Of annexation mask microfabrication process
    204.
    发明专利
    Of annexation mask microfabrication process 有权
    空值

    公开(公告)号:JP2003504221A

    公开(公告)日:2003-02-04

    申请号:JP2001509997

    申请日:2000-07-13

    Abstract: (57)【要約】 本発明は微細加工装置を製造するための併合マスクのプロセス、及び特に光学スキャニング装置で使用するためのミラー組立体を提供する。 このプロセスは(a)所定の厚さを有する基板を提供し、(b)第1マスキング層を基板の第1部分に、少なくとも第1マスキング層ほど厚い第2マスキング層を基板の第2部分に塗布し、(c)基板の第1露出部を提供するために第2マスキング層の一部をエッチングし、(d)基板の第1露出部を第1深さにエッチングし、(e)基板の第2露出部を提供するために第2マスキング層の一部をエッチングし、及び(f)基板の第1露出部を第2深さに、かつ基板の第2露出部を第1深さに同時にエッチングすることを含む含む。 このプロセスは基板の第2部分を提供するために、第2マスキング層を塗布する前に第1マスキング層をパターニングし、基板の第2部分を露出させるために、第1マスキング層をエッチングすることを更に含む。 第1及び第2マスキング層は基板のエッチングの前に塗布する。

    Abstract translation: 本发明提供了用于一般地制造微机械装置和特别是用于光学扫描装置的镜面组件的合并掩模工艺。 一种制造三维结构的方法,包括:提供衬底,将第一掩模材料层施加到所述衬底上,将第二掩蔽材料层施加到所述第一掩模材料的所述层上,将所述第二掩模材料的所述层 掩模材料,将第三掩模材料层施加到未被第二掩模材料的图案化层覆盖的部分上,第三掩模材料的层至少与第一和第二掩模材料的层的组合厚度一样厚 掩模材料,图案化第一和第三掩模材料的层,蚀刻衬底的暴露部分,蚀刻第一和第三掩模材料的层的暴露部分并蚀刻衬底的暴露部分。

    MEMSに基づいたセンサーの製作方法

    公开(公告)号:JP2017516676A

    公开(公告)日:2017-06-22

    申请号:JP2017500124

    申请日:2015-05-05

    CPC classification number: B81C1/00619 B81C1/00 B81C2201/0133 B81C2201/0142

    Abstract: MEMSに基づいたセンサーの製作方法であって、基材を提供するステップと、前記基材の正面に浅い槽と支持梁を形成するステップと、前記基材の正面に第一延伸層を形成することにより前記浅い槽を覆うステップと、前記第一延伸層の下に浮上状態のグリッド状構造を形成するステップと、前記第一延伸層の上に第二延伸層を形成するステップと、前記第二延伸層の上に回路層を形成するステップと、前記基材の背面であって前記浅い槽と対応する箇所に深い槽を形成し、かつ前記浅い槽と前記深い槽が連通するようにするステップと、前記支持梁を除去するステップとを含む。

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