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公开(公告)号：CN104950145B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201410488418.1
申请日：2014-09-22
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/2887 , G01R1/0433 , G01R31/043 , G01R31/2891 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种分选装置、器件保持器及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座的分选装置，其中包括：执行器，在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前嵌合于器件保持器，调整器件保持器上的被测器件的位置；以及运送部，运送被测器件的位置被调整了的器件保持器与测试用插座相嵌合；器件保持器具有：内部单元，搭载被测器件；外部单元，可移动地保持内部单元；解除按键，随着从搭载被测器件的一侧被按压时，解除内部单元的移动的锁定；执行器按压解除按键使内部单元可移动，调整内部单元的位置。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号：CN104950242B
公开(公告)日：2017-10-17
申请号：CN201410495944.0
申请日：2014-09-24
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2891 , G01C11/00 , G01R1/0441 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：插座嵌合单元，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与测试用插座相嵌合；测试用插座位置检测部，检测在测试用插座与插座嵌合单元相嵌合的状态中插座嵌合单元相对于测试用插座的相对位置；执行器，基于检测到的插座嵌合单元的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。
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公开(公告)号：CN106569051A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610115634.0
申请日：2016-02-29
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 高桥公二
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/3177 , G01R31/31707 , G01R31/318371 , G01R31/31908 , G01R31/31917 , G01R31/31919 , G01R31/31921 , G01R31/00
Abstract: 本发明减少测试装置中设置的模式产生器的数量并且降低测试成本。本发明提供了对被测试装置进行测试的测试装置和测试方法，包括：包发送部，在被测试装置的测试中，将需供给至被测试装置的测试模式进行模式化并进行发送；包传送部，传送由包发送部发送的包；包接收部，接收通过包传送部传送的测试模式；缓冲部，缓冲由包接收部接收的测试模式；以及测试信号供给部，将与从缓冲部得到的测试模式对应的测试信号供给至被测试装置。
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公开(公告)号：CN106556975A
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201610609096.0
申请日：2016-07-29
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G03F7/20
CPC classification number: G03F7/7055 , G03F7/2059 , H01J37/045 , H01J37/3177 , H01J2237/304
Abstract: 本发明使用多根带电粒子束，减小每根粒子束的照射时机的误差从而形成复杂且微细的图案。本发明提供一种曝光装置，其在样品上曝光图案，包括：多个消隐电极，与多根带电粒子束对应设置，根据输入电压而分别切换是否对样品照射对应的带电粒子束；照射控制部，输出用来切换对多个消隐电极分别提供的消隐电压的切换信号；及测量部，针对多个消隐电极分别测量从切换信号的变化到消隐电压的变化为止的延迟量。
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公开(公告)号：CN102798773B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201210169716.5
申请日：2012-05-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 大岛广美
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R31/31937 , G11C29/56012
Abstract: 本发明的目的是确实取得数据并测试。本发明提供一种用于测试输出数据信号和表示数据信号取样时序的时钟信号的被测试器件的测试装置，包括：取得部，以与被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号；缓冲部，具有多个条目，在与被测试器件输出的时钟信号对应的时序中，依次在各条目对被取得部取得的数据信号进行缓冲，以根据该测试装置的测试周期发生的时序信号的时序输出在各条目缓冲后的数据信号；判断部，其将被缓冲部输出的数据信号与期望值进行比较。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104905821A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201510088645.X
申请日：2015-02-26
Applicant: 公立大学法人大阪府立大学 , 公立大学法人大阪市立大学 , 爱德万测试株式会社
IPC: A61B8/08
CPC classification number: A61B5/4872 , A61B8/085 , A61B8/0858 , A61B8/5207 , A61B8/5223 , A61B8/5246
Abstract: 本发明提供脂肪诊断装置，其能够抑制基于被测定者的呼吸、搏动等的周期变动的影响而进行超声波速度变化的测定及脂肪诊断。脂肪诊断装置构成为具备：处理部(21)，其连续获取多帧的超声波回波信号，形成多帧的B模式图像组；数据存储部(15)，其存储与分别在加温前后获取的B模式图像组对应的超声波回波信号；提取部(22)，其在加温前后的任意一方的B模式图像组的帧间计算互相关并将任意1帧作为基准图像提取，并在另一方的B模式图像组的各帧与基准图像之间计算互相关并将任意1帧作为比较图像提取；以及超声波速度变化解析部(23)，其根据与基准图像以及比较图像对应的超声波回波信号计算超声波速度变化从而形成超声波速度变化图像。
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公开(公告)号：CN103207329B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201310005092.8
申请日：2013-01-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R1/02 , G01R31/01 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，具有沿第1方向与被测试器件同数目排列的多个摄像元件，将多个摄像元件沿与第1方向不平行的第2方向，相对于托盘的表面作相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的各个被测试器件的图像，调整被测试器件对插座的位置。
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公开(公告)号：CN103035302B
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201210307998.0
申请日：2012-08-27
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 川上刚
IPC: G11C29/56
CPC classification number: G11C29/56004
Abstract: 本发明公开了一种测试装置，其能对地址进行反转控制。所述测试装置包括：地址发生部，发生被测试存储器的地址；选择部，选择是否将地址发生部发生的地址进行比特反转后，供给至被测试存储器；反转处理部，其在选择部选择了将地址进行比特反转时，将由地址发生部发生的地址比特反转并输出，在选择部选择不将地址比特反转时，将地址发生部发生的地址不进行比特反转而输出；供给部，向被测试存储器提供反转处理部输出的被反转控制后的地址，以及表示反转处理部输出的地址是否是比特反转后的地址的反转周期信号。
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公开(公告)号：CN104597296A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201510039062.8
申请日：2013-01-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R1/0433 , G01R1/0466 , G01R31/01 , G01R31/02 , G01R31/2867 , G01R31/2874 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。
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公开(公告)号：CN102132166B
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN200980133261.8
申请日：2009-08-27
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 泷泽茂树
CPC classification number: G01R31/31725
Abstract: 本发明提供一种布线基板，其用于测定通过将包含第1信号和第2信号的测试信号提供给被测试设备来测试被测试设备的测试装置中的输出管脚之间的偏差，其包括：与应输出第1信号的第1输出管脚耦连的第1端子；与应输出第2信号的第2输出管脚耦连的第2端子；将第1端子和第2端子二者连接起来的连接节点；连接于测量输入信号的过渡定时的定时测量电路的输出节点；连接第1端子和连接节点的第1布线；连接第2端子和连接节点的第2布线；以及连接连接节点和输出节点的第3布线；其中，第1布线和第2布线被形成得长度相同。
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