公开(公告)号：DE102012219237A1

公开(公告)日：2014-04-24

申请号：DE102012219237

申请日：2012-10-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN ,  MÜLLER-RENTZ ARNOLD ,  BAUER TOBIAS ,  HERMANNS KLAUS

IPC: G02B21/06

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine Beleuchtungseinrichtung für ein optisches Gerät, insbesondere ein Mikroskop oder Makroskop, wobei von einer Beleuchtungsquelle emittiertes Licht über einen Beleuchtungsstrahlengang auf ein zu beleuchtendes Objekt gegeben wird, wobei wenigstens eine in dem Beleuchtungsstrahlengang positionierbare transparente oder semitransparente, selbstleuchtende Schicht.

公开(公告)号：DE102019108611B3

公开(公告)日：2020-08-06

申请号：DE102019108611

申请日：2019-04-02

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WEISS ALEXANDER ,  HITZLER SEBASTIAN ,  SCHUMANN CHRISTIAN

IPC: G02B21/02 ,  G01K7/16 ,  G01N27/22 ,  G02B21/24 ,  G02B21/33 ,  G05D9/12

Abstract: Beschrieben ist eine Zuführvorrichtung für ein Immersionsmedium zur Verwendung mit einem Objektiv, durch das ein Präparat mikroskopisch abbildbar ist, umfassend eine an dem Objektiv lösbar oder fest angebrachte Kappe, die einen Aufnahmeraum für das Immersionsmedium begrenzt, wobei die Kappe eine Austrittsöffnung aufweist, die auf ein dem Präparat zugewandtes optisches Element des Objektivs ausgerichtet ist und durch die das in dem Aufnahmeraum gehaltene Immersionsmedium einem Zielraum, der sich zwischen dem optischen Element des Objektivs und dem Präparat befindet, zuführbar ist, und einen in der Kappe integrierten Sensor mit einer Elektrodenstruktur zum Erfassen der zugeführten Menge an Immersionsmedium. Die Elektrodenstruktur umschließt die Austrittsöffnung zumindest teilweise und hat einen räumlichen Erfassungsbereich, der sich in radialer Richtung von der Austrittsöffnung weg erstreckt.

公开(公告)号：DE102019109207B3

公开(公告)日：2020-06-18

申请号：DE102019109207

申请日：2019-04-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： PELZER PATRIC ,  SCHUMANN CHRISTIAN

IPC: G02B21/34 ,  B01L3/00

Abstract: Eine Vorrichtung zur Aufnahme von Proben in einem Mikroskop, mit einer Mikrotiterplatte, umfassend ein Innenteil mit Kavitäten für die Proben und einer optisch transparenten Bodenplatte, welche die Kavitäten von unten verschließt, und einen Rahmen, der eine Auflagefläche definiert und ausgebildet ist, das Innenteil in zumindest einer ersten Position zu halten. Die Bodenplatte ist in der ersten Position des Innenteils oberhalb der Auflagefläche angeordnet. Das Innenteil ist relativ zu dem Rahmen längs einer Richtung senkrecht zu der Auflagefläche bewegbar.

公开(公告)号：DE102018126009A1

公开(公告)日：2020-04-23

申请号：DE102018126009

申请日：2018-10-19

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WEISS ALEXANDER ,  SCHUMANN CHRISTIAN ,  CAPELLMANN RONJA

IPC: G02B21/00 ,  G01B11/27

Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur Bestimmung der Dicke eines Deck- oder Tragglases (24) in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv aufweist. In dem Probenraum (14) grenzen zwei optische Medien (26, 28) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) des Deck- oder Tragglases (24) grenzen und bilden dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind. Ein Messlichtbündel (34) wird durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (24) gelenkt. Zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) werden erzeugt, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird. Die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) werden durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) geleitet. Die Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) auf dem positionssensitiven Detektor (60) werden erfasst. Auf Grundlage der erfassten Einfallsorte der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) wird die Dicke des Deck- oder Tragglases (24) ermittelt.

公开(公告)号：DE102017128773A1

公开(公告)日：2019-06-06

申请号：DE102017128773

申请日：2017-12-04

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN

IPC: G02B21/00 ,  G02B6/00 ,  G02B6/02 ,  G02B21/06

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Detektoranordnung (100) zur Detektion von Detektionslicht aus einem mikroskopischen Beobachtungsstrahlengang mit mindestens einem Detektor (102) mit einer rechteckigen oder quadratischen lichtsensitiven Detektionsfläche (104) zur Detektion des Detektionslichtes und mit einem Lichtleiter (110) mit nicht-rundem Querschnitt zur Übertragung des Detektionslichtes an den Detektor sowie ein Konfokalmikroskop mit einer solchen Detektoranordnung.

