公开(公告)号：DE102019100915A1

公开(公告)日：2020-07-16

申请号：DE102019100915

申请日：2019-01-15

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/06 ,  G01N21/64 ,  G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Recheneinheit zur Bestimmung von Amplitude und/oder Phase einer ausgewählten Frequenzkomponente in einem detektierten Messsignal, wobei ein Objekt mit nach Maßgabe eines wenigstens eine Frequenzkomponente aufweisenden Modulationssignals leistungsmoduliertem Licht beleuchtet wird, wobei ein Messsignal mit einer Abtastrate, die mindestens dem Vierfachen der Frequenz der ausgewählten Frequenzkomponente entspricht, abgetastet wird, wobei jeder Messwert mit einem zum jeweiligen Messzeitpunkt vorliegenden Wert eines ersten und eines zweiten Referenzsignals multipliziert wird, um jeweils einen ersten und einen zweiten Produktwert je Messwert zu erhalten, wobei das erste Referenzsignal die ausgewählte Frequenzkomponente aufweist und das zweite Referenzsignal zum ersten Referenzsignal um 90° phasenverschoben ist, wobei die ersten und die zweiten Produktwerte aufsummiert werden, um einen ersten und einen zweiten Produktsummenwert zu erhalten, aus denen die Amplitude und/oder die Phase des Messsignals bestimmt werden.

公开(公告)号：LU92983B1

公开(公告)日：2017-09-19

申请号：LU92983

申请日：2016-03-02

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KRISHNAMACHARI VISHNU VARDHAN ,  MRAWEK PATRIC ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/44 ,  G01J1/46 ,  G01J3/44

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Licht-/Spannungs-Wandlerschaltung (100) zur Wand- lung von Intensitätsschwankungen von Licht (L) in ein Wechselspannungmesss- signal, mit einer Photodiode (D) zum Erfassen des Lichts (L), einem Transformator (T) mit einer Primärwicklung (T1) und einer Sekundärwicklung (T2), wobei die Primärwicklung (T1) des Transformators (T) mit der Photodiode (D) in Reihe ge- schaltet ist und wobei das Wechselspannungmessssignal an der Sekundärwicklung (T2) anliegt, und einem gleichstromsperrenden und wechselstromleitenden elektrischen Netzwerk (N1), das parallel zu der Reihenschaltung aus der Pri- märwicklung (T1) des Transformators (T) und der Photodiode (D) geschaltet ist. Die Erfindung betrifft auch ein Mikroskop mit einer solchen Licht-/Spannungs- Wandlerschaltung (100). (Figur 2) 92983

公开(公告)号：DE102011055945A9

公开(公告)日：2014-10-16

申请号：DE102011055945

申请日：2011-12-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Verfahren und eine Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe. Die Vorrichtung weist eine Lichtquelle zum Erzeugen von Anregungslicht, das mit einer Anregungspulsfrequenz aufeinanderfolgende Anregungslichtpulse beinhaltet, zum Beleuchten eines Probenbereichs mit dem Anregungslichtpuls und einen Detektor zum Detektieren des von dem Probenbereich ausgehenden Detektionslichts auf. Die Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor für jedes detektierte Photon des Detektionslichtes einen elektrischen Impuls und dadurch eine Folge von elektrischen Impulsen erzeugt, und dass ein Analog-Digital-Wandler vorgesehen ist, der eine digitale Datenfolge durch Abtasten der Folge von elektrischen Impulsen mit einer Abtastrate erzeugt.

公开(公告)号：DE102011000090A1

公开(公告)日：2012-07-12

申请号：DE102011000090

申请日：2011-01-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  WIDZGOWSKI BERND ,  NISSLE HOLGER

IPC: G02B21/00 ,  G01B11/24

Abstract: Beschrieben sind ein Verfahren und eine Einrichtung zur rastermikroskopischen Abbildung eines Objektes (28). Es ist vorgesehen, eine Vielzahl von Objektpunkten mittels eines Abtaststrahls (14) in aufeinanderfolgenden Abtastzeitintervallen abzutasten, die Intensität der von dem jeweils abgetasteten Objektpunkt abgegebenen Strahlung innerhalb des zugehörigen Abtastintervalls mehrmals zu erfassen, einen Intensitätsmittelwert aus den in dem jeweils abgetasteten Objektpunkt erfassten Intensitäten als Mittelwert-Bildpunktsignal zu bestimmen, und die Mittelwert-Bildpunktsignale zu einem Mittelwert-Rasterbild zusammenzusetzen. Ferner ist vorgesehen, aus den in dem jeweils abgetasteten Objektpunkten erfassten Intensitäten zusätzlich einen Intensitätsvarianzwert als Varianz-Bildpunktsignal zu bestimmen und die Varianz-Bildpunktsignale zu einem Varianz-Rasterbildsignal zusammenzusetzen.

