在功能测试中实行，使开关切换时间不添加到测试所需的时间上，从而缩短测试时间。
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公开(公告)号：CN1137508C
公开(公告)日：2004-02-04
申请号：CN99104731.1
申请日：1996-07-29
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/31907 , G01R31/2834 , G01R31/2887 , G01R31/31912
Abstract: 一种半导体器件试验系统，可有效利用多台半导体器件试验装置。包括管理、控制多台半导体器件试验装置的主计算机、分类专用机，在主计算机内还设置有存储分配给试验完的半导体器件的序号及试验结果等器件收纳信息的收纳信息存储装置。在各试验装置的搬运器部不进行分类或只分两类即移送至通用托盘，试验完了后，根据收纳信息存储装置内的信息在分类专用机内进行器件的分类。
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公开(公告)号：CN1124492C
公开(公告)日：2003-10-15
申请号：CN99108832.8
申请日：1999-06-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 齐藤登
CPC classification number: G01R31/01
Abstract: 提供施加在被试验IC的接触部分的推压力均一性优良的IC试验装置。这是一种把被试验IC的输入输出端子推压到试验头的接触引脚51上进行试验的IC试验装置，具备被设置为对接触引脚51可以进行靠近离开的推进器基座34，设在推进器基座上与被试验IC接触后对之进行推压的推进器块31，对推进器块在被试验IC的推压方向上提供弹力的弹簧36。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1434302A
公开(公告)日：2003-08-06
申请号：CN03101070.9
申请日：1998-02-05
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 冈安俊幸
Abstract: 一种IC试验装置，包括主框架和试验头，主框架包括图形发生器和逻辑比较器，试验头安装在远离该主框架但接近被试验IC的地方。所述主框架还包括光源和光电检测器；所述试验头还包括电介质基片，在该基片上形成的光分支部分、光汇合部分、互相并行地形成在光分支部分和光汇合部分之间的第一和第二光波导和第一、第二电极和共用电极。被试验IC输出的应答信号被提供给光输出型电压传感器，利用该光输出型电压传感器将被试验IC输出的电压信号作为光信号传送到主框架，利用光信号在主框架和试验头之间进行信号的授受，可以进行高速操作。
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公开(公告)号：CN1115721C
公开(公告)日：2003-07-23
申请号：CN97111661.X
申请日：1997-04-05
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/2834 , G01R31/2887 , G01R31/31907 , G01R31/31912
Abstract: 一种IC测试装置，在装载部将被测IC装载到测试托盘上，送到测试部进行测试，测试后在卸载部将测试完的IC从测试托盘转载到通用托盘上，将空的测试托盘送向装载部重复进行上述操作，能检测测试托盘上是否存在IC。在卸载部、装载部与测试部三者之间的至少一处设置监视测试托盘上是否存在IC的IC检测传感器，另外在IC支座的底部设置通孔，由IC检测传感器检测透过通孔的光来判断安装在测试托盘上的IC支座是否为空。
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公开(公告)号：CN1115565C
公开(公告)日：2003-07-23
申请号：CN97102239.9
申请日：1997-01-15
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 提供了可高精度地，以较高速度，较便宜地构成测成具有多数个管腿的驱动器IC的输出阻抗的输出阻抗测试仪及其测试方法。用高速扫描器接受来自DUT的多个输出管腿的输出电压并用电压测试仪顺次测试电压来求输出阻抗，把设置于输出管腿与输入端子之间的可编程负载PL构成为对比输出电压高一个恒定电压和低一个恒定电压的门限电压源VT1群和VT2群这2系统的电压进行设定。可编程负载PL群在VT1群中吐出、在VT2群中吸入恒定负载电流。
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公开(公告)号：CN1095084C
公开(公告)日：2002-11-27
申请号：CN97191452.4
申请日：1997-10-15
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 冈安俊幸
CPC classification number: G02B6/3897 , G02B6/2817 , G02B6/3612 , G02B6/3809 , G02B6/4214 , G02B6/43 , H05K1/0274
Abstract: 一种具有埋入的光纤的光纤嵌埋层被提供来作为多层电布线板的一层，该多层电布线板包括一母板，母板中固定有一电回路。光纤嵌埋层上形成一孔，以暴露光纤的一端，其上提供有一45°的反射表面，所以从上述光纤出来的光被沿垂直于布线板平面的方向反射，并输入到处于子板的一端面上的光纤的端部，并且从子板端面上的光纤端部出来而进入45°反射表面的光被输入到光纤嵌埋层内的光纤中。通过这种电光混合布线板，母板与子板之间或子板之间交换光信号的传送通道可以简单地通过将多个子板插入母板中来实现相互连接。于是，既使是多通道光信号通道的装配也是很方便的，且不需要过多的维修服务。
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公开(公告)号：CN1370997A
公开(公告)日：2002-09-25
申请号：CN01116843.9
申请日：2001-02-16
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种IC测试装置的定时校正精度高、廉价完成的定时校正方法,设有探针(300),可以接触安装被测试IC的IC插座(203)的各个管脚、取出提供给各个管脚的信号并向各个管脚提供校正脉冲,通过IC测试装置具有的定时计测功能来计测该探针内设置的基准比较器(CP－RF)取出的校正脉冲的定时和从探针内设置的基准驱动器(DR－RF)向IC插座施加的基准校正脉冲的定时,进行定时校正。
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