公开(公告)号：DE102009048710B4

公开(公告)日：2020-04-02

申请号：DE102009048710

申请日：2009-10-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND DIPL -ING ,  SEYFRIED VOLKER DR ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B21/06 ,  F21V9/40 ,  G02F1/01 ,  G05F1/10

Abstract: Lasersystem (20) für ein Mikroskop,mit einem Lasermodul (22), das einen Lichtstrahl (24) erzeugt,einer Strahlkorrekturvorrichtung (26), die der Lichtstrahl (24) durchdringt und die eine Abweichung eines Ist-Werts mindestens eines Parameters des Lichtstrahls (24) von einem vorgegebenen Soll-Wert des Parameters korrigiert, wobei die Strahlkorrekturvorrichtung (26) einen Frequenzumsetzer (45) aufweist, mittels dessen eine Frequenz des Lichtstrahls in eine vorgegebene Frequenz umgesetzt wird,einem Lichtleiter (31), in den der korrigierte Lichtstrahl (28) eingekoppelt wird,einem Messelement (34), das dem Lichtleiter (31) nachgeschaltet ist und das einen Ist-Wert der Intensität zumindest eines Teilstrahls (32) des korrigierten Lichtstrahls (28) erfasst,und mit einer äußeren Regeleinrichtung (37), die mit einer Energieversorgung (39) des Lasermoduls (22) und mit dem Messelement (34) gekoppelt ist und die mittels der Energieversorgung (39) den Ist-Wert der Intensität auf einen vorgegebenen Soll-Wert der Intensität regelt.

公开(公告)号：DE102010017630B4

公开(公告)日：2016-06-02

申请号：DE102010017630

申请日：2010-06-29

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： DYBA MARCUS DR ,  SEYFRIED VOLKER DR

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

Abstract: Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung einer Probenstruktur (2, 34), mit folgenden Schritten: Präparieren der Probenstruktur (2, 34) mit Markern, die in einen lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführbar sind, Erzeugen einer Sequenz von Einzelbild-Datensätzen durch sequentielles Abbilden der Probenstruktur (2, 34) derart, dass für jede Abbildung jeweils nur eine Teilmenge der Gesamtheit der Marker in den lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführt wird, wobei die Marker der jeweiligen Teilmenge einen mittleren Abstand voneinander haben, der größer ist als die Auflösungsgrenze der lichtmikroskopischen Abbildung, welche die Ausdehnung einer den jeweils abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilung bestimmt, Erzeugen von mindestens zwei Datenblöcken, in denen jeweils mehrere aufeinander folgende Einzelbild-Datensätze zusammengefasst sind, Überlagern der in dem jeweiligen Datenblock enthaltenen Einzelbild-Datensätze zu einem Überlagerungsbild-Datensatz, Ermitteln eines Bildversatzes zwischen den Überlagerungsbild-Datensätzen, Korrigieren der Einzelbild-Datensätze, die in mindestens einem der Überlagerungsbild-Datensätze enthalten sind, an Hand des ermittelten Bildversatzes, Bestimmen von Schwerpunktpositionen der die abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilungen und Zusammensetzen der Schwerpunktpositionen zu einem versatzkorrigierten Gesamtbild.

公开(公告)号：DE10313988B4

公开(公告)日：2014-03-27

申请号：DE10313988

申请日：2003-03-27

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  STORZ RAFAEL DR

IPC: G01M11/02 ,  G02B21/00

Abstract: Verfahren zur Prüfung der Qualität von Mikroskopen, wobei das Mikroskop mindestens eine Lichtquelle (1), einen das Licht zur Probe (5) führenden Beleuchtungsstrahlengang (6), einen Detektor (7) und einen das Detektionslicht von der Probe (5) zum Detektor (7) führenden Detektionsstrahlengang aufweist, umfassend die folgenden Verfahrensschritte: – Zurverfügungstellen einer Prüfprobe (5) aus phosphoreszierendem Material (10), – Anregen der Phosphoreszenz, – Detektieren des von der Probe (5) emittierten und über den Detektionsstrahlengang zum Detektor (7) kommenden Lichts und – Auswerten der detektierten Signale, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzeugung einer über einen Zeitraum konstant bleibenden Lichtausbeute die Phosphoreszenz bis in die Sättigung der Probe (5) angeregt wird, dass die ausgewerteten Signale zur Prüfung mikroskopspezifischer Eigenschaften, nämlich Bildhelligkeit, Auflösung, Bildausleuchtung und/oder Effizienz mit vorgegebenen oder vorgebbaren Daten verglichen werden und dass das Rauschen eines oder mehrerer Bildpunkte oder das Rauschen zu einem Zeitpunkt innerhalb einer Fläche oder zwischen mehreren Punkten über die Zeit bestimmt und zum Erhalt des Signal-zu-Rausch-Verhältnisses des Detektionsstrahlengangs mit den detektierten Signalen ins Verhältnis gesetzt wird, um damit die Güte des Detektionsstrahlengangs zu prüfen.

