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公开(公告)号：KR100925782B1
公开(公告)日：2009-11-11
申请号：KR1020070091211
申请日：2007-09-07
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: H01S3/10
CPC classification number: H01S5/0687 , H01S5/005 , H01S5/0078 , H01S5/06804 , H01S5/0683
Abstract: 주파수 안정화 레이저 장치 및 레이저 주파수 안정화 방법이 개시된다. 반도체 레이저는 빔을 방출한다. 외부반사체는 공진 주파수를 가지며, 방출된 빔의 주파수와 공진 주파수가 동일한 경우에는 방출된 빔을 반도체 레이저로 피드백한다. 간섭신호 생성부는 방출된 빔의 파장을 검출하기 위한 간섭신호를 생성하고, 제어부는 생성된 간섭신호로부터 파장을 검출한다. 본 발명에 따른 주파수 안정화 레이저 장치 및 레이저 주파수 안정화 방법에 의하면, 반도체 레이저로부터 방출되는 빔의 주파수를 안정화시킬 수 있고 안정된 주파수를 갖는 빔을 장시간 출력가능하며, 반도체 레이저의 온도 또는 반도체 레이저로 인가되는 전류를 조절하여 각 프리 스펙트럴 범위(free spectral ranges) 별로 안정된 주파수를 갖는 빔을 선택적으로 장시간 출력가능하고 출력하는 빔의 주파수를 높은 분해능을 가지고 정확하게 산출할 수 있다.
반도체 레이저, 안정화, 주파수, 파장, 간섭신호, 빔-
公开(公告)号：KR100908638B1
公开(公告)日：2009-07-21
申请号：KR1020070055145
申请日：2007-06-05
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G05D1/10
Abstract: 3차원 좌표측정 장치 및 방법이 개시된다. 광생성부는 광을 생성하고 기준 광섬유는 생성된 광을 조사하며 대상 광섬유는 측정대상물에 가설되어 생성된 광을 조사한다. 광검출기는 복수로 구비되면 기준 광섬유 및 대상 광섬유에서 각각 조사된 광에 의해 생성된 간섭무늬를 검출하고, 연산부는 검출된 복수의 간섭무늬로부터 측정대상물의 3차원 위치벡터를 산출한다. 본 발명에 따르면 측정대상물의 3차원 좌표를 고분해능을 가지고 신속하게 측정할 수 있고, 측정 대상범위가 넓어 측정대상물이 큰 구조물인 경우에도 그 형상을 용이하게 측정할 수 있다. 또한, 측정대상물의 이동에 따른 광원이나 광검출기의 동반 이동이 없이 자유로이 이동하는 측정대상물의 이동 경로에 대한 3차원 좌표를 측정할 수 있으며, 따라서 광원과 광검출기를 이동시키기 위한 별도의 이송축이 필요하지 않다.
3차원 좌표, 광, 간섭무늬, 고분해능Abstract translation: 提供了一种用于测量三维坐标的设备和方法，以测量对象的移动标志，获得宽的测量范围并以高分辨率快速测量对象的三维坐标。 光发生器（410）产生光。 参考光纤照射产生的光。 物体光纤安装在待测物体中并照射光线。 多个光学检测器（441,449）检测由参考光纤（420）和物光光纤（430）中照射的光产生的干涉图案。 操作单元（450）从多个检测到的干涉图案计算待测量对象的3D位置矢量。
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公开(公告)号：KR100394963B1
公开(公告)日：2003-08-19
申请号：KR1020010034572
申请日：2001-06-19
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G02B5/08
Abstract: PURPOSE: A reflection control apparatus using a planar reflective mirror having a prism constant of zero is provided to measure accurately a mechanical constant or a prism constant of electro-optical distance meter by installing the planar reflective mirror on a side passing a center of a sphere of a spheric housing. CONSTITUTION: A planar reflective mirror(220) is vertically installed in the inside of a spheric housing(100). An inserting portion(120) is formed in the inside of the housing(100). The housing(100) is formed with a resin material or a metallic material such as aluminum or stainless steel. The planar reflective mirror(220) is vertically installed in the inserting portion(120). A cover(240) is used for contacting closely the planar reflective mirror(220) with the inside of the housing(100). A lower end portion of the housing(100) is combined with an upper portion of a tripod(300). A plurality of support bars(320) are formed on a lower portion of the tripod(300). A circular rotation body(420) is formed on an outer circumference of the tripod(300). A plurality of fixing screw portions(440) are inserted into one side of a position fixing plate(460). The fixing screw portion(440) is formed with a micrometer screw(470) and a position fixing screw(480).
