Abstract:
The present invention relates to a III-nitride semiconductor light emitting device. The present invention includes a substrate; a buffer layer formed on the substrate; a first nitride semiconductor layer which is formed on the buffer layer and is doped to have a first conductivity; and a defect reduction layer which is formed between the buffer layer and the first nitride semiconductor layer, blocks the progress of crystal defects or reduces the propagation of the crystal defects which are propagated to the first nitride semiconductor by changing the propagation direction of the crystal defects. According to the present invention, the propagation of crystal defects is reduced, thereby greatly improving an optical property (for examples: IV) and an electrical property (for examples: Vr, Ir).
Abstract:
Disclosed is a light emitting diode which forms light with a long wavelength range and prevents overflow of electrons. A supperlattice layer having a high energy barrier for preventing the overflow of the electrons is formed in an active layer which performs a light emitting operation, and is formed adjacent to an n-type junction layer which supplies the electrons. In addition, an n junction supperlattice layer having a high energy barrier can be formed between the n-type junction layer and the active layer.
Abstract:
복수의 GaN 조각을준비하는단계; 제조하고자하는대면적질화물기판의크기에상응하여복수의 GaN 조각을로더상에서로이격시켜배치하는단계; 상기서로이격된복수의 GaN 조각의측면에 GaN을성장시켜상기복수의 GaN 조각사이에 GaN 머지영역을형성하는단계; 상기 GaN 조각및 상기 GaN 머지영역을덮도록상부 GaN층을형성하는단계; 및상기복수의 GaN 조각, GaN 머지영역, 상기상부 GaN층으로이루어진대면적질화물기판을상기로더로부터분리하는단계를포함하는조각 GaN을이용한대면적질화물기판의제조방법이제공된다.
Abstract:
본 발명의 일 실시예는 상기 기판상에 탄소 나노 튜브 도전층을 형성하는 탄소 나노 튜브 도전층 제조 방법에 관한 것으로서, 복수 개의 탄소 나노 튜브를 구비하는 분산액을 제조하는 단계, 상기 분산액에 대하여 원심 분리 공정을 진행하는 단계, 상기 원심 분리 공정을 거친 분산액을 기판에 대하여 성막하는 단계, 상기 성막 단계를 진행하여 형성된 막의 표면에 대하여 활성화 공정을 진행하는 단계, 적어도 금속 원소를 포함하는 도금액을 준비하는 단계, 상기 활성화를 진행한 기판을 상기 도금액에 넣어 도금 공정을 진행하는 단계 및 상기 기판에 대하여 열처리를 구비하는 후처리 공정을 진행하는 단계를 포함하는 탄소 나노 튜브 도전층 제조 방법을 개시한다.
Abstract:
Provided is a manufacturing method of a vertical light emitting diode which includes the steps of: forming a buffer layer on a growth substrate; forming a light-emitting structure including an active layer on the buffer layer; attaching a flexible support substrate on the light-emitting structure; and separating the light-emitting structure from the growth substrate by selectively removing the buffer layer using an etching solution.
Abstract:
본발명은질화물발광다이오드제조방법에관한것으로서, [110] 또는 [100] 결정방향을가지는 Si 기판을이용하여기판표면에요철구조를형성하고, 형성된요철구조의표면이 [111] 결정방향을가지도록함으로써, 우수한 GaN 박막성장이가능할뿐만아니라, 추가적인구조가없어도스트레인(strain)을스스로제어할수 있는고출력의질화물발광다이오드제조방법을제공함에그 목적이있다. 이러한목적을달성하기위한본 발명은, (a) [110] 결정방향을가지는 Si 기판상부에마스크를증착하는단계; (b) 포토레지스트패터닝및 건식식각을수행하여상기기판에마스크패턴을형성하는단계; (c) 상기기판을이방성습식식각하여, 측면이 [111] 결정방향을가지는요철구조를형성시키는단계; (d) 상기요철구조(30)의표면과기판의상면에 AIN 버퍼층을성장시키는단계; (e) 상기요철구조의측면방향([111] 결정방향)에서초기 GaN 박막을성장시키는단계; 및 (f) 성장된 GaN 박막이서로머징(merging)될경우, 측면방향으로의성장을억제시키고, 수직방향으로 GaN 박막을성장시키는 GaN 박막평탄화성장을수행하는단계; 를포함한다.
Abstract:
PURPOSE: A method for manufacturing the structure of a reflection layer and the structure manufactured by the method, and a light emitting diode for the same are provided to optimize reflectivity and light extraction efficiency and to secure a high efficiency LED. CONSTITUTION: A light emitting structure(130) includes a first electrode(101), a first conductive semiconductor layer(102), an active layer(103), and a second conductive semiconductor layer(105). A contact layer(106) is formed in the lower part of the second conductive semiconductor layer. The contact layer maximizes the scattered reflection effect of the light coming from the outside. A reflector(107) is formed under the contact layer or the light emitting structure. The reflector mainly reflects specific wavelength light.