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公开(公告)号:KR100470897B1
公开(公告)日:2005-03-10
申请号:KR1020020042539
申请日:2002-07-19
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L23/28
CPC classification number: H01L23/4951 , H01L23/49537 , H01L23/49558 , H01L23/49575 , H01L24/32 , H01L24/45 , H01L24/48 , H01L2224/32014 , H01L2224/32245 , H01L2224/45015 , H01L2224/45144 , H01L2224/48091 , H01L2224/48247 , H01L2224/4826 , H01L2224/73215 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/0105 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/181 , H01L2924/00 , H01L2924/20753 , H01L2224/05599
Abstract: 본 발명은 듀얼 다이 패키지 제조 방법에 관한 것으로, 솔더 디핑 공정을 사용하지 않고 제 1 리드 프레임과 제 2 리드 프레임 사이의 양호한 접합 신뢰성을 확보할 수 있도록 접합하기 위해서, 제 1 리드 프레임과 제 2 리드 프레임의 접합될 면의 적어도 일면에 접합 부재를 형성하는 단계와, 성형 공정에서 성형 금형이 제 1 리드 프레임과 제 2 리드 프레임을 클램핑 할 때 제 2 리드 프레임과 제 2 리드 프레임의 접합될 면에 작용하는 소정의 열과 압력으로 접합 부재의 계면 확산을 증가시켜 금속 접합을 구현하는 것을 특징으로 하는 듀얼 다이 패키지의 제조 방법을 제공한다. 본 발명에 따른 듀얼 다이 패키지의 제조 방법에 있어서, 제 1 리드 프레임과 제 2 리드 프레임이 접합되는 면에는 접합 부재와 양호한 접합성을 갖는 도금층이 형성된다. 도금층으로는 성형 온도에서 내산화성이 있으며, 금속 간 확산력이 우수한 은 또는 솔더 소재를 사용하는 것이 바람직하다. 그리고 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 접합 부재로는 성형 온도에서 도금층과 확산에 의한 반응성이 좋은 특성을 갖는 금 또는 솔더 소재를 사용하는 것이 바람직하다. 예컨대, 금 소재의 본딩 와이어(Au bonding wire), 금 범프(Au bump), 금 바(Au bar), 솔더 범프(solder), 솔더 바(solder bar)를 사용하는 것이 바람직하다.
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公开(公告)号:KR1020050017206A
公开(公告)日:2005-02-22
申请号:KR1020030055396
申请日:2003-08-11
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L21/52
CPC classification number: H01L21/6836 , H01L21/78 , H01L24/06 , H01L24/27 , H01L24/29 , H01L24/73 , H01L24/83 , H01L25/0657 , H01L25/50 , H01L2221/68327 , H01L2224/04042 , H01L2224/05554 , H01L2224/05624 , H01L2224/06136 , H01L2224/274 , H01L2224/29 , H01L2224/29101 , H01L2224/2919 , H01L2224/29298 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/48227 , H01L2224/73265 , H01L2224/83191 , H01L2224/83856 , H01L2224/92 , H01L2224/92247 , H01L2225/0651 , H01L2225/06568 , H01L2225/06575 , H01L2924/00013 , H01L2924/01004 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01014 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/01082 , H01L2924/0132 , H01L2924/014 , H01L2924/0665 , H01L2924/07802 , H01L2924/10253 , H01L2924/12044 , H01L2924/14 , H01L2924/15311 , H01L2924/15787 , H01L2924/181 , H01L2924/01028 , H01L2924/00 , H01L2924/3512 , H01L2924/00012 , H01L2924/00014 , H01L2224/29099 , H01L2224/29199 , H01L2224/29299 , H01L2224/2929
Abstract: PURPOSE: A method of fabricating a semiconductor device is provided to prevent warpage of a wafer by forming an adhesive layer on a backside of a wafer. CONSTITUTION: A wafer is prepared(81). A polishing process for a backside of the wafer is performed(82). An organic adhesive is coated on the backside of the wafer and the backside is hardened as a B-stage(83). The wafer including the B-stage adhesive layer is adhered on a sawing tape and a sawing process is performed to form individual semiconductor chips(84). Individual semiconductor chips having the B-stage adhesive layers are adhered on a wiring substrate(85). The wiring substrate including the semiconductor chips is inserted into an oven in order to change the B-stage adhesive layer to a C-stage adhesive layer.