公开(公告)号：DE102016123258B4

公开(公告)日：2018-07-19

申请号：DE102016123258

申请日：2016-12-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN

IPC: G01N21/63 ,  G01N21/64 ,  G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Lumineszenzdetektoranordnung zum Detektieren eines Lumineszenzsignals mit einem Sensorelement (118) mit zumindest einem Multitap-Pixel mit zumindest einer ersten Speicherzelle und einer zweiten Speicherzelle, wobei das Sensorelement (118) dazu eingerichtet ist, das Multitap-Pixel in einem ersten Zeitintervall (208) mittels der ersten Speicherzelle auszulesen und in einem vom ersten Zeitintervall (208) verschiedenen zweiten Zeitintervall (209) mittels der zweiten Speicherzelle auszulesen. Ferner weist die Lumineszenzdetektoranordnung eine Lichtquelle (104) auf, welche dazu eingerichtet ist, ein erstes Emissionslicht in zumindest einem ersten Spektralbereich zu emittieren und unabhängig davon ein zweites Emissionslicht in einem zweiten Spektralbereich zu emittieren, wobei der erste Spektralbereich und der zweite Spektralbereich zumindest teilweise voneinander verschieden sind, wobei die Lichtquelle (104) mit dem Sensorelement (118) synchronisiert ist, um in dem ersten Zeitintervall (208) das erste Emissionslicht zu emittieren und in dem zweiten Zeitintervall (209) das zweite Emissionslicht zu emittieren; und wobei die Lumineszenzdetektoranordnung ferner dazu eingerichtet ist, ein durch das erste Emissionslicht und durch das zweite Emissionslicht hervorgerufenes Lumineszenzsignal mit dem Sensorelement (118) zu detektieren. In einem weiteren Aspekt betrifft die Erfindung ein Fluoreszenzmikroskop und ein Verfahren zum Detektieren eines Lumineszenzsignals.

公开(公告)号：DE102016117675B4

公开(公告)日：2018-07-05

申请号：DE102016117675

申请日：2016-09-20

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/00 ,  G02B21/24

Abstract: Beschrieben ist ein Beleuchtungsmodul (12) für ein Mikroskop (10) mit einem Fokussiertrieb (20), durch den ein Detektionsobjektiv (24) des Mikroskops (10) längs seiner optischen Achse (O) verschiebbar ist. Das Beleuchtungsmodul umfasst eine Lichtquellenanordnung (34), die ausgebildet ist, eine lichtblattartige Beleuchtungslichtverteilung (48) zu erzeugen, und ein Beleuchtungsobjektiv (36), das ausgebildet ist, eine Probe (26) mit der lichtblattartigen Beleuchtungslichtverteilung (48) zu beleuchten. Das Beleuchtungsmodul (12) hat eine Ankoppelvorrichtung (38), die ausgebildet ist, das Beleuchtungsmodul (12) zur gleichlaufenden Verschiebung mit dem Detektionsobjektiv (24) an den Fokussiertrieb (20) des Mikroskops (10) anzukoppeln.

公开(公告)号：DE102016103182B4

公开(公告)日：2018-04-12

申请号：DE102016103182

申请日：2016-02-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/06 ,  G02B21/24

Abstract: Lichtblattmikroskop (10), umfassend: – eine Beleuchtungsoptik (12) zum Erzeugen eines Lichtblatts in einem Zwischenbildraum (18), – eine beidseitig telezentrisch ausgebildete Transportoptik (14) zum Abbilden des in dem Zwischenbildraum (18) erzeugten Lichtblatts in eine Probe und zum Abbilden eines mit dem Lichtblatt beleuchteten Bereichs der Probe als Zwischenbild in den Zwischenbildraum (18), und – eine Detektionsoptik (16) zum Abbilden des in dem Zwischenbildraum (18) erzeugten Zwischenbildes auf einen Detektor (30), – wobei die optischen Achsen (O1, O2, O3) der Beleuchtungsoptik (12), der Transportoptik (14) und der Detektionsoptik (16) einander in dem Zwischenbildraum (18) schneiden, – gekennzeichnet durch ein in der Transportoptik (14) angeordnetes Abtastelement (50), durch welches das Lichtblatt in der Probe quer zur optischen Achse (O2) der Transportoptik (14) bewegbar ist.

公开(公告)号：DE102014110208A1

公开(公告)日：2016-01-21

申请号：DE102014110208

申请日：2014-07-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHULZ CHRISTIAN ,  SCHUMANN CHRISTIAN ,  GONSCHIOR CORNELL ,  BAUER TOBIAS

IPC: G02B21/02 ,  G02B3/04 ,  G02B21/24

Abstract: Beschrieben ist ein Mikroskop (21, 40, 60) mit mindestens einer in einem Strahlengang angeordneten Korrektionseinheit (10) zum Korrigieren eines veränderlichen sphärischen Abbildungsfehlers. Die Korrektionseinheit (10) umfasst mindestens ein optisches Korrektionselement (12), das in einem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs längs der optischen Achse (O) verschiebbar angeordnet ist. Das optische Korrektionselement (12) hat eine Korrektionsfläche (18), deren von dem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs durchsetzter Teil einen korrektionswirksamen Flächenabschnitt (20) bildet, dessen radiale Ausdehnung quer zur optischen Achse (O) durch Verschieben des Korrektionselementes (12) längs der optischen Achse (O) änderbar ist.

公开(公告)号：DE102014101762A1

公开(公告)日：2015-08-13

申请号：DE102014101762

申请日：2014-02-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN ,  MÜLTER ANDREA

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/24

Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zum mikroskopischen Abbilden einer Volumenprobe (16), bei dem ein Mikroskopobjektiv (12) nacheinander auf mindestens zwei Referenzebenen fokussiert wird, die sich innerhalb der Volumenprobe (16) längs der optischen Achse (O) des Mikroskopobjektivs (12) in unterschiedlichen Volumenprobentiefen befinden; für jede Referenzebene eine Referenzeinstellung eines Korrektionsgliedes (18) ermittelt wird, bei der ein von der Volumenprobentiefe abhängiger Abbildungsfehler durch das Korrektionsglied (18) korrigiert ist; auf Grundlage der ermittelten Referenzeinstellungen für mindestens eine Zielebene in der Volumenprobe eine Zieleinstellung für das Korrektionsglied (18) bestimmt wird, in welcher der in der Volumenprobentiefe der Zielebene auftretende Abbildungsfehler durch das Korrektionsglied (18) korrigiert ist; und zum Abbilden der Volumenprobe (16) das Mikroskopobjektiv (12) auf die Zielebene fokussiert und das Korrektionsglied (18) in die Zieleinstellung gebracht wird.