公开(公告)号：DE102019109607A1

公开(公告)日：2020-02-13

申请号：DE102019109607

申请日：2019-04-11

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  FAHRBACH FLORIAN ,  REMACHA MOTTA ELENA

IPC: G02B21/06 ,  G02B26/10 ,  G02B27/10

Abstract: Beschrieben ist eine Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop, insbesondere ein Lichtblatt- oder SPIM-Mikroskop oder ein Schiefeebenemikroskop, wie ein OPM- oder SCAPE-Mikroskop, zur Beleuchtung einer Probe, wobei die Beleuchtungsanordnung einen Beleuchtungseingang zur Einspeisung eines Beleuchtungsstrahlenbündels einer kohärenten Lichtquelle entlang einer optischen Achse der Beleuchtungsanordnung, ein Mittel zur Aufteilung des Beleuchtungsstrahlenbündels in mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel, ein fokussierendes optisches System zur Fokussierung der mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel und einen einer Probenseite zugewandten Beleuchtungsausgang zur Ausgabe der mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel zur Probenseite, aufweist. Das fokussierende optische System fokussiert die mindestens zwei Teilbeleuchtungsstrahlenbündel und bringt sie in einem Bereich am probenseitigen Beleuchtungsausgang so zur Überlagerung, dass die Teilbeleuchtungsstrahlenbündel ein Interferenzmuster ausbilden.

公开(公告)号：LU93143B1

公开(公告)日：2018-03-05

申请号：LU93143

申请日：2016-07-06

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FAHRBACH FLORIAN ,  KNEBEL WERNER

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/36 ,  G02B27/58

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Untersuchen einer Probe sowie eine Vorrichtung zum Ausführen eines solchen Verfahrens. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung, die zum Untersuchen einer Probe ausgebildet ist und die wenigstens eine Lichtquelle zum Erzeugen eines Beleuchtungslichtbündels (1), das wenigstens eine zur Fluoreszenzanregung der Probe geeignete Wellenlänge aufweist, und zum Erzeugen eines Abregungs- oder Schaltlichtbündels (6), das wenigstens eine zur Abregung der Probe geeignete Wellenlänge aufweist, beinhaltet und die wenigstens ein Objektiv zum Fokussieren des Beleuchtungslichtbündels (1) und des Abregungs- oder Schaltlichtbündels (6) beinhaltet. Die Vorrichtung zeichnet sich dadurch aus, dass das Beleuchtungslichtbündel (1) und das Abregungs- oder Schaltlichtbündel (6) derart geführt sind, dass eine zu untersuchende Probe in einer Probenebene entlang einer Probenlinie mit dem sich entlang der Probenlinie ausbreitenden Beleuchtungslichtbündel (1) beleuchtet ist und das Abregungs- oder Schaltlichtbündel (6) in der Probenebene wenigstens teilweise räumlich mit dem Beleuchtungslichtbündel (1) überlappt, und dass eine Detektionsoptik vorhanden ist, die ein Detektionsobjektiv beinhaltet und die von dem mittels des Beleuchtungslichtbündels (1) entlang der Probenlinie beleuchteten Probenbereich ausgehendes Detektionslicht in eine Detektionsebene abbildet, in der ein Detektor angeordnet ist, der den Teil des von der Probenebene ausgehenden Fluoreszenzlichts als Detektionslicht detektiert, der aus einem ersten Unterbereich (19) des Überlappungsbereichs stammt, in dem die Wahrscheinlichkeit einer Wechselwirkung der Probenmoleküle mit dem Abregungs- oder Schaltlichtbündel (6) größer als 90%, insbesondere größer 95%, ganz insbesondere größer 99%, ist, und/oder aus einem zweiten Unterbereich (20) stammt, der von dem ersten Unterbereich (19) wenigstens abschnittweise umgeben ist und/oder in dem das Abregungs- oder Schaltlichtbündel (6) eine Nullstelle aufweist, während der Detektor gleichzeitig das von außerhalb des ersten und zweiten Unterbereichs (19, 20) stammende Fluoreszenzlicht wenigstens teilweise ausgeblendet und nicht detektiert. (Fig. 1) 93143