公开(公告)号：DE102011107645A1

公开(公告)日：2013-01-17

申请号：DE102011107645

申请日：2011-07-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  BIRK HOLGER

IPC: G02B21/00 ,  G01J1/42 ,  H01L27/146

Abstract: Eine Vorrichtung zum Detektieren von Licht, insbesondere zur Anwendung in einem Mikroskop, einem Spektrometer oder einer Kamera umfasst mindestens einen Silicon Photomultiplier (SiPM), der aus einer Anordnung (Array) mehrerer Single Photon Avalanche Dioden (SPAD) besteht, wobei das Array eine größere Fläche als das auftreffende Licht aufweist und wobei nur diejenigen SPADs aktiviert und/oder ausgewertet werden, die mit einer bestimmten Mindestintensität von Licht beaufschlagt werden. Ein Verfahren nutzt diese Vorrichtung.

公开(公告)号：DE102009057304B4

公开(公告)日：2025-01-23

申请号：DE102009057304

申请日：2009-12-07

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  SEYFRIED VOLKER DR

IPC: G02B21/00 ,  H10F30/225 ,  H10F77/00

Abstract: Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe (30), umfassend ein Mikroskop,mit einer Lichtquelle (22), die einen Beleuchtungslichtstrahl (23) erzeugt, einer Scaneinheit (24), die den über ein Objektiv auf die Probe (30) gelenkten Beleuchtungslichtstrahl (23) ablenkt und dadurch einen Fokusbereich des Beleuchtungslichtstrahls (23) innerhalb eines vorgegebenen Scanfelds auf oder in der Probe (30) bewegt,mit einer ersten Detektoranordnung (38), die zwei oder mehr photosensitive Halbleiterelemente (50) umfasst und die einen von der Probe (30) in Beleuchtungsrichtung ausgehenden und von der Scaneinheit (24) nicht abgelenkten ersten Detektions-Lichtstrahl (40) detektiert und wobei die Vorrichtung gekennzeichnet ist,dass die Vorrichtung mindestens eine zweite Detektoranordnung (36) umfasst, die zwei oder mehr photosensitive Halbleiterelemente (50) umfasst und die einen von der Probe (30) entgegen der Beleuchtungsrichtung ausgehenden und von der Scaneinheit (24) nicht abgelenkten zweiten Detektions-Lichtstrahl (31) detektiert,dass die zwei oder mehr Halbleiterelemente (50) der ersten und der zweiten Detektoranordnung (36, 38) jeweils parallel geschaltet und jeweils über eine gemeinsame Ausgangsleitung mit einer Auswerteeinheit verbunden sind,wobei die Halbleiterelemente (50) jeweils eine Lawinenfotodiode aufweisen, die oberhalb ihrer Durchbruchspannung im Geigermodus betrieben wird.

公开(公告)号：DE10233549B4

公开(公告)日：2021-10-14

申请号：DE10233549

申请日：2002-07-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： STORZ RAFAEL DR ,  SEYFRIED VOLKER DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Scanmikroskop mit einer Lichtquelle, die einen Beleuchtungslichtstrahl zum Beleuchten einer Probe emittiert, der entlang eines Beleuchtungsstrahlenganges verläuft und der mit einer Strahlablenkeinrichtung über oder durch die Probe führbar ist, und mit einem Detektor, der von der Probe ausgehendes Detektionslicht, das entlang eines Detektionsstrahlenganges verläuft, empfängt, und mit einer weiteren Lichtquelle, die einen Manipulationslichtstrahl, der entlang eines Manipulationsstrahlenganges verläuft, erzeugt, wobei der Manipulationslichtstrahl ebenfalls von der Strahlablenkeinrichtung über oder durch die Probe führbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass der Manipulationslichtstrahl dem Beleuchtungslichtstrahl durch Einstellen des Winkels zwischen dem Beleuchtungslichtstrahl und dem Manipulationslichtstrahl vorauseilend geführt ist.

