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    Scanmikroskop
    14.
    发明专利
    Scanmikroskop 未知

    公开(公告)号：DE102004058565B4

    公开(公告)日：2022-04-21

    申请号：DE102004058565

    申请日：2004-12-03

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR ,  FEHRER DIRK-OLIVER ,  KRESS CLAUS

    IPC: G02B21/00 ,  G02B21/28 ,  G02B26/10 ,  H05K7/20

    Abstract: Scanmikroskop mit einer Scaneinrichtung (1), einer Detektionseinrichtung (2), einer Elektronik (3) zum Betreiben des Scanmikroskops und einer Kühleinrichtung (4) für die Scaneinrichtung (1) und die Detektionseinrichtung (2), wobei die Kühleinrichtung (4) mit einem flüssigen Kühlmedium betreibbar ist, wobei die Kühleinrichtung (4) ein oder mehrere an zu kühlende Stellen der Scaneinrichtung (1) und der Detektionseinrichtung (2) angekoppelte Module oder Kühlmodule (6) aufweist und wobei das oder die Module oder Kühlmodule (6) mittels des Kühlmediums durchströmbar sind.

    18.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号：AT313096T

    公开(公告)日：2005-12-15

    申请号：AT01114039

    申请日：2001-06-08

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR ,  ENGELHARDT JOHANN DR

    IPC: G02B6/02 ,  G02B6/122 ,  G02B6/255 ,  G02B21/00 ,  G02B21/06 ,  G02B27/00 ,  H01S3/00 ,  H01S3/16

    Abstract: The arrangement for studying microscopic preparations with a scanning microscope consists of a laser (1) and an objective (12), which focuses the light produced by the laser (1) onto a sample (13) to be studied, an optical waveguide element (3), which transports the light produced by the laser (1), being provided between the laser (1) and the objective (12). The optical waveguide element is constructed from a plurality of micro-optical structure elements which have at least two different optical densities. It is particularly advantageous if the optical waveguide element (3) consists of photonic band gap material and is configured as an optical fiber.

    Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts
    19.
    发明专利
    Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts 未知

    公开(公告)号：DE10257120B4

    公开(公告)日：2020-01-16

    申请号：DE10257120

    申请日：2002-12-05

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： KNEBEL WERNER DR ,  BIRK HOLGER DR ,  STORZ RAFAEL DR

    IPC: G02B21/00 ,  G01J3/36 ,  G01N21/64 ,  G02F1/33

    Abstract: Rastermikroskop zum Abbilden eines Objekts (1), mit einer Lichtquelle (2), einem nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Element (8), einer nahezu stufenlos variabel einstellbaren spektral selektiven Detektionseinrichtung (4), einem von der Lichtquelle (2) bis zum Objekt (1) verlaufenden Beleuchtungsstrahlengang (3), einem vom Objekt (1) zur Detektionseinrichtung (4) verlaufenden Detektionsstrahlengang (5), wobei mit dem spektral selektiven Element (8) Licht der Lichtquelle (2) zur Objektbeleuchtung selektierbar ist, wobei mit dem spektral selektiven Element (8) das am Objekt (1) reflektierte und/oder gestreute selektierte Licht der Lichtquelle (2) aus dem Detektionsstrahlengang (5) ausblendbar ist, wobei zumindest ein Wellenlängenbereich des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts mit der spektral selektiven Detektionseinrichtung (4) detektierbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang (3) eine Beleuchtungsspaltblende (11) vorgesehen und dazu ausgelegt ist, in einem Bereich des Objekts (1) ein linienförmiges Beleuchtungsmuster zu erzeugen, dass im Detektionsstrahlengang (5) eine Detektionsspaltblende (13) vorgesehen und dazu ausgelegt ist, von dem linienförmigen Beleuchtungsmuster in einer Fokalebene herrührendes Licht zu empfangen, um einen konfokalen Spaltscanner bereitzustellen, dass die Spaltlänge und/oder die Spaltbreite der Beleuchtungsspaltblende (11) und/oder der Detektionsspaltblende (13) variabel einstellbar ist, und dass die spektral selektive Detektionseinrichtung (4) Mittel (23) zur spektralen Zerlegung des im Detektionsstrahlengang (5) verlaufenden Lichts, Mittel (24, 40) zum Selektieren eines ersten Spektralbereichs (25) zur Detektion mit einem ersten Detektor (6) und Mittel (24, 40) zur Reflexion zumindest eines Teils des nicht selektierten Spektralbereichs zur Detektion mit einem zweiten Detektor (7) aufweist.

    Verfahren zur Prüfung der Qualität von Mikroskopen
    20.
    发明专利
    Verfahren zur Prüfung der Qualität von Mikroskopen 未知

    公开(公告)号：DE10313988B4

    公开(公告)日：2014-03-27

    申请号：DE10313988

    申请日：2003-03-27

    Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

    Inventor： SEYFRIED VOLKER DR ,  STORZ RAFAEL DR

    IPC: G01M11/02 ,  G02B21/00

    Abstract: Verfahren zur Prüfung der Qualität von Mikroskopen, wobei das Mikroskop mindestens eine Lichtquelle (1), einen das Licht zur Probe (5) führenden Beleuchtungsstrahlengang (6), einen Detektor (7) und einen das Detektionslicht von der Probe (5) zum Detektor (7) führenden Detektionsstrahlengang aufweist, umfassend die folgenden Verfahrensschritte: – Zurverfügungstellen einer Prüfprobe (5) aus phosphoreszierendem Material (10), – Anregen der Phosphoreszenz, – Detektieren des von der Probe (5) emittierten und über den Detektionsstrahlengang zum Detektor (7) kommenden Lichts und – Auswerten der detektierten Signale, dadurch gekennzeichnet, dass zur Erzeugung einer über einen Zeitraum konstant bleibenden Lichtausbeute die Phosphoreszenz bis in die Sättigung der Probe (5) angeregt wird, dass die ausgewerteten Signale zur Prüfung mikroskopspezifischer Eigenschaften, nämlich Bildhelligkeit, Auflösung, Bildausleuchtung und/oder Effizienz mit vorgegebenen oder vorgebbaren Daten verglichen werden und dass das Rauschen eines oder mehrerer Bildpunkte oder das Rauschen zu einem Zeitpunkt innerhalb einer Fläche oder zwischen mehreren Punkten über die Zeit bestimmt und zum Erhalt des Signal-zu-Rausch-Verhältnisses des Detektionsstrahlengangs mit den detektierten Signalen ins Verhältnis gesetzt wird, um damit die Güte des Detektionsstrahlengangs zu prüfen.

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