公开(公告)号：LU93117B1

公开(公告)日：2018-01-24

申请号：LU93117

申请日：2016-06-23

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： FAHRBACH FLORIAN ,  FRIEDRICH LARS ,  KNEBEL WERNER

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/16

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop zum Erzeugen einer Abregungs- oder Schaltlichtverteilung mit einer Lichtquelle, die ein Primärbeleuchtungslichtbündel erzeugt. Die Beleuchtungsvorrichtung ist gekennzeichnet durch eine Strahlteilungsvorrichtung, die das Primärbeleuchtungslichtbündel in zwei Teilbeleuchtungslichtbündel aufteilt, ein Beleuchtungsobjektiv, das die Teilbeleuchtungslichtbündel auf und/oder in eine Probe fokussiert, wobei die Teilbeleuchtungslichtbündel räumlich getrennt voneinander durch die Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs verlaufen und sich nach dem Durchlaufen des Beleuchtungsobjektivs auf und/oder in der Probe räumlich überlagern, und durch wenigstens ein Phasenbeeinflussungsmittel, das einen relativen Phasenversatz der Teilbeleuchtungslichtbündel zueinander bewirkt derart, dass die Teilbeleuchtungslichtbündel in der Eintrittspupille des Beleuchtungsobjektivs einen Phasenversatz von n aufweisen. (Fig. 1) 93117

公开(公告)号：DE102011051042B4

公开(公告)日：2016-04-28

申请号：DE102011051042

申请日：2011-06-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  ULRICH HEINRICH

IPC: G02B21/06

Abstract: Abtastmikroskop (100, 200, 300, 400, 500) mit einer Lichtquelle (20, 61, 64) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (12), einer Beleuchtungsoptik (10) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (16, 84) in einem abzubildenden Objekt (36), und einer Abtastvorrichtung (33) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des abzubildenden Objektes (36) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (12) in eine Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) fällt, dadurch gekennzeichnet, dass die Abtastvorrichtung (33) den Beleuchtungslichtstrahl (12) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (16, 84) relativ zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) richtet und zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (12) innerhalb dieses Teilbereichs ändert, und ein von der Beleuchtungsoptik (10) räumlich getrenntes Beobachtungsobjektiv (38) vorgesehen ist, das mit seiner optischen Achse (O3) senkrecht zu dem beleuchteten Zielbereich und unter einem spitzen Winkel (α) zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) angeordnet ist.

公开(公告)号：DE102013211426A1

公开(公告)日：2014-12-18

申请号：DE102013211426

申请日：2013-06-18

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  SIECKMANN FRANK ,  FOUQUET WERNHER

IPC: G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben. Das Verfahren beinhaltet den Schritt des Anordnens der Proben in einem, insbesondere motorisch und/oder automatisch, relativ zu einer Probenbeleuchtungsposition bewegbaren Probenhalter derart, dass sukzessive jeweils zumindest eine der Proben in der Probenbeleuchtungsposition positionierbar ist, wobei jeweils angrenzend an die Probe, die sich gerade in der Probenbeleuchtungsposition befindet, ein Freiraum für ein Umlenkmittel, verbleibt, den Schritt des Fokussierens eines Lichtstreifens mit einem Beleuchtungsobjektiv, den Schritt des Umlenkens des Lichtstreifens nachdem dieser das Beleuchtungsobjektiv durchlaufen hat mit dem Umlenkmittel derart, dass sich der Lichtstreifen unter einem von Null Grad verschiedenen Winkel zur optischen Achse des Beleuchtungsobjektivs ausbreitet und in der Probenbeleuchtungsposition einen Fokus aufweist, und den Schritt des sukzessiven Positionierens der mit dem Probenhalter gehalterten Proben in der Probenbeleuchtungsposition und Detektierens des von der jeweils in der Probenbeleuchtungsposition befindlichen Probe ausgehenden Detektionslichtes. Die Erfindung betrifft außerdem eine optische Vorrichtung mit einem Probenhalter, der eine Vielzahl von Proben hält und der, insbesondere motorisch und/oder automatisch, relativ zu einer Probenbeleuchtungsposition derat bewegbar gelagert ist, dass sukzessive jeweils zumindest eine der Proben in der Probenbeleuchtungsposition positionierbar ist.

公开(公告)号：DE102013205115A1

公开(公告)日：2014-09-25

申请号：DE102013205115

申请日：2013-03-22

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  KRISHNAMACHARI VISHNU VARDAN

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/06

Abstract: Eine SPIM(Selective/Single Plane Illumination Microscopy)-Anordnung mit einer Beleuchtungseinrichtung (1) zur Erzeugung eines eine Probe (2) beleuchtenden Lichtblatts (3) und einer einen Detektor (4) aufweisenden Detektionseinrichtung (5) für von der Probe (2) ausgehendes Detektionslicht ist im Hinblick auf eine effiziente und schonende Probenuntersuchung mit konstruktiv einfachen Mitteln derart ausgestaltet und weitergebildet, dass die Detektionseinrichtung (5) eine Einrichtung (6) zur Zuordnung verschiedener Fokusebenen des Lichtblatts (3) zu verschiedenen Regionen (7) des Detektors (4) aufweist.