Abstract translation: 目的:提供一种制造半导体器件的方法,以通过在晶片的背面上形成粘合剂层来防止晶片翘曲。 构成:制备晶片(81)。 执行晶片背面的抛光工艺(82)。 有机粘合剂涂覆在晶片的背面,背面被硬化为B级(83)。 将包括B级粘合剂层的晶片粘附在锯条上,并执行锯切工艺以形成单独的半导体芯片(84)。 具有B级粘合剂层的单独的半导体芯片粘附在布线基板(85)上。 将包括半导体芯片的布线基板插入烘箱中以便将B级粘合剂层改变为C级粘合剂层。
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公开(公告)号:KR1020020091976A
公开(公告)日:2002-12-11
申请号:KR1020010030809
申请日:2001-06-01
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor: 김평완
IPC: H01L23/12
CPC classification number: H01L2224/4826
Abstract: PURPOSE: A stack chip package for SD(Secure Digital) memory card is provided to minimize a size of the SD memory card by stacking a flash memory chip and a controller chip within one package body. CONSTITUTION: A flash memory chip and a controller chip(10) are adhered on an upper face and a lower face(31) of a die pad(32). A front end portion of a lead(34) extended to the die pad(32) is electrically connected with a flash memory chip and a controller chip(10). An electrical connection portion including the flash memory chip and the controller chip(10) is protected by a package body(50). The controller chip(10) is adhered on a lower face of the die pad(31). The first electrode pads(12) are formed on both sides of edges of the controller chip(10). The flash memory chip is adhered on an upper face of the die pad(32). The second electrode pads are formed on both sides of edges of the flash memory chip. An inner lead(36) is extended to four sides of the die pad(32). An outer lead(38) is projected to the outside of the package body(50). The inner lead(36) is formed with the first and the second inner leads(35,37).
Abstract translation: 目的:提供用于SD(安全数字)存储卡的堆叠芯片封装,以通过将闪存芯片和控制器芯片堆叠在一个封装体内来最小化SD存储卡的尺寸。 构成:闪存芯片和控制器芯片(10)粘附在芯片焊盘(32)的上表面和下表面(31)上。 延伸到管芯焊盘(32)的引线(34)的前端部分与闪存芯片和控制器芯片(10)电连接。 包括闪存芯片和控制器芯片(10)的电连接部分由封装体(50)保护。 控制器芯片(10)粘附在芯片焊盘(31)的下表面上。 第一电极焊盘(12)形成在控制器芯片(10)的边缘的两侧。 闪存芯片粘附在芯片焊盘(32)的上表面上。 第二电极焊盘形成在闪存芯片的边缘的两侧。 内引线(36)延伸到管芯焊盘(32)的四个侧面。 外引线(38)突出到封装主体(50)的外部。 内引线(36)形成有第一和第二内引线(35,37)。
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公开(公告)号:KR1020160022698A
公开(公告)日:2016-03-02
申请号:KR1020140108585
申请日:2014-08-20
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: A61B5/1473 , A61B5/0215 , A61B5/027
CPC classification number: A61B5/6861 , A61B5/0031 , A61B5/0215 , A61B5/14503 , A61B5/14532 , A61B2562/162 , A61B2562/166
Abstract: 감지처리패키지는튜브, 커버, 칩, 스트레인드층을가질수 있다. 커버는튜브에결합할수 있다. 칩은튜브에내장되고, 1회전이상롤업할수 있다. 스트레인드층은칩의일면에결합할수 있다.
Abstract translation: 感测数据处理包包括管,盖,芯片和应变层。 盖可以联接到管。 芯片嵌入管中,可以卷起一匝或多圈。 应变层可以耦合到芯片的一个表面。
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公开(公告)号:KR1020150098422A
公开(公告)日:2015-08-28
申请号:KR1020140019694
申请日:2014-02-20
IPC: H01L27/146
CPC classification number: H01L27/14627 , H01L27/14618 , H01L27/1462 , H01L27/14623 , H01L27/14636 , H01L31/0203 , H01L2224/13 , H01L2224/48091 , H01L2224/73265 , H01L2224/8592 , H01L2924/181 , H01L2924/00014 , H01L2924/00012
Abstract: 마이크로 렌즈가 구비된 복수의 단위 픽셀을 보호하기 위한 투명 보호 커버를 포함하는 이미지 센서 패키지를 제공한다. 서로 반대되는 제1 면과 제2 면을 가지며, 제1 면에 형성되는 복수의 단위 픽셀을 포함하는 센서 어레이 영역 및 센서 어레이 영역의 주위에 배치되는 패드를 포함하는 패드 영역으로 이루어지는 기판, 복수의 단위 픽셀 상에 각각 형성되는 복수의 마이크로 렌즈, 복수의 마이크로 렌즈를 덮는 적어도 2개의 투명 물질층 및 적어도 2개의 투명 물질층을 사이에 두고 복수의 마이크로 렌즈 상에 부착되는 투명 보호 커버를 포함한다.
