42.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE10156506C1

    公开(公告)日:2003-05-22

    申请号:DE10156506

    申请日:2001-11-16

    Abstract: A method for generating a multicolor image of a specimen with a microscope is disclosed. The method comprises the step of determining the spacing of the focal planes of a first illuminating light beam that has a first wavelength and of a second illuminating light beam that has a second wavelength; the step of scanning the specimen with the first illuminating light beam and generating a first partial image; the step of performing a relative displacement, by an amount equal to the spacing, between the specimen and the focal plane of the illuminating light beam of the second wavelength; the step of scanning the specimen with the second illuminating light beam and generating a second partial image; and the step of superimposing the first and second partial images to yield the multicolor image. Further more a microscope and a confocal scanning microscope are disclosed.

    43.
    发明专利
    未知

    公开(公告)号:DE19853407A1

    公开(公告)日:2000-05-31

    申请号:DE19853407

    申请日:1998-11-19

    Abstract: The present invention relates to a method for adjusting the system parameters of a confocal laser-scanning microscope, wherein the adjustment of the system parameters is carried out using a control computer. The purpose of this invention is to provide a simplified and safer handling of the microscope. To this end, this method is characterised in that the user is guided by a dialog in which, when inputting at least one object parameter and/or at least one system parameter, said user is proposed adjustments for the other system parameters and/or the other system parameters are automatically adjusted.

    Verfahren zur Untersuchung der Lebensdauer angeregter Zustände in einer Probe

    公开(公告)号:DE102004017956B4

    公开(公告)日:2022-07-07

    申请号:DE102004017956

    申请日:2004-04-14

    Inventor: SCHREIBER FRANK

    Abstract: Verfahren zur Untersuchung einer Lebensdauer angeregter Zustände von Probenfarbstoffen in einer Probe (27) unter Verwendung eines Mikroskops mit mindestens einer Lichtquelle, die einen Halbleiterlaser (3), der gepulstes Anregungslicht (11) emittiert, und zumindest einen weiteren Halbleiterlaser (5), der weiteres gepulstes Anregungslicht (11) emittiert, beinhaltet, und mit mindestens einem Detektor, der von der Probe (27) ausgehendes Detektionslicht empfängt, wobei der Halbleiterlaser (3) und der zumindest eine weitere Halbleiterlaser (5) aufeinander synchronisiert sind, mit den Schritten:Anregen der Probenfarbstoffe mit Anregungslicht (11) des Halbleiterlasers (3) und des zumindest einen weiteren Halbleiterlasers (5) undEinstellen der Puls-Repetitionsrate auf die spezifischen Lebensdauereigenschaften der Probenfarbstoffe in der Probe (27).

    Verfahren zum Betreiben eines Detektors sowie Detektorvorrichtung und optische Vorrichtung

    公开(公告)号:DE102014115417B4

    公开(公告)日:2021-11-11

    申请号:DE102014115417

    申请日:2014-10-22

    Abstract: Verfahren zum Betreiben eines Detektors (4), der dazu ausgebildet ist, Detektionslicht (50) zu empfangen und bei Anliegen wenigstens einer Versorgungsspannung von mehr als 100 V elektrische Signale zu erzeugen, wobei die Höhe der Versorgungsspannung mittels einer Schaltvorrichtung (15, 17), die wenigstens einen halbleiterbasierten Schalter (31) beinhaltet, eingestellt wird, wobei der halbleiterbasierte Schalter (31) wenigstens ein steuerbares Beleuchtungselement (29) und ein von dem Beleuchtungselement (29) elektrisch isoliertes, lichtempfindliches Schaltelement (25) aufweist, wobei der elektrische Widerstand des lichtempfindlichen Schaltelements (25) von der Leistung des von dem Beleuchtungselement (29) empfangenen Schaltlichts abhängt, dadurch gekennzeichnet, dass das lichtempfindliche Schaltelement (25) als Reihenschaltung mehrerer Feldeffekttransistoren (27) ausgebildet ist, deren Gateschichten (28) mit dem Schaltlicht beleuchtet werden.

