Abstract:
메모리 장치 및 메모리 프로그래밍 방법이 제공된다. 본 발명의 메모리 장치는 복수의 메모리 셀들을 포함하는 메모리 셀 어레이, 상기 복수의 메모리 셀들에 프로그램될 데이터의 패턴에 기초하여 상기 복수의 메모리 셀들 중 문턱 전압이 변경될 메모리 셀을 식별하는 제어부, 및 상기 식별된 메모리 셀의 문턱 전압이 제1 문턱 전압 구간에 포함될 때까지 상기 식별된 메모리 셀에 프로그램 조건 전압을 인가함으로써 상기 식별된 메모리 셀의 문턱 전압을 조정하는 프로그래밍부를 포함하고, 상기 프로그래밍부는 상기 조정된 문턱 전압을 가지는 메모리 셀에 상기 데이터를 프로그램하며, 이를 통해 문턱 전압의 산포(distribution)의 왜곡(distortion)을 줄일 수 있다. 멀티 비트 셀, 멀티 레벨 셀, FG 커플링, FP 커플링
Abstract:
열교환기에 물을 뿌리는 살수부재를 이용하여 실내를 가습하기 위한 공기조화기에 있어서 열교환기 표면의 스케일을 억제하기 위한 공기조화기의 가습 제어장치 및 방법을 개시한다. 실내 습도와 기준값을 비교하여 가습 모드와 건조 모드 중 어느 하나를 수행하되, 열교환기 표면에서 자연 건조되는 동작을 줄이기 위해 건조 모드에서는 급수 동작을 선택적으로 수행하도록 살수부재에 물을 공급하는 유량밸브의 동작을 제어한다. 이에 따라 열교환기 표면에서 발생할 수 있는 스케일을 억제한다. 열교환기, 가습, 스케일, 건조, 급수
Abstract:
PURPOSE: A semiconductor memory system and a programming method thereof are provided to reduce BPD(Back Pattern Dependency) by randomizing data in a column direction. CONSTITUTION: A semiconductor memory system includes a semiconductor memory device including a storage area and a memory controller which control a program and a read operation in the storage area. A first randomizer changes program data in the storage area into the first random data by using a first sequence of a first cycle(S120). A second randomizer changes the first random data into the second random data by using a second sequence of a second cycle(S140). The first cycle is different from the second cycle. The second random data is provided to a memory cell array(S160).
Abstract:
비휘발성 메모리 셀 프로그래밍 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 비휘발성 메모리 셀의 프로그래밍 방법은, 제1 및 제2프로그래밍 단계, 제3프로그래밍 단계 및 제4 및 제5프로그래밍 단계를 구비한다. 제1 및 제2프로그래밍 단계는, 프로그래밍 대상 데이터의 제1비트와 제2비트 값에 따라, 상기 비휘발성 메모리 셀의 문턱 전압이 제1 내지 제4문턱 전압 분포들 중에서 하나의 문턱 전압 분포에 속하도록 프로그래밍 한다. 제3프로그래밍 단계는, 상기 데이터의 제3비트 값에 따라, 상기 제1비트와 상기 제2비트에 따른 문턱 전압을 그대로 유지시키거나 또는 상기 비휘발성 메모리 셀의 문턱 전압이 제5 내지 제8문턱 전압 분포들 중에서 사전에 정해진 하나의 문턱 전압 분포에 속하도록 프로그래밍 한다. 제4 및 제5프로그래밍 단계는, 상기 제1비트와 상기 제2비트 값에 따라, 상기 비휘발성 메모리 셀의 문턱 전압이 상기 제5 내지 제8문턱 전압 분포들 중에서 하나의 문턱 전압에 속하도록 프로그래밍 한다.
Abstract:
PURPOSE: An apparatus and method for changing a read parameter are provided to reduce an ECC decoding failure by previously changing a lead parameter after a read operation or an ECC decoding of read data is successful. CONSTITUTION: A first data saved in a memory cell array(22) is read by using a read voltage. The read voltage is changed to read a second data saved in a first region of the memory cell array according to a comparison result of a count value of 0 and 1 included in the first data and a reference count value. The changed read voltage information is saved in a second region of the memory cell array. A second data is read by using the changed read voltage corresponding to the information saved in a second region.
Abstract:
PURPOSE: A method for reading data of a nonvolatile memory device is provided to efficiently read the status of memory cells even though a memory cell is a negative threshold voltage. CONSTITUTION: A memory cell of a first page is read to a first read level in a memory cell array(S10). A memory cell of a second page is read to a second read level(S20). The status change of the memory cell of the first page is determined(S30). The status of the memory cells of the second page is corrected by the status change of the memory cell of the first page(S40). The second page is read by applying the corrected status of the memory cells of the second page(S50).
Abstract:
비휘발성 메모리 장치가 개시된다. 상기 비휘발성 메모리 장치는 각각이 복수의 비트들을 저장할 수 있는 복수의 멀티 레벨 셀들을 포함하는 메모리 셀 어레이; 및 제1그룹의 검증 전압 레벨들 중 어느 하나에 따라 상기 복수의 비트들을 제1멀티 레벨 셀에 프로그램하고, 각각이 상기 제1그룹의 검증 전압 레벨들보다 높은 레벨을 가지는 제2그룹의 검증 전압 레벨들 중 어느 하나에 따라, 상기 제1멀티 레벨 셀에 프로그램된 복수의 비트들을 상기 제1멀티 레벨 셀에 재프로그램하도록 제어하는 제어 회로를 포함하며, 상기 제2그룹의 검증 전압 레벨들에 의하여 정의된 제2그룹의 상태들의 갯수는 상기 제1그룹의 검증 전압 레벨들에 의하여 정의된 제1그룹의 상태들의 갯수보다 작다.
Abstract:
본 발명에 따른 불휘발성 메모리의 데이터 처리 방법은, 상기 불휘발성 메모리 장치의 위크 열 정보를 제공받는 단계, 상기 비트들 각각에 대한 확률적인 값을 계산하는 단계, 상기 위크 열 정보에 대응되는 확률적인 값을 수정하는 단계, 수정된 확률적인 값을 이용하여 오류 정정 부호의 복호를 수행하는 단계를 포함한다.