Abstract translation: 目的：提供一种使用棱镜常数为零的平面反射镜的反射控制装置，通过在通过球体中心的一侧安装平面反射镜，准确测量电光测距仪的机械常数或棱镜常数 的球形房屋。 组成：平面反射镜（220）垂直安装在球形壳体（100）的内部。 插入部分（120）形成在壳体（100）的内部。 壳体（100）由树脂材料或诸如铝或不锈钢的金属材料形成。 平面反射镜（220）垂直安装在插入部分（120）中。 盖（240）用于使平面反射镜（220）与壳体（100）的内部紧密接触。 外壳（100）的下端部分与三脚架（300）的上部分结合。 多个支撑杆（320）形成在三脚架（300）的下部。 圆形旋转体（420）形成在三脚架（300）的外周上。 多个固定螺钉部分（440）插入位置固定板（460）的一侧。 固定螺钉部分（440）形成有测微螺钉（470）和位置固定螺钉（480）。
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公开(公告)号：KR1020170050249A
公开(公告)日：2017-05-11
申请号：KR1020150151570
申请日：2015-10-30
IPC: G01F25/00 , G01F23/284 , G01F23/296 , G01C9/00 , G01K13/00 , G01W1/11 , G01L19/00 , G08C17/02 , G01S13/08 , G01S15/08
Abstract: 본발명은표준거리측정기 1, 2와비접촉식피교정수위계를통하여타켓의거리를각각측정한후 그측정값을비교하여피교정수위계의불확도를파악함으로써피교정수위계의교정이이루어질수 있도록하는비접촉식수위계의현장교정용표준교정시스템및 교정방법에관한것이다. 본발명에따른비접촉식수위계의현장교정용표준교정시스템은교정테이블(100)에설치되어, 타켓(300)과의거리를측정하는표준거리측정기 1(110)과; 상기표준거리측정기 1(110)과이격되어교정테이블(100)에설치되어, 타켓(300)과의거리를측정하는표준거리측정기 2(120)와; 상기표준거리측정기 1(110)과표준거리측정기 2(120)의사이에서교정테이블(100)에설치되어, 비접촉식으로타켓(300)과의거리를측정하는비접촉식피교정수위계(130)와; 물의대신하여상기표준거리측정기 1(110)과표준거리측정기 2(120) 및비접촉식피교정수위계(130)에서송출되는신호를반사하는타켓(300)과; 상기표준거리측정기 1(110)과표준거리측정기 2(120) 및비접촉식피교정수위계(130)를통하여측정되는타켓(300)과의거리정보와, 표준거리측정기 1(110)과표준거리측정기 2(120) 사이의거리정보와, 상기타켓(300)의경사도정보를분석하여비접촉식피교정수위계(130)의불확도를산출하는수위계교정장치(500);를포함하여이루어지는것을특징으로한다.