Abstract translation: 提供了一种图像传感器封装,其包括用于保护具有微透镜的单元像素的透明保护盖。 图像传感器封装包括:具有第一表面和第二表面的基板,具有包括形成在第一表面上的单位像素的传感器阵列区域和具有布置在传感器阵列区域周围的焊盘的焊盘区域; 分别形成在所述单位像素上的多个微透镜; 覆盖所述多个微透镜的至少两个透明材料层; 以及透明保护罩,其通过插入所述至少两个透明材料层而形成并附接到所述微透镜上。
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公开(公告)号:KR101424137B1
公开(公告)日:2014-08-04
申请号:KR1020070091225
申请日:2007-09-07
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L23/04
CPC classification number: H01L23/13 , H01L24/97 , H01L25/0657 , H01L25/105 , H01L2224/16 , H01L2224/16225 , H01L2225/06517 , H01L2225/06541 , H01L2225/1058 , H01L2924/01078 , H01L2924/01079 , H01L2924/15311 , H01L2924/351 , H01L2924/00
Abstract: 반도체 패키지 및 그의 제조방법을 제공한다. 상기 반도체 패키지는 수지 기판을 구비한다. 상기 수지 기판은 제1 리세스부, 및 상기 제1 리세스부의 주변에 위치하는 주변부를 구비한다. 상기 제1 리세스부의 바닥면 상에 제1 배선부가 배치된다. 상기 제1 리세스부 내에 상부 반도체 칩이 배치된다. 상기 상부 반도체 칩은 제1 내부 전도성 돌기부를 통해 상기 제1 배선부에 전기적으로 접속한다. 상기 제1 리세스부를 채우는 언더필 수지층이 배치된다. 상기 언더필 수지층은 상기 상부 반도체 칩의 측면을 덮는다.
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公开(公告)号:KR101387706B1
公开(公告)日:2014-04-23
申请号:KR1020070082890
申请日:2007-08-17
Applicant: 삼성전자주식회사
CPC classification number: H01L23/49816 , H01L21/568 , H01L21/6835 , H01L23/5389 , H01L24/10 , H01L24/13 , H01L2224/04105 , H01L2224/05548 , H01L2224/05573 , H01L2224/12105 , H01L2224/13 , H01L2224/13099 , H01L2224/96 , H01L2924/00014 , H01L2924/01005 , H01L2924/01006 , H01L2924/01015 , H01L2924/01033 , H01L2924/01075 , H01L2924/01078 , H01L2924/01082 , H01L2924/01087 , H01L2924/15311 , H01L2924/181 , H01L2924/351 , H05K3/3436 , H05K2201/10977 , Y02P70/613 , H01L2924/00 , H01L2224/05599 , H01L2924/00012
Abstract: 반도체 칩 패키지를 제공한다. 이 반도체 칩 패키지는 본딩 패드들을 구비하는 활성면, 활성면에 대향하는 배면 및 측면을 갖는 반도체 칩, 반도체 칩의 배면 및 측면을 둘러싸는 몰딩 확장부, 본딩 패드들과 전기적으로 연결되면서 몰딩 확장부로 연장된 재배선 패턴들, 재배선 패턴들 상에 제공된 범프용 솔더 볼들, 및 반도체 칩의 활성면 및 몰딩 확장부를 덮으면서 범프용 솔더 볼들 각각의 일부가 노출되도록 제공된 몰딩층을 포함한다. 서로 인접하는 범프용 솔더 볼들 사이의 몰딩층은 메니스커스 요면을 갖고, 범프용 솔더 볼들은 활성면과 평행하면서 최대 직경을 갖는 단면을 포함하고, 활성면으로부터 메니스커스 요면의 범프용 솔더 볼과 접하는 가장자리까지의 높이는 범프용 솔더 볼의 단면으로부터 아래 또는 위로 범프용 솔더 볼의 최대 직경의 1/7 길이 이내인 것을 특징으로 한다.
패키지, 팬 아웃, 웨이퍼, 칩, 메니스커스Abstract translation: 一种半导体芯片封装,包括:半导体芯片,包括具有接合焊盘的第一表面,与所述第一表面相对的第二表面和侧壁; 围绕半导体芯片的第二表面和侧壁的成型延伸部分; 重新分布图案从接合焊盘延伸到模制延伸部分上,并且电连接到焊盘; 碰撞焊球上的再分布图案; 以及模制层,其被配置为覆盖半导体芯片的第一表面和模制延伸部分,同时暴露每个凸块焊球的部分。 成型层在彼此相邻的凸块焊料球之间具有凹面弯月面。
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公开(公告)号:KR1020140016023A
公开(公告)日:2014-02-07
申请号:KR1020120082969
申请日:2012-07-30
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L27/146 , H01L27/14
CPC classification number: H01L31/0203 , H01L27/14618
Abstract: An image sensor package includes a package substrate, an image sensor chip, a holder, and a cover glass. The image sensor chip is arranged on the upper surface of the package substrate and is electrically connected to the package substrate. The holder is arranged on the upper surface of the package substrate and has a cavity accommodating the image sensor chip. Also, the holder has a rounded edge part and a rounded corner part for reinforcing rigidity against thermal stress. A cover glass covers the cavity of the holder. Therefore, the rigidity against the thermal stress is reinforced.
