Abstract:
본 발명은 반도체 소자 제조 방법에 관한 것으로, InP 기판위에 조성비가 서로 다른 [In(x)Al(1-x)As/In(y)Al(1-y)As] 다층 박막으로 이루어진 수직형 인공초격자를 형성하고, 그 위에 InP층을 형성하여 양자선을 제조하며 이렇게 형성된 InP/InAlAs/InP를 다층으로 형성하여 더욱 향상된 특성을 갖는 양자선을 제조함으로써 양자선의 패킹 밀도를 높힐 수 있으며 양질의 초격자 구조를 생성할 수 있고, 단순한 에피성장 조건을 바꾸어 비교적 여러 가지 크기의 초격자 구조를 제조 할 수 있는 양자선 제조 방법이 제시된다.
Abstract:
본 발명은 장파장 표면방출 레이저 칩 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 광 펌핑으로 동작되는 장파장 레이저 칩을 전기적으로 동작되는 단파장 표면방출 레이저 칩으로 광 펌핑하여 장파장 레이저 빔을 방출함으로써, 레이저 칩의 성장이 간단해지고, 광 펌핑 후 잔류된 단파장 레이저 빔을 InP 기판에서 흡수하므로 자동적으로 여과될 수 있도록 한 장파장 표면방출 레이저 칩 및 그 제조 방법이 개시된다.
Abstract:
PURPOSE: A variable wavelength surface emission type semiconductor laser using heating type is provided to obtain low manufacturing costs and high operation efficiency at high temperature by simplifying a peak modulation without an expensive monochromator and a thermoelectric cooler. CONSTITUTION: A substrate is made of indium phosphide. The substrate is formed in turn a lower distributed bragg reflector, an active layer and an upper distributed bragg reflector on the surface thereof. The active layer has a multiple quantum well structure consisting of a plurality of indium aluminum arsenic gallium barrier layers and indium gallium arsenic quantum well layers. The lower and upper reflectors are formed by organic metal chemical vapor deposition. The active layer is also formed by organic metal chemical vapor deposition. The lower and upper reflectors has a plurality of indium aluminum arsenic layers and indium aluminum gallium layers.
Abstract:
PURPOSE: An epitaxial growth system for vertical cavity surface emitting laser using a real-time laser reflectance detector and a method for manufacturing the vertical cavity surface emitting laser using the system is provided to guarantee a reproducibility of an epitaxial growth without information such as refraction ratio of the epitaxial layer. CONSTITUTION: An epitaxial growth system for vertical cavity surface emitting laser using a real-time laser reflectance detector and a method for manufacturing the vertical cavity surface emitting laser using the system include a reactor, a laser illuminator, and a detector. The laser illuminator illuminates the laser on a board(18) in the reactor to detect the real-time reflectance. The detector detects a reflected signal of the illuminated laser. The wavelength of the laser is in a same range as the wavelength of the vertical cavity surface emitting laser.
Abstract:
PURPOSE: A surface transmission type optical switch of one dimension array method is provided to reduce an optical loss and preserve a device as small by performing a consecutive optical amplification of a fabry-perot type through an optical amplifier. CONSTITUTION: A laser thin film structure comprises two distributed bragg reflectors on an InP substrate(11) and an active layer(14) having a resonance layer inside. Lower DBRs(12,13) form 35 cycles and upper DBRs(15,16) form 30 cycles. The active layer(14) has a resonance transmission multi-layer quantum well structure consisting of 3¯9 InAlAs barrier layers and InGaAs quantum well layers. The highest layer(13) of lower DBRs is doped with an n-type and a lower layer(15) of upper DBRs(15,16) is doped with a p-type to reduce a series resistance and maximize the free carrier absorption. Other layers are not doped.
Abstract:
상이한 파장을 갖는 두개의 레이저빔을 성장 중인 막에 동시에 투사하고, 성장중의 막으로부터 반사된 두개의 반사빔들 각각의 간섭패턴주기를 분석하여 막의 두께와 조성을 모니터링한다. 막으로 부터 반사되는 두개의 반사광을 각각 검출하기 위한 광검출기로서, 단파장용 레이저빔의 검출에 적합한 실리콘검출기와 장파장용 레이저빔의 검출에 적합한 저매늄검출기를 이용하여, 동시에 서로 상이한 파장용 두 반사광을 감지하여 실시간으로 막의 두께 및 조성을 측정한다.
Abstract:
갈륨비소(GaAs) 기판위에 알루미늄 비소(AlAs)와 갈륨비소(GaAs) 초격자거울(distributed Brag reflector)을 하단부에 성장시키고 그위에 조성 그레이딩 방법으로 인디움갈륨비소(InGaAs) 버퍼층을 성장시킨 후, 격자 부정합이 크나 전위없는 인디움 인(InP)층과 활성층인 인디움갈륨비소(InGaAs) 양자우물구조(quantum well)를 성장시키고 그 위에 인디움알루미늄비소(InAlAs)와 인디움갈류비소(InGaAs) 초격자거울을 생성하는 방법이다. 하단부 거울은 굴절율 차이가 크며 열전도율이 매우 좋아 구조상 이상적이며 활성층과 상단부거울은 광자와 전자의 구속력이 좋고 굴절율 차이도 비교적 좋아 상단부로 레이징하기에 적합하여 상온 연속발진이 가능하다.
Abstract:
상이한 파장을 갖는 두개의 레이저빔을 성장 중인 막에 동시에 투사하고, 성장중의 막으로부터 반사된 두개의 반사빔들 각각의 간섭패턴주기를 분석하여 막의 두께와 조성을 모니터링한다. 막으로부터 반사되는 두개의 반사광을 각각 검출하기 위한 광검출기로서, 단파장용 레이저빔의 검출에 적합한 실리콘검출기와 장파장용 레이저빔의 검출에 적합한 저매늄검출기를 이용하여, 동시에 서로 상이한 파장용 두 반사광을 감지하여실시간으로 막의 두께 및 조성을 측정한다.