Bauelement mit MEMS-Mikrofon und Verfahren zur Herstellung

    公开(公告)号:DE102006046292B9

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:DE102006046292

    申请日:2006-09-29

    Applicant: EPCOS AG

    Inventor: PAHL WOLFGANG

    Abstract: Bauelement mit MEMS-Mikrofon, mit einem Gehäuse, welches einen Hohlraum, darin angeordnete Anschlüsse, eine Schalleintrittsöffnung und SMT-Kontakte auf einer Außenseite aufweist mit einem MEMS-Chip mit Mikrofonfunktion, – der im Hohlraum des Gehäuses eingebaut ist, – der die Schalleintrittsöffnung von innen verschließt, – der über eine elektrisch leitende Verbindung mit den Anschlüssen des Gehäuses verbunden ist, – der mit seiner der elektrisch leitenden Verbindung gegenüber liegenden Oberfläche in mechanisch innigem Kontakt mit dem Gehäuse steht, – der durch das Gehäuse mit den SMT-Kontakten verbunden ist, bei dem das Rückseitenvolumen für die Mikrofonfunktion des MEMS-Chips durch den Hohlraum im Gehäuse seitlich des MEMS-Chips erweitert ist, bei dem die elektrisch leitende Verbindung als Federelement ausgebildet ist, das den MEMS-Chip elastisch im Bauelement hält.

    Miniaturisiertes elektrisches Bauelement mit einem Stapel aus einem MEMS und einem ASIC

    公开(公告)号:DE102010006132B4

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:DE102010006132

    申请日:2010-01-29

    Applicant: EPCOS AG

    Abstract: Elektrisches Bauelement (EB), umfassend – einen MEMS-Chip (MC) mit einem elektrischen Kontakt (EK), – einen ASIC-Chip (AC) mit einem elektrischen Kontakt (EK), – einen zwischen dem MEMS-Chip (MC) und dem ASIC-Chip (AC) angeordneten Spalt (S), – einen Rahmen (R), der im Spalt (S) angeordnet ist, – eine internen Verschaltung (IV) von MEMS-Chip (MC) und ASIC-Chip (AC), – einen externen elektrischen Anschluss (EEA), – eine Durchkontaktierung (DK) durch den MEMS-Chip (MC) oder durch den ASIC-Chip (AC), wobei – der MEMS-Chip (MC) und der ASIC-Chip (AC) übereinander angeordnet sind, – die interne Verschaltung (IV) eine direkte Verschaltung des elektrischen Kontakts (EK) des MEMS-Chips (MC) mit dem elektrischen Kontakt (EK) des ASIC-Chips (AC) umfasst und – die interne Verschaltung (IV) oder zumindest einer der elektrischen Kontakte (EK) der Chips (MC, AC) über die Durchkontaktierung (DK) mit dem externen elektrischen Anschluss (EEA) verschaltet ist,...

    Vorrichtung und Verfahren zur Übertragung von Messdaten

    公开(公告)号:DE102007038419B4

    公开(公告)日:2012-08-23

    申请号:DE102007038419

    申请日:2007-08-14

    Applicant: EPCOS AG

    Abstract: Vorrichtung zur Übertragung von Messdaten, aufweisend, — ein Gehäuse (1) für eine mechanische Baugruppe (2), — einen Sensor (3) zur Aufnahme von einem oder mehreren Betriebsparametern im Inneren des Gehäuses (1), — einen Wandler (4) im Inneren des Gehäuses (1) zur Erzeugung einer oder mehrerer akustischer Wellen (5), und — einen Modulator (6) zur Modulation des vom Sensors (3) erzeugten Signals auf die akustische Welle (5), deren Trägerfrequenz dynamisch an einen jeweiligen Betriebszustand, beinhaltend die betriebsbedingten Eigengeräusche der mechanischen Baugruppe, angepasst wird, um störenden Spektrallinien auszuweichen.

    Gehäustes elektrisches Bauelement
    35.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102010054782A1

    公开(公告)日:2012-06-21

    申请号:DE102010054782

    申请日:2010-12-16

    Applicant: EPCOS AG

    Abstract: Ein gehäustes elektrisches Bauelement umfasst ein Trägersubstrat (10), ein Federeinrichtung (20), die auf dem Trägersubstrat (10) angeordnet ist, einen Chip (30), der an einer ersten Seite (31) des Chips an die Federeinrichtung (20) gekoppelt ist, und ein Abdeckelement (100), das auf dem Trägersubstrat (10) angeordnet ist. Das Abdeckelement (100) ist derart über dem Chip (20) angeordnet, dass das Abdeckelement (100) den Chip (30) mindestens an einer zweiten von der ersten Seite verschiedenen Seite (32) des Chips berührt. Das Bauelement weist einen geringen Platzbedarf und eine hohe Dichtigkeit gegenüber Einflüssen aus der Umgebung auf.

    Verfahren zur Herstellung eines MST Bauteils

    公开(公告)号:DE102008032319B4

    公开(公告)日:2012-06-06

    申请号:DE102008032319

    申请日:2008-07-09

    Applicant: EPCOS AG

    Abstract: Verfahren zur Verkapselung eines MST Bauelements (3), bei dem – das MST Bauelement (3) derart in einem einseitig offenen Behälter (2) angeordnet wird, dass zwischen Behälterinnenseite und dem MST Bauelement (3) ein Hohlraum (1a) ausgebildet wird, und – der Behälter mit einer Deckschicht (4) verschlossen wird, wobei die Deckschicht (4) den Behälterrand mit der der Deckschicht (4) zugewandten Oberseite des MST Bauelements (3) verbindet und den Hohlraum (1a) verkapselt, – die Deckschicht (4) mit einer ringförmig geschlossenen Aussparung (4a) versehen wird, die die Deckschicht (4) in einen inneren und einen äußeren Bereich derart aufteilt, dass sowohl der innere als auch der äußere Bereich mit der der Deckschicht (4) zugewandten Oberseite des MST Bauelements (3) verbunden sind, und – der innere Bereich abgehoben wird während der äußere Bereich haften bleibt und der Hohlraum (1a) dadurch verkapselt bleibt.

    Miniaturisiertes Bauelement mit zwei Chips

    公开(公告)号:DE102010007605A1

    公开(公告)日:2011-08-11

    申请号:DE102010007605

    申请日:2010-02-11

    Applicant: EPCOS AG

    Abstract: Es wird ein miniaturisiertes, günstig herzustellendes elektrisches Bauelement angegeben. Das Bauelement umfasst ein unteres Gehäuseteil mit einem konkaven Abschnitt, einen unteren Chip, einen oberen Chip und eine Zwischenfolie, die zwischen dem unteren Chip und dem oberen Chip angeordnet ist. Der untere Chip und der obere Chip sind über eine interne Verschaltung verschaltet.

    39.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE102008005686A1

    公开(公告)日:2009-07-30

    申请号:DE102008005686

    申请日:2008-01-23

    Applicant: EPCOS AG

    Abstract: A MEMS component includes a substrate in which at least one cavity is present. The cavity is closed off toward an active side of the substrate. An inactive side is arranged opposite the active side of the substrate, and the substrate is covered with a covering film on the inactive side.

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