公开(公告)号：DE502004008546D1

公开(公告)日：2009-01-08

申请号：DE502004008546

申请日：2004-09-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ULRICH HEINRICH ,  KNEBEL WERNER ,  MOELLMANN KYRA

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/02 ,  G02B21/06 ,  G02B21/08 ,  G02B21/32

Abstract: A scanning microscope includes a light source for evanescently illuminating a sample disposed on a slide. A point detector receives detection light emanating from a scanning point of the sample. A beam deflection device disposed in an optical path of the detection light can shift a position of the scanning point.

公开(公告)号：DE19944148C2

公开(公告)日：2003-08-21

申请号：DE19944148

申请日：1999-09-15

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  ULRICH HEINRICH ,  HAY WILIAM C

IPC: G01N21/63 ,  G02B21/00

Abstract: The microscope has an illumination beam path between a laser light source (1,2) and an object (3), and a detection beam path (7) between the object and a detector (6). At least one reference beam path (9) is provided for reference measurements. Reference light is coupled from the illumination beam path into the reference beam path. The reference light is qualitatively and/or quantitively detected by the detector (6). A scattering optical component (11) and/or a beam deflector (25) may be arranged in the reference beam path. An Independent claim is included for a method of reference correction in a laser scanning microscope.

公开(公告)号：DE59510458D1

公开(公告)日：2002-12-19

申请号：DE59510458

申请日：1995-07-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  ULRICH HEINRICH ,  KIERSCHKE KLAUS

IPC: G02B6/42 ,  G02B21/00 ,  G02B21/16

公开(公告)号：DE10125469A1

公开(公告)日：2002-12-12

申请号：DE10125469

申请日：2001-05-25

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ULRICH HEINRICH ,  BIRK HOLGER ,  HAY WILLIAM C ,  NISSLE HOLGER

IPC: G02B26/10 ,  G02B21/00 ,  G02B27/10 ,  G11B7/00 ,  H01L31/00

Abstract: Device for determination of the light intensity of a light beam (7) has a beam splitter (1) and a detector (11). The beam splitter divides off a measurement beam (23) from the incident beam and the ratio of the intensity of the light in the incident beam to that of the measurement beam is measured using the detector to ensure that the ratio remains constant. Beam splitter and detector form a single unit. Independent claims are also made for: (1) A microscope; (2) A microscopy method in which the intensity of the incident illumination beam is monitored.

公开(公告)号：DE19650391C2

公开(公告)日：2001-07-26

申请号：DE19650391

申请日：1996-12-05

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  ZAPF THOMAS ,  ULRICH HEINRICH

IPC: A61C1/08 ,  A61C19/04 ,  A61C19/05 ,  G01B11/24 ,  G02B21/00 ,  G02B21/36 ,  G02B27/14 ,  G11B7/14 ,  G02B5/00

公开(公告)号：DE19842153A1

公开(公告)日：2000-03-16

申请号：DE19842153

申请日：1998-09-15

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ULRICH HEINRICH ,  ENGELHARDT JOHANN ,  HAY WILLIAM C

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/00 ,  G02B21/16

Abstract: A mirror (13) is included in a detector (11) beam path (5). The mirror is arranged in the illumination and detection beam path (3-5) and dimensioned so that it reflects non-diverging excitation beam from a laser source (1,2) for dark field illumination, and transmits fluorescence from the object, with a full numerical aperture in the direction of the detector but reduced by the effective cross-section of the mirror in the detection beam path.

公开(公告)号：DE19901219A1

公开(公告)日：1999-09-09

申请号：DE19901219

申请日：1999-01-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  HOPPE MARTIN ,  ULRICH HEINRICH

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/08 ,  G02B21/06

Abstract: The arrangement has an illumination lens system for varying the illumination dia. (7) arranged in the illumination light path (1). The illumination lens system (6) consists of an arrangement of interchangeable fixed lenses or a pref. continuously adjustable lens, e.g. a motorised zoom lens An Independent claim is also included for an application of the arrangement to multiple photon laser scanning microscopy.

公开(公告)号：DE102011051042B4

公开(公告)日：2016-04-28

申请号：DE102011051042

申请日：2011-06-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  ULRICH HEINRICH

IPC: G02B21/06

Abstract: Abtastmikroskop (100, 200, 300, 400, 500) mit einer Lichtquelle (20, 61, 64) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (12), einer Beleuchtungsoptik (10) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (16, 84) in einem abzubildenden Objekt (36), und einer Abtastvorrichtung (33) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des abzubildenden Objektes (36) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (12) in eine Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) fällt, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastvorrichtung (33) den Beleuchtungslichtstrahl (12) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (16, 84) relativ zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) richtet und zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (12) innerhalb dieses Teilbereichs ändert, und ein von der Beleuchtungsoptik (10) räumlich getrenntes Beobachtungsobjektiv (38) vorgesehen ist, das mit seiner optischen Achse (O3) senkrecht zu dem beleuchteten Zielbereich und unter einem spitzen Winkel (α) zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) angeordnet ist.

公开(公告)号：DE102011051042A1

公开(公告)日：2012-12-20

申请号：DE102011051042

申请日：2011-06-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  ULRICH HEINRICH

IPC: G02B21/06

Abstract: Ein Abtastmikroskop (100, 200, 300, 400, 500) umfasst eine Lichtquelle (20, 61, 64) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (12), eine Beleuchtungsoptik (10) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (16, 84) in einem abzubildenden Objekt (36) und eine Abtastvorrichtung (33) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des abzubildenden Objektes (36) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (12) in eine Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) fällt. Die Abtastvorrichtung (33) richtet den Beleuchtungslichtstrahl (12) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (16, 84) relativ zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) und ändert zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (36) innerhalb dieses Teilbereichs. Es ist ein von der Beleuchtungsoptik (10) räumlich getrenntes Beobachtungsobjektiv (38) vorgesehen, das mit seiner optischen Achse (O3) im Wesentlichen senkrecht zu dem beleuchteten Zielbereich und unter einem spitzen Winkel (α) zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) angeordnet ist.

公开(公告)号：DE102009021993A1

公开(公告)日：2010-12-02

申请号：DE102009021993

申请日：2009-05-19

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ULRICH HEINRICH ,  BOEHM INGO

IPC: G02B21/06

Abstract: Es wird ein Scanmikroskop (110) zur Erstellung eines Abbilds einer Probe (160) vorgeschlagen. Das Scanmikroskop (110) umfasst mindestens einer Laserquelle (114) zur Erzeugung mindestens eines Laserstrahls (130, 136; 154). Weiterhin umfasst das Scanmikroskop (110) mindestens eine Scanvorrichtung (116) zum Abrastern zumindest eines Teilbereichs der Probe (160) mit dem Laserstrahl (130, 136; 154). Der Laserstrahl (130, 136; 154) weist mindestens einen ersten Laserstrahl (130) mit mindestens einer ersten Emissionswellenlänge im ultravioletten Spektralbereich auf. Die Laserquelle (114) weist mindestens einen optisch gepumpeten Festkörperlaser, insbesondere mindestens einen optisch gepumpten Halbleiterlaser (129), zur Erzeugung des mindestens einen ersten Laserstrahls (130) auf.