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31.发明专利
公开(公告)号：DE102016120312B3
公开(公告)日：2017-10-05
申请号：DE102016120312
申请日：2016-10-25
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , GONSCHIOR CORNELL PETER
Abstract: Es wird ein Verfahren zum Beleuchten von Fokuspositionen (115) objektseitig eines Objektivs (110) eines Mikroskops (100) vorgeschlagen, bei dem unter Verwendung einer bildseitig des Objektivs (110) angeordneten Abtasteinrichtung (104, 105) ein Lichtbündel (111, 112, 113) abgelenkt und in das Objektiv (110) eingestrahlt wird. Dabei ist vorgesehen, dass das Lichtbündel (111, 112, 113) in nichtkollimiertem Zustand in das Objektiv (110) eingestrahlt wird, und dass die Abtasteinrichtung (104, 105) derart angesteuert wird, dass jeweils eine aufgrund des nichtkollimierten Zustands des Lichtbündels (111, 112, 113) gegenüber einem kollimierten Referenzzustand bedingte Ablage der Fokuspositionen (115) kompensiert wird. Ein entsprechendes Mikroskop (100) ist ebenfalls Gegenstand der vorliegenden Erfindung.
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公开(公告)号：DE102014110208B4
公开(公告)日：2022-05-25
申请号：DE102014110208
申请日：2014-07-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHULZ CHRISTIAN , SCHUMANN CHRISTIAN , GONSCHIOR CORNELL , BAUER TOBIAS
Abstract: Abtastmikroskop (21) mit einem Abtastmodul (26), einem Hauptstrahlteiler (24) und mindestens einer in einem Strahlengang angeordneten Korrektionseinheit (10) zum Korrigieren eines veränderlichen sphärischen Abbildungsfehlers, wobei die mindestens eine Korrektionseinheit (10) zwischen dem Hauptstrahlteiler (24) und dem Abtastmodul (26) angeordnet ist,die mindestens eine Korrektionseinheit (10) mindestens ein optisches Korrektionselement (12) umfasst, das in einem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs längs der optischen Achse (O) verschiebbar angeordnet ist, unddas optische Korrektionselement eine Korrektionsfläche (18) aufweist, deren von dem konvergenten oder divergenten Bereich (14) des Strahlengangs durchsetzter Teil einen korrektionswirksamen Abschnitt (20) bildet, dessen radiale Ausdehnung quer zur optischen Achse (O) durch Verschieben des Korrektionselementes (12) längs der optischen Achse (O) änderbar ist.
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公开(公告)号：DE102019128681A1
公开(公告)日：2021-04-29
申请号：DE102019128681
申请日：2019-10-23
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Die Erfindung beschreibt ein Optisches System für ein Lichtblattmikroskop, mit einer Transportoptik (120), die ausgebildet ist, ein in einem Zwischenbildraum erzeugtes Lichtblatt zum Beleuchten einer schräg zur optischen Achse der Transportoptik liegenden Probenebenen in eine Probe abzubilden und die beleuchtete Probenebene in den Zwischenbildraum abzubilden. Die Transportoptik umfasst ein Wechselsystem, das mindestens ein erstes und ein zweites Lichtumlenkelement hat und ausgebildet ist, eine Beleuchtungsrichtung, längs der das Lichtblatt die Probe beleuchtet, umzuschalten, indem das erste und das zweite Lichtumlenkelement abwechselnd in einen Strahlengang der Transportoptik eingebracht werden. Das erste Lichtumlenkelement bewirkt eine teilweise Bildumkehr in nur einer Richtung und das zweite Lichtumlenkelement bewirkt eine vollständige Bildumkehr in zwei Richtungen.
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公开(公告)号：DE102019102330B3
公开(公告)日：2020-06-18
申请号：DE102019102330
申请日：2019-01-30
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： LOTTER ANDREAS , SCHULZ CHRISTIAN , SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Ein optisches System (100) für ein Mikroskop (102) umfasst ein Teleskopsystem (104) mit einer optischen Korrektionseinheit (804), die zur Korrektion eines sphärischen Abbildungsfehlers einstellbar ist, und mit einer Zoomoptik (114), die zur Anpassung der Vergrößerung des Teleskopsystems (104) an das Verhältnis zweier Brechungsindizes, von denen einer der Objektseite und der andere der Bildseite zugeordnet ist, innerhalb eines vorbestimmten Vergrößerungsbereichs einstellbar ist. Das Teleskopsystem (104) ist durch die in ihm enthaltene Zoomoptik (114) über den gesamten Vergrößerungsbereich sowohl bezüglich der Objektseite als auch bezüglich des Bildseite telezentrisch ausgeführt.
