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公开(公告)号：CN114641687B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202180006207.8
申请日：2021-02-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的扫描型荧光X射线分析装置所具有的总分析时间显示机构针对分析对象的试样的每个品种，测定标准试样，该标准试样中，成分的含有率作为标准值而已知，针对与成分相对应的每个测定射线，求出测定强度。总分析时间显示机构进一步针对每个成分，使用标准值和测定强度，计算被指定的分析精度所得到的计数时间，并且计算作为各成分的计数时间的合计的合计计数时间。总分析时间显示机构计算作为该合计计数时间与合计非计数时间之和的总分析时间，输出已计算的总分析时间和已计算的各成分的计数时间。
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公开(公告)号：CN114787616A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202080086958.0
申请日：2020-12-04
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明提供能考虑几何效应的影响进行高精度的定量分析的定量分析方法、定量分析程序和荧光X射线分析装置。一种定量分析方法包括：用于取得被设定为各分析成分含量的代表的代表组成的步骤、用于取得代表组成的分析成分的含量每个成分仅变更规定含量的多个比较组成的步骤、用于使用FP法计算表示具有预设的厚度并由代表组成和比较组成表示的虚拟样品在几何效应的影响下检测的荧光X射线的强度的检测强度的检测强度计算步骤以及用于基于检测强度而计算每个分析成分的基体校正系数的步骤，通过使用包含成分i的检测强度Ii、用于表示成分i的质量分率的Wi、用于表示共存成分j的质量分率的Wj、常数a、b和c以及用于表示成分i的共存成分j的基体校正系数的αj的校正曲线公式来计算αj。
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公开(公告)号：CN110312928B
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN201880012059.9
申请日：2018-03-14
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/207
Abstract: 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。
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公开(公告)号：CN102187208A
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN201080002934.9
申请日：2010-07-01
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/203
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/637
Abstract: 本发明涉及一种荧光X射线分析方法，其中：对以碳、氧和氮中的至少一个元素和以氢为主成分的液体试样(3A)照射一次X射线(2)，测定：由液体试样(3A)中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线(4)的强度、以及在液体试样(3A)中散射的一次X射线的连续X射线的散射线(12)的强度，根据由各元素产生的荧光X射线(4)的测定强度和一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度的比，计算液体试样(3A)的元素的浓度，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由各元素产生的荧光X射线(4)的波长，并且在液体试样(3A)的组成的变化范围内，一次X射线的连续X射线的散射线(12)的测定强度和质量吸收系数成反比。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118043652A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202280065516.7
申请日：2022-07-08
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的目的在于容易进行X射线荧光光谱的鉴别分析和分析结果的验证。一种峰鉴别分析程序使用于X射线荧光分析装置的计算机执行：光谱取得步骤；指定信息取得步骤；第一列表显示步骤，其将基于所指定的角度或能量而确定的一个或多个元素及线型的一览表显示为表示X射线荧光光谱所包含的峰的X射线荧光的候选的第一列表；第一列表接受步骤，其从用户接受第一列表中包含的一个或多个元素及线型中的至少一部分的指定；以及显示更新步骤，其在显示了第一列表的状态下，显示在第一列表中指定的元素及线型是指定的状态，并将所指定的元素及线型和该元素的其他线型出现的角度或能量的一览表显示为第二列表。
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公开(公告)号：CN114641687A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202180006207.8
申请日：2021-02-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明的扫描型荧光X射线分析装置所具有的总分析时间显示机构针对分析对象的试样的每个品种，测定标准试样，该标准试样中，成分的含有率作为标准值而已知，针对与成分相对应的每个测定射线，求出测定强度。总分析时间显示机构进一步针对每个成分，使用标准值和测定强度，计算被指定的分析精度所得到的计数时间，并且计算作为各成分的计数时间的合计的合计计数时间。总分析时间显示机构计算作为该合计计数时间与合计非计数时间之和的总分析时间，输出已计算的总分析时间和已计算的各成分的计数时间。
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公开(公告)号：CN113692533B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN201980094805.8
申请日：2019-12-06
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01B15/02 , G01N23/2209
Abstract: 本发明的荧光X射线分析装置所具有的计数时间计算机构(13)以改变使其测定强度变化的测定射线的方式，反复进行下述的流程，即，通过规定的定量运算方法，采用一个标准样品的参考强度，求出每个定量值，并且求出仅使一条测定射线的测定强度仅以规定量而变化的场合的每个定量值，将每个定量值变化与规定量的比作为定量值变化与强度比而求出，反复进行该流程，采用像这样而针对全部的测定射线求出的定量值变化与强度比，根据相对每个定量值而指定的定量精度，计算每条测定射线的计数时间。
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公开(公告)号：CN107923859A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201680049794.8
申请日：2016-08-26
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223 , G01N23/207
CPC classification number: G01N23/223 , G01N23/207 , G01N23/2076 , G01N23/2209 , G01N2223/076
Abstract: 本发明的荧光X射线分析装置所具有的定量分析条件设定机构(13)针对多个标准试样(14)进行定性分析，根据其结果，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的峰测定角度，并且将经过定性分析的多个标准试样(14)的峰形合成，求出单一的假想外形，根据假想外形和预定的峰形的半值宽度，设定在定量分析条件下的分析对象试样(1)的测定线的背景测定角度。
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公开(公告)号：CN101416047B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN200680054176.9
申请日：2006-11-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076
Abstract: 一种分析试样中包含的硫磺的荧光X射线分析装置，其目的在于通过大幅度地减少来自X射线管的连续X射线的试样的散射X射线和比例计数管的氩气的逃逸峰值，提高极微量的硫磺的分析精度。一种荧光X射线分析装置(1)，其对试样(S)照射来自X射线管的一次X射线，通过分光元件，对从试样(S)产生的荧光X射线进行分光，通过X射线检测器进行检测，由此，对试样(S)进行分析，该装置包括X射线管(11)，该X射线管(11)具有含铬的靶；X射线滤波器(13)，其设置于X射线管(11)和试样(S)之间的X射线通路，相对来自X射线管(11)的Cr-Kα射线，具有规定的透射率，采用在S-Kα射线和Cr-Kα射线的能量之间不存在吸收端的元素的材质；比例计数管(18)，其具有含氖气或氦气的检测器气体，该装置对试样(S)中包含的硫磺进行分析。
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