公开(公告)号：DE102010017630A1

公开(公告)日：2011-12-29

申请号：DE102010017630

申请日：2010-06-29

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： DYBA MARCUS DR ,  SEYFRIED VOLKER DR

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00

Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur lichtmikroskopischen Abbildung einer Probenstruktur (2, 34), mit folgenden Schritten: Präparieren der Probenstruktur (2, 34) mit Marker, die in einen lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführbar sind, Erzeugen einer Sequenz von Einzelbild-Datensätzen durch sequentielles Abbilden der Probenstruktur (2, 34) derart, dass für jede Abbildung jeweils nur eine Teilmenge der Gesamtheit der Marker in den lichtmikroskopisch abbildbaren Zustand überführt wird, wobei die Marker der jeweiligen Teilmenge einen mittleren Abstand voneinander haben, der größer ist als die Auflösungsgrenze der lichtmikroskopischen Abbildung, welche die Ausdehnung einer den jeweils abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilung bestimmt, Erzeugen von mindestens zwei Datenblöcken, in denen jeweils mehrere aufeinander folgende Einzelbild-Datensätze zusammengefasst sind, Überlagern der in dem jeweiligen Datenblock enthaltenen Einzelbild-Datensätze zu einem Überlagerungsbild-Datensatz, Ermitteln eines Bildversatzes zwischen den Überlagerungsbild-Datensätzen, Korrigieren der Einzelbild-Datensätze, die in mindestens einem der Überlagerungsbild-Datensätze enthalten sind, an Hand des ermittelten Bildversatzes, Bestimmen von Schwerpunktpositionen der die abgebildeten Marker darstellenden Lichtverteilungen und Zusammensetzen der Schwerpunktpositionen zu einem versatzkorrigierten Gesamtbild.

公开(公告)号：DE102010016598A1

公开(公告)日：2011-10-27

申请号：DE102010016598

申请日：2010-04-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  KNEBEL WERNER DR

IPC: G01N21/64

Abstract: Zum Untersuchen einer Probe (30) mit Hilfe eines Mikroskops (20) werden mit Hilfe eines ersten Beleuchtungslichtstrahls (24) Farbstoffpartikel (40, 42) in der Probe (30) zum Fluoreszieren angeregt. Von der Probe (30) ausgehendes Fluoreszenzlicht wird über eine optische Anordnung (34) auf einen Flächensensor (36) gerichtet, wobei die optische Anordnung (34) so auf das Fluoreszenzlicht wirkt, dass Teilstrahlen des Fluoreszenzlichts mit sich selbst interferieren, so dass aufgrund der Interferenz entstehende Interferenzmuster auf einer sensitiven Oberfläche des Flächensensors (36) abgebildet und von diesem erfasst werden. Abhängig von den Interferenzmustern werden Positionen der Farbstoffpartikel (40, 42) innerhalb der Probe (30) ermittelt.

公开(公告)号：DE102010007728A1

公开(公告)日：2011-09-29

申请号：DE102010007728

申请日：2010-02-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER DR

IPC: G02B21/00 ,  G01B9/04 ,  G01B11/24

Abstract: Eine Vorrichtung zum Scannen eines Objekts hat eine Fokussieroptik (30), die einen Beleuchtungslichtstrahl (24) auf einen zu untersuchenden Bereich des Objekts fokussiert. Eine Aktoranordnung ist mit der Fokussieroptik (30) gekoppelt und bewegt die Fokussieroptik (30) gemäß einem vorgegebenen Abtastmuster quer zu einer Mittelachse des Beleuchtungslichtstrahls (24) in einer Referenzposition des Beleuchtungslichtstrahls (24). Ein Frontglas (38) ist in Richtung des Beleuchtungslichtstrahls (24) gesehen nach der Fokussieroptik (30) angeordnet. Ein internes Immersionsmedium (40) ist zwischen der Fokussieroptik (30) und dem Frontglas (38) angeordnet. Zwischen dem Frontglas (38) und dem Objekt kann ein externes Immersionsmedium (48) eingebracht werden.