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公开(公告)号：DE102018126002A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018126002
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： WEISS ALEXANDER , SCHUMANN CHRISTIAN , CAPELLMANN RONJA
Abstract: Beschrieben ist ein Verfahren zur Bestimmung des Brechungsindex eines optischen Mediums in einem Mikroskop (10, 78), das ein einem Probenraum (14) zugewandtes Objektiv (12) aufweist, wobei das optische Medium mit dem zu bestimmenden Brechungsindex eines von zwei optischen Medien (26, 28) ist, die in dem Probenraum (14) an zwei entgegengesetzte Oberflächen (64, 68) eines Deck- oder Tragglases (16) grenzen und dadurch zwei teilreflektierende Grenzflächen bilden, die in unterschiedlichen Abständen von dem Objektiv (12) angeordnet sind. Bei dem Verfahren wird ein Messlichtbündel (34) durch das Objektiv (12) unter schrägem Einfall auf das Deck- oder Tragglas (16) gelenkt, werden zwei räumlich voneinander getrennte Reflexionslichtbündel (54a, 54b) erzeugt, indem das Messlichtbündel (34) jeweils zum Teil an den beiden Grenzflächen reflektiert wird, werden die beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) durch das Objektiv (12) empfangen und auf einen positionssensitiven Detektor (60) gelenkt, werden die Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) mittels des positionssensitiven Detektors (36) erfasst, und wird auf Grundlage der erfassten Intensitäten der beiden Reflexionslichtbündel (54a, 54b) der Brechungsindex des optischen Mediums berechnet.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102018126000A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018126000
申请日：2018-10-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： HITZLER SEBASTIAN , SIEPER JOCHEN , SCHUMANN CHRISTIAN , BAUER TOBIAS
Abstract: Ein Objektiv für ein Mikroskop (10), mit einem Korrektionsmittel (14), das zum Korrigieren eines Abbildungsfehlers einstellbar ist, wobei das Objektiv (12) einen nichtflüchtigen Speicherbaustein (32) hat, auf dem wenigstens eine dem zu korrigierenden Abbildungsfehler zugeordnete und für das Objektiv (12) individuelle Stellgröße gespeichert ist, anhand derer das Korrektionsmittel (14) einstellbar ist. Verfahren zum Korrigieren eines Abbildungsfehlers eines Mikroskops (10) mit einem Objektiv (12), bei dem ein in dem Objektiv (12) angeordnetes Korrektionsmittel (14) zum Korrigieren des Abbildungsfehlers eingestellt wird, wobei in dem Objektiv (12) wenigstens eine dem Abbildungsfehler zugeordnete und für das Objektiv (12) individuelle Stellgröße des Korrektionsmittels (14) gespeichert wird, anhand derer das Korrektionsmittel (14) einstellbar ist.
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37.发明专利
公开(公告)号：DE102016123258A1
公开(公告)日：2018-06-07
申请号：DE102016123258
申请日：2016-12-01
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Die Erfindung betrifft eine Lumineszenzdetektoranordnung zum Detektieren eines Lumineszenzsignals mit einem Sensorelement (118) mit zumindest einem Multitap-Pixel mit zumindest einer ersten Speicherzelle und einer zweiten Speicherzelle, wobei das Sensorelement (118) dazu eingerichtet ist, das Multitap-Pixel in einem ersten Zeitintervall (208) mittels der ersten Speicherzelle auszulesen und in einem vom ersten Zeitintervall (208) verschiedenen zweiten Zeitintervall (209) mittels der zweiten Speicherzelle auszulesen. Ferner weist die Lumineszenzdetektoranordnung eine Lichtquelle (104) auf, welche dazu eingerichtet ist, ein erstes Emissionslicht in zumindest einem ersten Spektralbereich zu emittieren und unabhängig davon ein zweites Emissionslicht in einem zweiten Spektralbereich zu emittieren, wobei der erste Spektralbereich und der zweite Spektralbereich zumindest teilweise voneinander verschieden sind, wobei die Lichtquelle (104) mit dem Sensorelement (118) synchronisiert ist, um in dem ersten Zeitintervall (208) das erste Emissionslicht zu emittieren und in dem zweiten Zeitintervall (209) das zweite Emissionslicht zu emittieren; und wobei die Lumineszenzdetektoranordnung ferner dazu eingerichtet ist, ein durch das erste Emissionslicht und durch das zweite Emissionslicht hervorgerufenes Lumineszenzsignal mit dem Sensorelement (118) zu detektieren. In einem weiteren Aspekt betrifft die Erfindung ein Fluoreszenzmikroskop und ein Verfahren zum Detektieren eines Lumineszenzsignals.