公开(公告)号：DE102011054914A1

公开(公告)日：2013-05-02

申请号：DE102011054914

申请日：2011-10-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  SIECKMANN FRANK

IPC: G02B21/06 ,  G01B11/24 ,  G01B11/25

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Beleuchten einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie mit einer Lichtquelle zum Erzeugen eines Lichtbündels, mit Mitteln zum Erzeugen eines Lichtstreifens aus dem Lichtbündel, insbesondere zum im Wesentlichen flächenartigen Beleuchten einer Probe in einer Beleuchtungsebene aus wenigstens einer Richtung, mit wenigstens einem Objektiv, das eine Optik aufweist, die dazu ausgebildet und bestimmt ist, von der Probe ausgehendes Detektionslicht direkt oder indirekt einem Detektor zuzuführen, wobei die Optik des Objektivs mit dem Lichtstreifen in Wechselwirkung tritt, und mit einer der Optik des Objektivs nachgeschalteten Umlenkvorrichtung zum Umlenken des Lichtstreifens, wobei sich der Lichtstreifen nach dem Umlenken zum Beleuchten einer Probe in einem von Null Grad verschiedenen Winkel, insbesondere einem rechten Winkel, zur optischen Achse des Objektivs ausbreitet und/oder in einer optischen Achse des Objektivs nicht parallelen Ebene angeordnet ist. Die Erfindung betrifft außerdem ein Verfahren zum Beleuchten einer Probe bei der SPIM-Mikroskopie.

公开(公告)号：DE102011051042A1

公开(公告)日：2012-12-20

申请号：DE102011051042

申请日：2011-06-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER ,  ULRICH HEINRICH

IPC: G02B21/06

Abstract: Ein Abtastmikroskop (100, 200, 300, 400, 500) umfasst eine Lichtquelle (20, 61, 64) zum Aussenden eines Beleuchtungslichtstrahls (12), eine Beleuchtungsoptik (10) zum Erzeugen eines länglichen Beleuchtungsfokus (16, 84) in einem abzubildenden Objekt (36) und eine Abtastvorrichtung (33) zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über einen zu beleuchtenden Zielbereich des abzubildenden Objektes (36) durch Ändern der Einfallsrichtung, in der der Beleuchtungslichtstrahl (12) in eine Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) fällt. Die Abtastvorrichtung (33) richtet den Beleuchtungslichtstrahl (12) zum Schrägstellen des Beleuchtungsfokus (16, 84) relativ zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) auf einen aus der Pupillenmitte versetzten Teilbereich der Eintrittspupille (14) der Beleuchtungsoptik (10) und ändert zum Bewegen des Beleuchtungsfokus (16, 84) über den zu beleuchtenden Zielbereich die Einfallsrichtung des Beleuchtungslichtstrahls (36) innerhalb dieses Teilbereichs. Es ist ein von der Beleuchtungsoptik (10) räumlich getrenntes Beobachtungsobjektiv (38) vorgesehen, das mit seiner optischen Achse (O3) im Wesentlichen senkrecht zu dem beleuchteten Zielbereich und unter einem spitzen Winkel (α) zur optischen Achse (O1) der Beleuchtungsoptik (10) angeordnet ist.

公开(公告)号：DE10055176B4

公开(公告)日：2007-05-03

申请号：DE10055176

申请日：2000-11-08

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： ENGELHARDT JOHANN ,  KNEBEL WERNER

IPC: G01B9/04 ,  G02B21/00 ,  G02B21/22

Abstract: An arrangement for visual and quantitative three-dimensional examination of specimens, having a stereomicroscope (2). The stereomicroscope defines a first and a second observation beam path (4, 5), by way of which a specimen (6) to be examined can be visually observed. A confocal scanning device (1) is connected to the stereomicroscope (1) in such a way that a scanning beam path (3) defined by the confocal scanning device (1) scans the specimen (6) that is to be examined and in that context acquires data for a three-dimensional visual depiction of the specimen (6).

公开(公告)号：DE102005046510A1

公开(公告)日：2007-04-05

申请号：DE102005046510

申请日：2005-09-29

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KNEBEL WERNER

IPC: G02B21/00

Abstract: A microscope system (1) comprises first light source (3) that emits illumination light (2). A target light source (7) is provided for marking an FCS volume in the sample volume (5) and the light is directed over several optical elements (12,15) in the sample volume. The wavelength of the first light source differs from the wavelength of the target light source. An independent claim is also included for the microscope.