-
公开(公告)号：CN103900693A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410150852.9
申请日：2014-04-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0256 , G01J3/2823 , G01J3/453 , G01J3/4531
Abstract: 一种差分快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域；该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上，增加了偏振分光器，将传统单光路结构改变为平衡臂和非平衡臂的双光路结构；该成像方法，利用平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
-
公开(公告)号：CN103822714A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201410053286.X
申请日：2014-02-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0208 , G01J3/2823 , G01J3/453
Abstract: 一种基于偏振分光器的高空间分辨率快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域；该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上，在准直镜和微透镜阵列之间设置有偏振分光器一，增加了成像臂光路；在光谱臂光路上，通过设置偏振分光器二，将传统单光路结构改变为平衡光谱臂和非平衡光谱臂的双光路结构；该成像方法，利用平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的空间分辨率和信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
-
公开(公告)号：CN103582805A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201280018232.9
申请日：2012-03-27
Applicant: 努拜欧有限公司
IPC: G01J3/12
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0248 , G01J3/0291 , G01J3/06 , G01J3/08 , G01J3/10 , G01J3/14 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/44 , G01J3/4406 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N15/1484 , G01N21/6456
Abstract: 本发明一般涉及用于检测和测量源自样品的光的光谱性质或同时可缩放检测和测量源自在多个样品之间存在的每个样品的光的光谱性质的系统、方法和套件，其中该系统包括：包括色散元件的光具组；以及图像传感器。检测和测量的光可以包括从样品散射的光、作为化学发光由样品内化学过程发射的光、由样品选择性吸收的光，或在激发之后作为荧光从样品发射的光。
-
公开(公告)号：CN103308169A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310156285.3
申请日：2013-03-08
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/024 , G01J3/0262 , G01J3/0297 , G01J3/18 , G01J3/24 , G01J3/2823 , G01J3/50 , G01J2003/503 , G03G15/00 , G03G15/5062
Abstract: 一种光谱仪，包括将光束投射至目标物的光源；包括多个孔径的光学元件，其中被目标物反射的光束传输通过该孔径；用于从传输通过该光学元件的多个光束中形成衍射图像的衍射元件；和光接收元件，用于接收由衍射元件形成的衍射图像，且包括以遮蔽除了特定级数衍射图像以外的衍射图像的光学屏蔽。
-
公开(公告)号：CN103284691A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310023749.3
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102027340B
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN200980117277.X
申请日：2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0256 , G01J3/0259 , G01J3/0286 , G01J3/0297 , G01J2003/1213 , G02B5/1814 , G02B7/025 , Y10T156/10
Abstract: 本发明涉及分光模块的制造方法以及分光模块。在分光模块(1)的制造方法中，由光学树脂剂(63)将通过贴合光检测元件(5)和光透过板(56)而构成的光检测单元(10)粘结于基板(2)的前表面(2a)。此时，因为光检测元件(5)的光通过孔(50)被光透过板(56)覆盖，所以能够防止光学树脂剂(63)进入到光通过孔(50)内。而且，在准备光检测单元(10)的时候，因为在贴合设置有光检测部(5a)的半导体基板(91)和光透过板(56)之后，将光通过孔(50)形成于半导体基板(91)，所以能够可靠地防止可能成为发生折射和散射等的原因的物体进入到光通过孔(50)内。
-
公开(公告)号：CN103234632A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201310098338.0
申请日：2013-03-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/14 , G01J3/18 , G01J3/36
Abstract: 本发明公开一种高分辨率宽视场的推帚式光谱成像仪光学系统，由一个离轴三反射镜望远物镜和一个基于棱镜－光栅－棱镜分光的光谱仪构成，其中基于棱镜－光栅－棱镜分光的光谱仪包含狭缝、准直镜、色散器件、会聚镜和面阵探测器，视场光栏狭缝置于望远物镜的焦面上。本发明可以根据实际需求设计成多个通道共用一个望远物镜，地表目标进入望远物镜中，在后方经分色镜分光，各自通过光谱仪成像，因此根据需要可以实现不同的光谱宽度，同时也使系统更加紧凑、轻量化，灵活且实用性强。通过本发明可有效解决当前推帚式成像光谱仪普遍视场不大，分辨率低、作业效率不高的问题，设计出高分辨率宽视场的光谱成像系统。
-
公开(公告)号：CN103181753A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201310022851.1
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 提供了一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
-
公开(公告)号：CN103180699A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201180051362.8
申请日：2011-07-26
Applicant: 柯尼卡美能达株式会社
Inventor： 原吉宏
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/4535 , G02B26/0858
Abstract: 在分光测定前的粗调工序中，使移动镜移动（＃11），将由4分割传感器接收到移动镜的反射光与固定镜的反射光的干涉光时的各分割元件的输出相加，来检测干涉光的对比度的变化（＃12），并且基于该对比度的变化，检测两反射光的相对倾斜量（＃13），对初始倾斜误差进行修正（＃14）。另一方面，在分光测定前的微调工序中，基于由4分割传感器接收到两反射光的干涉光时的各分割元件的输出的相位差，检测两反射光的相对倾斜量以及倾斜方向，对初始倾斜误差进行修正。
-
公开(公告)号：CN101970995B
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN200980109121.7
申请日：2009-05-08
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 柴山胜己
CPC classification number: G02B5/1861 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/024 , G01J3/0243 , G01J3/0259 , G01J3/0291 , G01J3/18 , Y10T29/4998
Abstract: 本发明涉及分光器的制造方法。首先，准备以外形为长方体形状、在底面上具有一对沟槽、具有半球状的凹部(10)的方式被树脂成型的箱体(5)。接着，将光固化性的树脂剂(27)涂布于该箱体(5)的凹部(10)的底部的区域(12)。接着，将通过在底面沿着规定的方向排列多个光栅沟槽而形成的光透过性的模具(28)抵接于被涂布的树脂剂(27)，并且照射光而使树脂剂(27)固化，将形成有多个光栅沟槽的光栅(29)设置于凹部(9)的区域(12)。接着，以覆盖光栅(29)的方式通过蒸镀Al或Au等来设置反射膜(15)。接着，将光检测元件(4)容纳于封装体(2)内。由此，能够容易地制造可靠性高的分光器。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
5036
records
(took 0.055 seconds)
