Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung mindestens eines Laserchips (20) angegeben, das Verfahren umfassend die Schritte Aufwachsen einer Halbleiterschichtenfolge (21) mit einer aktiven Zone (22) auf einem Substrat (23), Abtragen eines Teils des Substrats (23), eines Teils der aktiven Zone (22) und eines Teils der Halbleiterschichtenfolge (21) durch trockenchemisches Ätzen, so dass mindestens eine Seitenkante (24) gebildet wird, welche sich zumindest stellenweise quer oder senkrecht zur Haupterstreckungsebene des Substrats (23) erstreckt, und Abtragen eines Teils des Substrats (23), eines Teils der aktiven Zone (22) und eines Teils der Halbleiterschichtenfolge (21) an der Seitenkante (24) durch nasschemisches Ätzen, wobei die aktive Zone (22) dazu ausgelegt ist Laserstrahlung zu emittieren. Außerdem wird ein Laserchip (20) angegeben.
Abstract:
In mindestens einer Ausführungsform umfasst der Halbleiterlaser (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2) zur Erzeugung einer Laserstrahlung (L) und ein transparentes Substrat (3). Die Halbleiterschichtenfolge (2) weist eine erste Facette (21) auf, die für eine Abstrahlung der Laserstrahlung (L) eingerichtet ist, und eine der ersten Facette (21) gegenüberliegende zweite Facette (22). Das Substrat (3) weist eine erste Seitenfläche (31) an der ersten Facette (21) und eine zweite Seitenfläche (32) an der zweiten Facette (22) auf. Die erste Seitenfläche (31) ist mindestens stellenweise schräg zur ersten Facette (21) orientiert und/oder die zweite Seitenfläche (32) ist mindestens stellenweise schräg zur zweiten Facette (22) orientiert.
Abstract:
Ein oberflächenemittierender Halbleiterlaser (10) umfasst eine erste Halbleiterschicht (110) eines ersten Leitfähigkeitstyps, wobei die erste Halbleiterschicht (110) unter Ausbildung einer Mesa (123) strukturiert ist, eine aktive Zone (115) zur Erzeugung elektromagnetischer Strahlung (15) sowie eine zweite Halbleiterschicht (120) eines zweiten Leitfähigkeitstyps. Die erste Halbleiterschicht (110), die aktive Zone (115) und die zweite Halbleiterschicht (120) sind unter Ausbildung eines Halbleiterschichtstapels (121) übereinander gestapelt. Der oberflächenemittierende Halbleiterlaser umfasst weiterhin eine Mantelschicht (125), die an eine Seitenwand (122) der Mesa (123) angrenzt.
Abstract:
In einer Ausführungsform umfasst der Halbleiterlaser (1) eine Halbleiterschichtenfolge (2), in der sich eine aktive Zone (22) zur Erzeugung einer Laserstrahlung befindet. Ein Stegwellenleiter (3) ist als Erhebung aus der Halbleiterschichtenfolge (2) heraus gestaltet. Eine elektrische Kontaktschicht (5) befindet sich direkt am Stegwellenleiter (3). Ein metallischer elektrischer Anschlussbereich (6) befindet sich direkt an der Kontaktschicht (5) und ist zum externen elektrischen Anschließen des Halbleiterlasers (1) eingerichtet. Eine metallische Brechbeschichtung (7) reicht direkt bis an Facetten (27) der Halbleiterschichtenfolge (2) heran und befindet sich an dem Stegwellenleiter (3). Die Brechbeschichtung (7) ist elektrisch funktionslos und weist eine niedrigere Schallgeschwindigkeit für eine Bruchwelle auf, als die Halbleiterschichtenfolge (2) im Bereich des Stegwellenleiters (3).
Abstract:
Es wird eine Halbleiterlaserdiode (2) angegeben mit: - einer Halbleiterschichtenfolge (3), die im Betrieb Laserstrahlung von einer Facette aussendet, und - einer ersten Passivierungsschicht (11), wobei - die Halbleiterschichtenfolge (3) einen Stegwellenleiter (5) aufweist, der eine Deckfläche (7) und daran angrenzende Seitenflächen (6) aufweist, - die erste Passivierungsschicht (11) die Seitenflächen (6) des Stegwellenleiters (5) bereichsweise bedeckt, und - die Seitenflächen (6) des Stegwellenleiters (5) bereichsweise frei von der ersten Passivierungsschicht (11) sind. Außerdem werden ein Laserbauteil und ein Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterlaserdiodeangegeben.
