-
公开(公告)号：CN102272612A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201080004196.1
申请日：2010-01-06
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 佐藤周作
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R1/06777
Abstract: 提供一种测试装置，是测试被测试器件的测试装置，包括：测试头，与被测试器件相向配置，设置有用于测试被测试器件的模块；探针组件，配置在测试头及被测试器件之间，进行信号传送。在探针组件中，设置有互相以规定的间隔配置的多个低电压引脚；和多个高电压引脚，其与多个低电压引脚的各个低电压引脚的距离比规定的间隔还大，传送比低电压引脚还高的电压的信号；在多个高电压引脚中的各个高电压引脚，只被配置在将探针组件的表面平分为2个区域的任意一方。
-
公开(公告)号：CN102239682A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200980148900.8
申请日：2009-12-03
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: H04L29/14
CPC classification number: H04L43/50 , G01R31/2834
Abstract: 本发明公开了一种测试装置，是测试被测试器件的测试装置，其包括：高位序列器，其执行用于测试所述被测试器件的测试程序，并依次指定与被测试器件之间进行通讯的各数据包；包数据列存储部，用于存储多种数据包中每个数据包里所包含的数据列；低位序列器，从包数据列存储部读出由高位序列器指定的数据包的数据列，生成与被测试器件之间的测试用的测试数据列。
-
公开(公告)号：CN102236071A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201110090566.4
申请日：2011-04-12
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/2889 , G01R31/2874
Abstract: 本发明提供一种使用附加电路使已有的测试装置低成本实现高速化以及高功能化的测试装置，其连接于与被测试器件的种类对应的插座板，测试所述被测试器件，包括：测试头，其在内部具有用于测试被测试器件的测试模块；功能板，通过电缆与测试头内的测试模块连接，同时与插座板连接；以及附加电路，装载在功能板上，与测试模块及被测试器件连接。
-
公开(公告)号：CN102197314A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200980142810.8
申请日：2009-10-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2877
Abstract: 一种测试装置，具有设置在测试基板上，测试被测试器件的测试电路；以覆盖形成测试电路的测试基板的区域的状态设置的、用于密闭测试电路，而且，在密闭空间填充有冷却材料的密闭部；以及贯通密闭部而设置，且不通过所述测试基板将所述测试电路及所述密闭部外侧设置的元件进行电连接的贯通连接器。
-
公开(公告)号：CN102195653A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110021601.7
申请日：2011-01-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 仓持泰秀
CPC classification number: H03M1/1061 , H03M1/745
Abstract: 本发明提供一种输出装置，可高精度地输出信号。其设置有：多个电流源；多个切换部，其根据输入数据切换是否使输出端输出对应的电流源中的电流；多个保持部，其与多个电流源中的每一个对应设置，保指定对应的电流源中的电流的指定电压；设定用DAC，其依次产生多个保持部各自应保持的指定电压并保持之；供给部，其通过依次切换把设定用DAC依次产生的指定电压提供给多个保持部中对应的保持部。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102195648A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110021685.4
申请日：2011-01-19
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 仓持泰秀
IPC: H03M1/08
CPC classification number: H03M1/0624 , H03M1/0836 , H03M1/0863 , H03M1/742
Abstract: 为了减少噪声，提供一种从输出端输出电流的输出装置。输出装置包括：多个电流源；与多个电流源中的每一个对应设置，对对应的电流源中流出的电流是否流向输出端进行转换的多个转换部；改变用来控制多个转换部中的每一个的转换状态的多个控制信号中的每一个的传送时间的时间变更部；为减少流向输出端的电流中含有的细须状脉冲噪声的多个控制信号中的调整每一个的传送时间的调整部。
-
公开(公告)号：CN1993787B
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN200580026777.4
申请日：2005-07-06
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 高桥毅
CPC classification number: H03H17/0664 , G01R31/31919 , G01R31/31921 , H03H17/0225 , H03H17/0276 , H03H2218/085
Abstract: 本发明包括第1抽取部，对所输入的数据进行降低取样；第1滤波部，对由第1抽取部所降低取样的数据进行滤波并输出；以及第2抽取部，对由第1滤波部所滤波的数据进一步进行降低取样，并且，第1滤波部对由第2抽取部所降低取样的数据进一步进行滤波并输出。根据本发明，可提供一种电路规模较小，且动作速率较高的抽取滤波器、以及具备该抽取滤波器的测试装置。
-
公开(公告)号：CN102119337A
公开(公告)日：2011-07-06
申请号：CN200980131219.2
申请日：2009-08-12
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 秋田德则
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31922
Abstract: 使工作频率不同的多个测试模块通过单一的同步模块所生成的同步信号而同步。提供一种测试装置，包括：同步模块，在以具有基准频率的基准时钟动作的同时，生成指定周期的同步信号；以及测试模块，以基准频率的n倍频率的高频率时钟动作，基于与同步信号同步的测试周期信号测试被测试设备；测试模块具有：对同步信号进行模拟的周期模拟器；移相器，按照模拟的同步信号的相位数据与n的乘积除以基准时钟的周期得到的移相相位(级)数对高频率时钟的相位进行移相；测试周期生成部，生成以移相的高频率时钟的边缘定时转化的测试周期脉冲信号及显示测试周期脉冲信号与测试周期的相位差的测试周期相位数据。
-
公开(公告)号：CN102106087A
公开(公告)日：2011-06-22
申请号：CN200980128572.5
申请日：2009-07-06
Applicant: 爱德万测试株式会社 , 国立大学法人东京工业大学
Abstract: 本发明提供一种AD转换装置，其具有比特选择部，从输出数据的高位侧顺次选择转换对象比特；数据控制部，每当选择了转换对象比特时，输出用于判别转换对象比特的值的比较数据；DA转换部，输出与比较数据对应的模拟比较信号；定时发生部，输出指示比较开始的比较控制信号；变更部，为了使转换对象比特是较高位比特的情况下由比较控制信号表示的比较开始的定时变得更晚，根据转换对象比特的比特位置来变更比较控制信号的定时；比较部，在变更部改变了定时后的比较控制信号所表示的比较开始的定时，开始对输入信号和比较信号的比较；结束检出部，在比较部输出了比较结果之后，输出让比特选择部选择下一个转换对象比特的结束信号。
-
公开(公告)号：CN101138157B
公开(公告)日：2011-02-23
申请号：CN200680007820.7
申请日：2006-03-20
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: H03L7/093
CPC classification number: H03L7/085 , H03L7/0898 , H03L7/18
Abstract: 本发明公开了一种振荡装置，其目的在于使PLL电路中振荡信号相位差相对于基准信号稳定，且可以变更其相位差及循环带宽。所述振荡装置包括：具有电容器，基于电容器储存的电荷量输出控制信号的滤波器电路、输出基于控制信号频率的振荡信号的振荡器、通过比较振荡信号和预先设定了频率的基准信号，检测出振荡信号及基准信号的相位差的相位比较器、根据相位差，控制通过给定的充电电流使电容器充电，或者，通过给定的放电电流使电容器放电的开关电路、基于预先设定的基准电流或基准电压来确定充电电流和放电电流的电流稳定化电路。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
393
records
(took 0.078 seconds)