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公开(公告)号：DE102016117803A1
公开(公告)日：2018-03-22
申请号：DE102016117803
申请日：2016-09-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN , GONSCHIOR CORNELL PETER , WEISS ALBRECHT
Abstract: Es wird ein Mikroskop (1) mit einer einen Auflichtbeleuchtungsstrahlengang (11) mit einer optischen Achse (12) definierenden Weitfeld-Auflichteinheit (10), mit einer digitalen Bildaufnahmeeinheit (40) und mit einer Steuereinheit (50), wobei in den Beleuchtungsstrahlengang (11) eine Leuchtfeldblende eingebracht ist, die als ein auf Grundlage einer Positionsvorgabe der Steuereinheit (50) mittels eines Antriebs (18) durch Drehen um eine parallel zu der optischen Achse (12) liegende Rotationsachse (17) in unterschiedlichen Winkelstellungen positionierbares Blendenrad (100) ausgebildet ist ist, vorgeschlagen. Es ist vorgesehen, dass das Blendenrad (100) eine oder mehrere Strukturblenden trägt, die derart ausgebildet und auf dem Blendenrad (100) angeordnet ist oder sind, dass durch deren Beleuchten mittels einer Lichtquelle (13) der Weitfeld-Auflichteinheit (10) bei zwei oder mehr der unterschiedlichen Winkelstellungen durch Rotation oder Translation zumindest teilweise ineinander überführbare Beleuchtungsmuster in einer Objektebene (23) des Mikroskops (1) erzeugbar sind.
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公开(公告)号：DE102016113618B4
公开(公告)日：2018-03-08
申请号：DE102016113618
申请日：2016-07-25
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Mikroskop (103) mit einem Mikroskoptisch (101) zum Tragen einer zu untersuchenden Probe (110), wobei ein probenseitiger Bereich des Mikroskoptisches (101), der zur Positionierung und/oder Manipulation und/oder Entnahme der Probe (110) zugänglich ist, als Probenraum (114) definiert ist, und mit einer Mikroskopbeleuchtungseinrichtung (105) zur Beleuchtung der zu untersuchenden Probe (110) zu mikroskopischen Abbildungszwecken, gekennzeichnet durch ein Probenraumbeleuchtungssystem (108), das im eingeschalteten Zustand den Probenraum (114) beleuchtet und durch mindestens einen Näherungssensor (107), der eine Annäherung eines Benutzers oder eines Werkzeuges an den Probenraum (114) des Mikroskoptisches (101) detektiert, wobei der mindestens eine Näherungssensor (107) mit dem Probenraumbeleuchtungssystem (108) elektronisch derart verbunden ist, dass er bei Detektion einer Annäherung das Probenraumbeleuchtungssystem (108) einschaltet; wobei das Mikroskop (13) eine den Mikroskoptisch (101) und den Probenraum (114) umgebende Probenkammer (102) aufweist und das Probenraumbeleuchtungssystem (108) innerhalb der Probenkammer (102) angeordnet ist, wobei die Probenkammer (102) einen begrenzten unverschlossenen und nicht verschließbaren Öffnungsbereich (106, 205) aufweist, über den der Probenraum (114) zur Positionierung, Manipulation und/oder Entnahme der Probe (110) unmittelbar ohne Öffnen eines Verschlusselements von außen zugänglich ist.
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公开(公告)号：DE102016119268B3
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：DE102016119268
申请日：2016-10-10
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SCHUMANN CHRISTIAN
Abstract: Schiefebenenmikroskop (10) umfassend eine Detektionsoptik (16) mit einem Bildsensor (30), der eine aus einer Vielzahl von parallel zueinander angeordneten Sensorzeilen (33) gebildete Sensorfläche (28) aufweist, und eine Transportoptik (14) mit einem probenzugewandten Objektiv (44), das sowohl zur Probenbeleuchtung mittels eines gegenüber der optischen Achse (O2) der Transportoptik (14) verkippten Lichtblatts (21) als auch zur Abbildung einer mit dem Lichtblatt (21) beleuchteten Probenebene (23) auf die Sensorfläche (28) des Bildsensors (30) vorgesehen ist, wobei die optische Achse (O3) der Detektionsoptik (16) gegenüber der optischen Achse (O2) der Transportoptik (14) verkippt ist. Die Sensorzeilen (33) erstrecken sich jeweils in einer zur optischen Achse (O2) der Transportoptik (14) orthogonalen Richtung. Die Detektionsoptik (16) weist ein anamorphotisches Vergrößerungssystem (65) auf, dessen Vergrößerung in einer orthogonal zu den Sensorzeilen (33) des Bildsensors (30) liegenden Richtung kleiner als in einer parallel zu den Sensorzeilen (33) des Bildsensors (30) liegenden Richtung ist.
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