Abstract translation: 图像传感器封装包括封装基板,图像传感器芯片,保持器和盖玻璃。 图像传感器芯片布置在封装基板的上表面上并与封装基板电连接。 保持器布置在封装基板的上表面上,并且具有容纳图像传感器芯片的空腔。 此外,保持器具有圆形边缘部分和用于加强抗热应力的刚性的圆角部。 盖玻璃覆盖支架的空腔。 因此,抵抗热应力的刚性得到加强。
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公开(公告)号:KR1020090100895A
公开(公告)日:2009-09-24
申请号:KR1020080026413
申请日:2008-03-21
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L23/12
CPC classification number: H01L25/0657 , H01L21/568 , H01L21/6835 , H01L23/5389 , H01L24/19 , H01L24/20 , H01L24/96 , H01L24/97 , H01L25/105 , H01L2224/0401 , H01L2224/04105 , H01L2224/12105 , H01L2224/20 , H01L2224/32145 , H01L2224/73267 , H01L2224/92244 , H01L2224/97 , H01L2225/06524 , H01L2225/1035 , H01L2225/1058 , H01L2924/01006 , H01L2924/01013 , H01L2924/01029 , H01L2924/01033 , H01L2924/01047 , H01L2924/01075 , H01L2924/01078 , H01L2924/15173 , H01L2924/15311 , H01L2924/15331 , H01L2224/82
Abstract: PURPOSE: A method for manufacturing a semiconductor package is provided to maintain the more stable performance. CONSTITUTION: The backside surfaces of chip pads(115a,115b) are bonded. The sealing unit(120) covering the sides of second semiconductor chips is formed. Via plugs is formed which passes through the sealing unit. The insulating layers which expose the surface of chip pads and via plugs are formed on the exposed surfaces of second semiconductor chips and the surface of the sealing units. The package pads are formed on the surface of exposed chip pads and surface of via plugs.
Abstract translation: 目的:提供一种制造半导体封装的方法,以保持更稳定的性能。 构成:芯片焊盘(115a,115b)的背面接合。 形成覆盖第二半导体芯片的侧面的密封单元(120)。 形成通过密封单元的塞子。 在第二半导体芯片的暴露表面和密封单元的表面上形成露出芯片焊盘表面和通孔的绝缘层。 封装焊盘形成在暴露的芯片焊盘的表面和通孔插头的表面上。
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公开(公告)号:KR1020090038643A
公开(公告)日:2009-04-21
申请号:KR1020070104035
申请日:2007-10-16
Applicant: 삼성전자주식회사
IPC: H01L23/48
CPC classification number: H01L23/49541 , H01L23/3114 , H01L2224/04105 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: A semiconductor package and an electronic device including the same are provided to improve reliability of a semiconductor package by minimizing a disconnection phenomenon and a crack of a wiring due to a thermal or mechanical stress. A semiconductor package(100) includes a semiconductor chip(110) and a molding film(120). The semiconductor chip and the molding film have a quadrangle plane structure. The semiconductor chip includes a plurality of die pads(130). The semiconductor package includes a plurality of out terminals(140) connected to the die pads. The die pads are arranged on four surfaces or two surfaces of the semiconductor chip. The out terminals are arranged around the semiconductor chip. A wiring(150) is extended from the die pad to the out terminal, and is overlapped with an interface(160) between the semiconductor chip and the molding film. A part(170) overlapped with the interface has a wider width than a different part.
Abstract translation: 提供半导体封装和包括该半导体封装的电子器件,以通过最小化由于热或机械应力引起的断线现象和布线裂纹来提高半导体封装的可靠性。 半导体封装(100)包括半导体芯片(110)和模制薄膜(120)。 半导体芯片和成型膜具有四边形平面结构。 半导体芯片包括多个管芯焊盘(130)。 半导体封装包括连接到管芯焊盘的多个端子(140)。 芯片焊盘布置在半导体芯片的四个表面或两个表面上。 输出端子布置在半导体芯片周围。 布线(150)从芯片焊盘延伸到外部端子,并且与半导体芯片和成型膜之间的接口(160)重叠。 与界面重叠的部分(170)具有比不同部分宽的宽度。
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