公开(公告)号：DE102004035340A1

公开(公告)日：2006-03-16

申请号：DE102004035340

申请日：2004-07-21

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00

公开(公告)号：DE10126286A1

公开(公告)日：2002-12-19

申请号：DE10126286

申请日：2001-05-30

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/16 ,  G02B26/10 ,  H04N1/113

Abstract: A method and an apparatus for point-by-point scanning of a specimen ( 15 ) are disclosed. The method is characterized by the steps of generation ( 45 ) of a nominal signal ( 10 ) for each scan point and transfer ( 47 ) of the nominal signal to a scanning device ( 7 ). In further steps, determination ( 49 ) of an actual signal ( 25 ) for each scan point from the setting of the scanning device ( 7 ), detection ( 51 ) of at least one detection signal ( 21 ) for each scan point, calculation ( 53 ) of a display signal ( 27 ) and an image point position ( 29 ) from the actual signal ( 25 ) and/or the nominal signal ( 10 ) and the detection signal ( 21 ), and assignment ( 55 ) of the display signal ( 27 ) to the image point position ( 29 ), are performed.

公开(公告)号：DE102017119663A1

公开(公告)日：2019-02-28

申请号：DE102017119663

申请日：2017-08-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01J1/42 ,  G01T1/24

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Recheneinheit bzw. ein Mikroskopsystem (500) zum Zählen von Photonen mittels eines Photomultipliers (511), wobei ein Messsignal, welches aus einem von dem Photomultiplier (511) erzeugten Rohsignal gewonnen wird, über die Zeit integriert wird, um ein analoges integriertes Messsignal zu bilden, wobei die Anzahl der in den Photomultiplier (511) eingefallenen Photonen ermittelt wird, indem ein Wert des analogen integrierten Messsignals mit einem Integralproportionalitätswert verglichen wird, der einer bestimmten Anzahl von in den Photomultiplier eingefallenen Photonen entspricht.

公开(公告)号：DE102017117851B3

公开(公告)日：2018-10-31

申请号：DE102017117851

申请日：2017-08-07

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND ,  MRAWEK PATRIC

IPC: G08C19/00 ,  G02F1/11 ,  H03H7/46 ,  H04R3/14 ,  H04R17/00

Abstract: Die vorliegende Erfindung betrifft eine elektrische Schaltung (1) für die Ansteuerung eines akusto-optischen Kristalls (5), wobei die elektrische Schaltung (1) einen piezoelektrischen Wandler (6) zur Versetzung des Kristalls (5) in mechanische Schwingungen, ein Signalkabel (8) zur Leitung eines ersten elektrischen Wechselstromsignals und eines zweiten elektrischen Signals, eine erste Frequenzweiche (3) mit einem Eingang, einem Hochfrequenzausgang und einem Niederfrequenzausgang und eine zweite Frequenzweiche (4) mit einem Eingang, einem Hochfrequenzausgang und einem Niederfrequenzausgang umfasst, wobei der Eingang der ersten Frequenzweiche (3) und der Eingang der zweiten Frequenzweiche (4) mit dem Signalkabel verbunden sind und der Hochfrequenzausgang der zweiten Frequenzweiche (4) mit dem piezoelektrischen Wandler (6) verbunden ist.

公开(公告)号：DE102011052334B4

公开(公告)日：2013-04-11

申请号：DE102011052334

申请日：2011-08-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01J1/00 ,  G01T1/15 ,  G01T1/17

Abstract: Beschrieben ist eine Einrichtung (10, 50) zum Zählen von Photonen, mit einer Detektoreinheit (12), einer Schalteinheit (30, 52), eine Abtasteinheit (36, 58), einer Seriell-/Parallel-Wandlereinheit (40) und einer Auswerteeinheit (49, 62). Die Schalteinheit (30, 52) wird mit einem von Detektoreinheit (12) erzeugten Detektionssignal (26) beaufschlagt. Die Abtasteinheit (36, 58) tastet ein von der Schalteinheit (30, 52) erzeugtes Zustandssignal (32, 56) ab und erzeugt so serielle Abtastdaten. Die Seriell-/Parallel-Wandlereinheit (40) fasst die seriell erzeugten Abtastdaten zu Abtastdatenpaketen zusammen. Die Auswerteeinheit (49, 62) wird mit einem vorbestimmten Arbeitstakt betrieben, der kleiner als die Abtastfrequenz der Abtasteinheit (36, 58) ist. Die Auswerteeinheit (49, 58) wertet innerhalb jedes durch den Arbeitstakt festgelegten Taktzyklus die n-Bit-Binärwerte jeweils mindestens eines der Abtastdatenpakete zur Ermittlung eines Teilzählergebnisses aus und summiert die in den einzelnen Taktzyklen ermittelten Teilzählergebnisse zu einem Gesamtzählergebnis auf, das die Anzahl der detektierten Photonen angibt.

公开(公告)号：DE102012101675A1

公开(公告)日：2013-02-21

申请号：DE102012101675

申请日：2012-02-29

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHREIBER FRANK ,  WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER

IPC: G01J1/02 ,  H01L31/024

Abstract: Die Erfindung betrißfft eine Detektorvorrichtung, die dazu ausgebildet ist Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Lichtsensor, der eine Lichteinfallsseite aufweist, und mit einem Kühlbauteil. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass das Kühlbauteil auf der Lichteinfallseite des Lichtsensors in unmittelbarem Kontakt zu dem Lichtsensor und/oder zu einem den Lichtsensor tragenden Substrat steht.