Abstract translation: 所述非接触式水表的发明，其允许标准距离计1中，第二和非接触血液后通过比较所测量确定要被校准水位指示器的不确定性的每个测量所述目标的通过校准水位指示器的距离的校准待校准来实现水标 用于现场校准的标准校准系统和校准方法。 安装在根据本发明，校准表100中，标准距离计测量到目标300，1 110的距离校准所述非接触式水表的领域的标准校准系统上; 标准距离测量仪器120安装在校准台100上并且与标准距离测量仪器110间隔开以测量到目标300的距离; 标准距离计1 110税收基础给定距离米2 120安装在修正表100中uisayi，在非接触的非接触式目标进行校准水位指示器130，其测量的距离和300和; 用于反射从标准距离测量仪110，距离测量仪2 120和非接触式校准水位计130传送的信号以代替水的目标300; 标准距离计1 110税收基础给定距离米2 120和非接触要被校准水位指示器130，目标300，距离信息，标准测距仪1110税基给测距仪与测量使用两个 其特征在于，包括; 120，距离信息，并且目标300 uigyeong用于分析所述天使信息来计算所述非接触式的不确定性水测量仪校准装置500要被校准之间水位计130。
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公开(公告)号：KR101554203B1
公开(公告)日：2015-09-21
申请号：KR1020130078753
申请日：2013-07-05
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01B11/06
Abstract: 본발명은두께측정장치및 두께측정방법을제공하는것이다. 이두께측정장치는제1 파장및 제2 파장의레이저빔을순차적으로투명기판의제1 위치에조사하는파장가변레이저; 상기투명기판을투과한투과빔을검출하는광 검출기;및제1 파장의제1 투과빔의세기와상기제2 파장의제2 투과빔의세기를이용한리자주그래프에서회전각, 상기제1 위치에서상기투명기판의내부반사에의한이웃한레이들(rays) 사이의광 경로의차이(the difference in optical path length), 또는상기제1 위치에서상기투명기판의내부반사에의한이웃한레이들(rays) 사이의위상차이를추출하는처리부를포함한다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR101533997B1
公开(公告)日：2015-07-06
申请号：KR1020140011965
申请日：2014-02-03
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은다층구조측정장치및 그측정방법을제공한다. 상기다층구조측정장치는광원; 상기광원의출력광을제공받아평행광을제공하는시준렌즈; 상기시준렌즈를통과한입사광을제공받아다층구조의시료에제공하고상기시료로부터반사된샘플광을투과시키는광분할기; 상기광분할기가제공하는상기입사광을집속시키어상기시료에제공하고가변초점거리를가지는유체렌즈부; 상기광분할기를투과한상기샘플광을집속시키는집속렌즈; 상기집속렌즈의초점거리에배치된핀홀; 상기핀홀의후단에배치되는광검출기; 및상기유체렌즈부의초점거리를가변하기위하여상기유체렌즈부의내부에유체를제공하는유체량조절부를포함한다.
Abstract translation: 本发明提供一种使用流体透镜测量多层结构的装置及其方法。 用于测量多层结构的装置包括：光源; 接收光源的输出光以提供水平光的准直透镜; 接收通过准直透镜的入射光的分光器，以提供多层结构的样本，并使得从样品反射的样品光能够穿透; 允许由分光器提供的入射光聚焦以提供给样品并具有可变焦距的流体透镜单元; 使透过分光器的样品光聚焦的聚焦透镜; 设置在聚焦透镜的焦距中的针孔; 设置在销孔的后端的光检测器; 以及流体量控制单元，其向所述流体透镜的内部提供流体，以使得所述流体透镜单元的焦距变化。
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公开(公告)号：KR1020140110178A
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：KR1020130023174
申请日：2013-03-05
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: The present invention provides a spectrum domain interface device and a spectrum domain interface device. The spectrum domain interface device comprises: a laser light source oscillating in a constant frequency band at constant longitudinal mode frequency intervals; a fiber-ferrule resonator for making light received from the laser light source penetrate selected longitudinal modes having a free spectral range greater than the longitudinal mode frequency intervals; an interferometer for making interference light having a light path difference caused by different light paths from the light received from the fiber-ferrule resonator; a spectrum analyzer for resolving and analyzing the interference light received from the interferometer according to frequencies; and a signal processing part for extracting the spectrum cycle of an interference signal according to the frequencies using the interference signal of the spectrum analyzer, and the light path difference received from the interferometer using the spectrum cycle.