    Detektionsvorrichtung für eine optische Anordnung und ein Konfokalmikroskop

    公开(公告)号:DE102004053705B4

    公开(公告)日:2016-04-14

    申请号:DE102004053705

    申请日:2004-11-03

    Inventor: SCHREIBER FRANK

    Abstract: Detektionsvorrichtung für eine optische Anordnung, mit einem Detektor, einer in einem Strahlengang (1) eines Detektionslichts vor dem Detektor angeordneten Lochblende (2), einer vor der Lochblende (2) angeordneten Linse (3) zur Fokussierung des Detektionslichts auf die Lochblende (2) und einem im Strahlengang (1) vor der Linse (3) angeordneten Mittel (4), das die Linse (3) wellenlängenabhängig ausleuchtet, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausleuchtung der Linse (3) derart vorgebbar ist, dass die numerische Apertur des durch die Linse (3) erzeugten Beleuchtungskegels (5) proportional zur Wellenlänge des Detektionslichts ist.

    Mikroskop und ein Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit einem Mikroskop

    公开(公告)号:DE102012219136A1

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:DE102012219136

    申请日:2012-10-19

    Abstract: Ein Mikroskop, insbesondere Konfokalmikroskop, mit einem oder mehreren Lasern zur Erzeugung eines Beleuchtungslichts für eine Probe und einer Detektionseinrichtung für Detektionssignale von der Probe, wobei die Detektionseinrichtung mehrere zur Detektion vorgebbarer unterschiedlicher Wellenlängenbereiche (1, 2) einstellbare spektrale Detektionskanäle (Ch.1, Ch.2) aufweist, ist im Hinblick auf eine besonders vielseitige Anwendung unter Berücksichtigung unterschiedlichster Phänomene bei besonders guter Trennung der Phänomene bei einer Untersuchung derart ausgestaltet und weitergebildet, dass bei den spektralen Detektionskanälen (Ch.1, Ch.2) jeweils mehrere zeitliche Detektionsfenster (Ch.1.1, Ch.1.2, Ch.1.3, Ch.2.1, Ch.2.2, Ch.2.3) einstellbar sind. Des Weiteren ist ein entsprechendes Verfahren zur Untersuchung einer Probe mit dem Mikroskop angegeben.

    Detektorvorrichtung
    48.
    发明专利

    公开(公告)号:DE102012101679A1

    公开(公告)日:2013-02-21

    申请号:DE102012101679

    申请日:2012-02-29

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Detektorvorrichtung, die dazu ausgebildet ist Licht zu empfangen und elektrische Signale zu erzeugen, mit einem Gehäuse und einem in dem Gehäuse angeordneten Detektor, wobei innerhalb des Gehäuses ein Kühlbauteil angeordnet ist. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, dass das Kühlbauteil den Detektor gegenüber dem Gehäuse elektrisch isoliert oder dass das Kühlbauteil wenigstens Teil einer Isolierung ist, die den Detektor gegenüber dem Gehäuse elektrisch isoliert.

    Einrichtung und Verfahren zum Verteilen von Beleuchtungslicht und Detektionslicht in einem Mikroskop

    公开(公告)号:DE102011052686A1

    公开(公告)日:2013-02-14

    申请号:DE102011052686

    申请日:2011-08-12

    Inventor: SCHREIBER FRANK

    Abstract: Beschrieben sind eine Einrichtung (10) und ein Verfahren zum Verteilen von Beleuchtungslicht (14) und Detektionslicht (20) in einem Mikroskop. Die Einrichtung (10) hat eine Verteileroptik (12), die das Beleuchtungslicht (14) auf eine Probe (18) und das von der Probe (18) ausgehende Detektionslicht (20) auf mindestens einen Detektor (26) leitet. Die Verteileroptik (12) umfasst eine in einem ersten Lichtpfad angeordnete Polarisationseinheit (28, 30, 32) zum Überführen des auf die Probe (18) gerichteten Beleuchtungslichtes (14) in einen ersten Polarisationszustand; einen in dem ersten Lichtpfad angeordneten Strahlteiler (34), der eine Polarisationsabhängigkeit derart aufweist, dass er das in den ersten Polarisationszustand überführte Beleuchtungslicht (14) auf die Probe (18) leitet und einen ersten Teil (20a) des von der Probe (18) ausgehenden Detektionslichtes (20), der den ersten Polarisationszustand aufweist, zurück in den ersten Lichtpfad leitet, während er einen zweiten Teil (20b) des Detektionslichtes (20), der einen von dem ersten Polarisationszustand verschiedenen zweiten Polarisationszustand aufweist, in einen von dem ersten Lichtpfad getrennten zweiten Lichtpfad leitet; und einen Strahlvereiniger (38), der den ersten Teil (20a) und den zweiten Teil (20b) des Detektionslichtes (20) miteinander vereinigt und auf den Detektor (26) leitet.

Patent Agency Ranking