Abstract:
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Laserdiodenbarrens (10) beschrieben, umfassend die Schritte: Herstellen einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Emittern (1, 2), Prüfen mindestens einer optischen und/oder elektrischen Eigenschaft der Emitter (1, 2), wobei Emitter (1), bei denen die optische und/oder elektrische Eigenschaft innerhalb eines vorgegebenen Sollwertbereichs liegt, einer Gruppe von ersten Emittern (1) zugeordnet werden, und Emitter (2), bei denen die mindestens eine optische und/oder elektrische Eigenschaft außerhalb des vorgegebenen Sollwertbereichs liegt, einer Gruppe von zweiten Emittern (2) zugeordnet werden, und elektrisches Kontaktieren der ersten Emitter (1), wobei die zweiten Emitter (2) nicht elektrisch kontaktiert werden, so dass diese beim Betrieb des Laserdiodenbarrens (10) nicht mit Strom versorgt werden. Weiterhin wird ein mit dem Verfahren herstellbarer Laserdiodenbarren (10) angegeben.
Abstract:
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterlaser mit einer Schichtstruktur mit einer aktiven Zone, wobei die aktive Zone ausgebildet ist, um eine elektromagnetische Strahlung zu erzeugen, wobei die Schichtstruktur eine Abfolge von Schichten aufweist, wobei in einer Z-Richtung zwei gegenüber liegende Endflächen vorgesehen sind, wobei wenigstens eine Endfläche ausgebildet ist, um die elektromagnetische Strahlung wenigstens teilweise auszukoppeln, und wobei die zweite Endfläche ausgebildet ist, um die elektromagnetische Strahlung wenigstens teilweise zu reflektieren, wobei Führungsmittel zum Ausbilden einer optischen Mode in einem Modenraum zwischen den Endflächen vorgesehen sind, wobei Mittel außerhalb des Modenraumes vorgesehen sind, die eine Ausbildung einer optischen Mode außerhalb des Modenraumes, insbesondere Moden mit einer Ausbreitungsrichtung, die nicht senkrecht zu den Endflächen (14, 15) verlaufen, erschweren.
Abstract:
Es werden ein Verfahren zur Strukturierung einer Schichtenfolge sowie eine Halbleiterlaser-Vorrichtung angegeben. Bei dem Verfahren erfolgt die Erzeugung zumindest eines Grabens (4) in der Schichtenfolge (10) durch zwei Plasmaätzverfahren. Die Halbleiterlaser-Vorrichtung umfasst eine Schichtenfolge (10), die mit einem Halbleitermaterial gebildet ist, und zwei Gräben (4) in der Schichtenfolge (10), die einen Stegwellenleiter (30) seitlich begrenzen, wobei jeder der Gräben (4) an seiner dem Stegwellenleiter (30) abgewandten Seite von einem Bereich (A) der Schichtenfolge (10) begrenzt ist.
Abstract:
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterlaser mit einem Grundkörper (2) und einem auf dem Grundkörper angeordneten Streifenkörper (3), wobei der Grundkörper und der Streifenkörper aus Halbleitermaterial gebildet sind, wobei das Halbleitermaterial eine aktive Zone (4) zur Erzeugung elektromagnetischer Strahlung aufweist, wobei auf einer Oberseite des Streifenkörpers eine erste Kontaktschicht (9) aufgebracht ist, wobei eine zweite Kontaktschicht (10 an wenigstens eine Seitenfläche des Streifenkörpers (11,12) und/ oder an wenigstens eine seitlich zum Streifenkörper angeordnete Oberseite des Grundkörpers (1,14) angrenzt, wobei die zweite Kontaktschicht (10) mit einer Wärmesenke (1) in Kontakt steht, wobei ein elektrischer Übergangswiderstand zwischen der zweiten Kontaktschicht (10) und dem Grundkörper (2) und/oder dem Streifenkörper (3) größer ist als der elektrische Übergangswiderstand zwischen der ersten Kontaktschicht (9) und dem Streifenkörper (3). Die erste Kontaktschicht kann eine Metallelektrode sein und die zweite Kontaktschicht ein Goldlot und durch diese Anordnung wird die Wärmeabfuhr zur Wärmesenke verbessert.
Abstract:
Die Erfindung betrifft ein optoelektronisches Bauelement mit einer Schichtstruktur mit einer aktiven Zone zum Erzeugen einer elektromagnetischen Strahlung, wobei die aktive Zone in einer ersten Ebene angeordnet ist, wobei in die Oberfläche der Schichtstruktur eine Ausnehmung eingebracht ist, wobei die Ausnehmung an eine Endfläche des Bauelementes angrenzt, wobei die Endfläche in einer zweiten Ebene angeordnet ist, wobei die zweite Ebene im Wesentlichen senkrecht zur ersten Ebene angeordnet ist, wobei die Ausnehmung eine Bodenfläche und eine Seitenfläche aufweist, wobei die Seitenfläche im Wesentlichen senkrecht zur Endfläche angeordnet ist, wobei die Seitenfläche in einem Winkel geneigt ungleich 90° zu der ersten Ebene der aktiven Zone angeordnet ist, wobei die Bodenfläche im Bereich der ersten Ebene der aktiven Zone angeordnet ist.