Abstract translation: 本发明提供一种频域接口装置和频域接口装置。 频域接口装置包括：以恒定的纵向频率间隔在恒定频带振荡的激光光源; 用于使从激光光源接收的光的光纤套圈谐振器穿透具有大于纵向模式频率间隔的自由光谱范围的所选纵向模式; 干涉仪，用于产生具有由从光纤套圈谐振器接收的光的不同光路引起的光路差的干涉光; 频谱分析仪，用于根据频率解析和分析从干涉仪接收的干涉光; 以及信号处理部，用于使用频谱分析仪的干扰信号，根据频率提取干扰信号的频谱周期，以及使用频谱周期从干涉仪接收的光路差。
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公开(公告)号：KR1020140101489A
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：KR1020130014369
申请日：2013-02-08
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: Provided in the present invention are a spectrum domain interference apparatus and a spectrum domain interference method. The spectrum domain interference apparatus comprises: a laser source which emits light with a fixed longitudinal mode frequency width in a fixed frequency band; a fiber Bragg grating filter which receives the light from the laser source in order to penetrate longitudinal modes selected by a free spectral range (FSR) larger than the longitudinal mode frequency width; an interferometer which receives light from the fiber Bragg grating filter in order to provide interference light with an optical path difference due to different optical paths; a spectrum analyzer which receives the interference light from the interferometer in order to decompose and measure the interference light according to frequencies; and a signal processing unit which extracts a spectral cycle of an interference signal according to frequencies using the interference signal of the spectrum analyzer, and extracts an optical path difference provided by the interferometer using the spectral cycle.
Abstract translation: 本发明提供的是频域干扰装置和频域干扰方法。 频域干扰装置包括：以固定频带中的固定纵模频率发射光的激光源; 光纤布拉格光栅滤波器，其接收来自激光源的光，以穿透由大于纵向模式频率宽度的自由光谱范围（FSR）选择的纵向模式; 干涉仪，其从光纤布拉格光栅滤波器接收光，以便由于不同的光路而提供具有光程差的干涉光; 频谱分析仪，其接收来自干涉仪的干涉光，以便根据频率分解和测量干涉光; 以及信号处理单元，其使用频谱分析仪的干扰信号，根据频率提取干扰信号的频谱周期，并且使用频谱周期提取由干涉仪提供的光程差。
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公开(公告)号：KR1020140096938A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：KR1020130025964
申请日：2013-03-12
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01B11/06
Abstract: A transparent substrate monitoring device and a transparent substrate monitoring method are provided. According to an embodiment of the present invention, the transparent substrate monitoring device comprises a light emitting part for irradiating light; a double slit arranged on a plane defined by first and second directions crossing the progress direction of the incident light, and having first and second slits making the light penetrate while being separated from each other in a first direction; a light detecting part for measuring an interference pattern formed on a screen by a first light penetrating the first slit via the first position of a transparent substrate arranged between the light emitting part and the double slit and a second light penetrating the second slit via the second position of the transparent substrate, or for measuring the position movement of the interference pattern; and a signal processing part for calculating optical phase difference or optical path difference based on the first and second positions by receiving signals from the light detecting part.
Abstract translation: 提供了透明基板监视装置和透明基板监视方法。 根据本发明的实施例，透明基板监视装置包括用于照射光的发光部分; 布置在与穿过入射光的行进方向的第一和第二方向限定的平面上的双狭缝，并且具有使第一和第二狭缝在第一方向彼此分离的同时穿透; 光检测部分，用于经由布置在发光部分和双缝隙之间的透明基板的第一位置穿过第一狭缝的第一光量测量在屏幕上形成的干涉图案;以及第二光线，经由第二光通过第二狭缝 透明基板的位置，或用于测量干涉图案的位置移动; 以及信号处理部分，用于通过从光检测部分接收信号来基于第一和第二位置计算光学相位差或光程差。
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公开(公告)号：KR101361625B1
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：KR1020120062074
申请日：2012-06-11
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본 발명은 위치 측정 장치 및 위치 측정 방법을 제공한다. 이 위치 측정 방법은 증분형 스케일(incremental scale)에서 반사 또는 투과된 광을 상기 증분형 스케일의 한 주기 내에 60도의 위상차를 가지고 감지하여 측정신호를 생성하는 단계, 감지된 측정 신호를 기본 공간 주파수(fundamental spatial frequency)의 1차 정현파 및 3차 정현파의 합으로 표시하는 단계, 및 측정 신호를 이용하여 1차 정현파의 위상을 추출하는 단계를 포함한다.
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