VORRICHTUNG FÜR DIE KORRELATIVE RASTER-TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOPIE (STEM) UND LICHTMIKROSKOPIE
    41.
    发明申请
    VORRICHTUNG FÜR DIE KORRELATIVE RASTER-TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOPIE (STEM) UND LICHTMIKROSKOPIE 审中-公开
    设备相关的电网输送电子(STEM)及光镜

    公开(公告)号:WO2015135534A1

    公开(公告)日:2015-09-17

    申请号:PCT/DE2015/100097

    申请日:2015-03-10

    Inventor: DE JONGE, Niels

    Abstract: Vorrichtung für die korrelative Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Lichtmikroskopie Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die korrelative Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) und Lichtmikroskopie. Um eine Vorrichtung für das korrelative Mikroskopieren zu schaffen, die eine verbesserte Kombination von lichtmikroskopischem und STEM-Verfahren ermöglicht, wird im Rahmen der Erfindung vorgeschlagen, daß ein STEM-Detektor (7) mit einer lichtoptischen Linse (8) kombiniert ist. Diese Detektionsvorrichtung kombiniert die effiziente Detektion mittels STEM-Mikroskopie von Materialien mit hoher Atomzahl, beispielsweise spezifischen Nanopartikel-Markern in einer Probe in einer Flüssigkeit, wie einer Zelle, mit gleichzeitiger Lichtmikroskopie.

    Abstract translation: 装置相关的扫描透射电子显微镜(STEM)显微术和光学显微镜中,本发明涉及一种用于相关的扫描透射电子显微镜(STEM)显微术和光学显微镜的装置。 为了提供用于相关显微术,它允许光学显微镜和STEM过程的改进的组合的装置中,本发明一个STEM检测器(7)的光的光学透镜(8)组合中提出。 这个检测装置组合由具有高原子序数的材料,如样品中的纳米颗粒的特异性标志物在液体中,例如细胞,并同时光镜STEM显微镜高效的检测。

    多光源顕微鏡
    42.
    发明申请
    多光源顕微鏡 审中-公开
    多光源显微镜

    公开(公告)号:WO2012093474A1

    公开(公告)日:2012-07-12

    申请号:PCT/JP2011/050044

    申请日:2011-01-05

    Abstract:  同一の生体組織試料について、電子像観察だけでなく、蛍光像観察、および透視像観察等を行うことも可能な、複数の観察用光源を備えた多光源顕微鏡を提供する。 本発明の多光源顕微鏡は、光源部を備え蛍光を観察するための光学顕微鏡部と、走査型電子顕微鏡部とからなり、該光学顕微鏡は反射面が非球面型であるカセグレン鏡を有し、該カセグレン鏡が該走査型顕微鏡部の鏡筒内に該走査型電子顕微鏡部の電子ビームの光軸と同軸となるように配置されている。

    Abstract translation: 本发明提供一种不仅对同一生物组织样品进行电子图像观察,而且能够进行荧光图像观察,荧光透视图像观察等的多光源显微镜,还具备多个观察用光源。 公开了这种多光源显微镜,其由以下部分构成:用于观察荧光的光学显微镜单元,设置有光源单元; 以及扫描电子显微镜单元,其中,所述光学显微镜具有带有非球面反射面的卡塞格林镜,并且所述卡塞格朗格镜布置在所述扫描显微镜单元的透镜镜筒中,以与所述扫描显微镜单元的电子束的光轴同轴 扫描电子显微镜单元。

    COLUMN SIMULTANEOUSLY FOCUSING A PARTICLE BEAM AND AN OPTICAL BEAM
    45.
    发明申请
    COLUMN SIMULTANEOUSLY FOCUSING A PARTICLE BEAM AND AN OPTICAL BEAM 审中-公开
    柱同时聚焦颗粒光束和光束

    公开(公告)号:WO01071766A1

    公开(公告)日:2001-09-27

    申请号:PCT/FR2001/000812

    申请日:2001-03-19

    Abstract: The invention concerns a column for producing a focused particle beam comprising: a device (100) focusing particles including an output electrode (130) with an output hole (131) for allowing through a particle beam (A); an optical focusing device (200) for simultaneously focusing an optical beam (F) including an output aperture (230). The invention is characterised in that said output aperture (230) is transparent to the optical beam (F), while said output electrode (130) is formed by a metallic insert (130) maintained in said aperture (230) and bored with a central hole (131) forming said output orifice.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于生产聚焦粒子束的色谱柱,包括:将包括输出电极(130)的颗粒与用于允许通过粒子束(A)的输出孔(131)聚焦的装置(100); 用于同时聚焦包括输出孔(230)的光束(F)的光学聚焦装置(200)。 本发明的特征在于,所述输出孔(230)对于光束(F)是透明的,而所述输出电极(130)由保持在所述孔(230)中的金属插入件(130)形成,并且与中心 孔(131)形成所述输出孔。

    ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY
    46.
    发明申请
    ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY 审中-公开
    电子显微镜和电子显微镜

    公开(公告)号:WO1997001862A1

    公开(公告)日:1997-01-16

    申请号:PCT/JP1995001273

    申请日:1995-06-26

    Inventor: HITACHI, LTD.

    CPC classification number: H01J37/228 H01J37/268 H01J2237/2445 H01J2237/2455

    Abstract: An electron microscope and electron microscopy for observing the magnetization of samples with high resolution. The microscope comprises an electron beam projecting means including a scanning coil (3) and objectives lens (4) to irradiate a desired part of a sample (51) with an electron beam (2) emitted from an electron source (1); and a detector means including a quarter wave plate (8), polarizer (9), and photodetector (11) to detect circular-polarized light from the irradiated part of the sample. Since the intensity of the circular-polarized light generated from the sample irradiated with the electron beam varies depending upon the direction of magnetization of the irradiated part and detecting direction of the light, the distribution of magnetization can be measured when the scanned images are observed by using the intensity of the circular-polarized light as luminance signals while scanning the irradiated part on the surface of the sample (51).

    Abstract translation: 用电子显微镜和电子显微镜观察高分辨率样品的磁化强度。 显微镜包括电子束投射装置,其包括用从电子源(1)发射的电子束(2)照射样品(51)的期望部分的扫描线圈(3)和物镜(4)。 以及包括四分之一波片(8),偏振器(9)和光电检测器(11)的检测器装置,用于检测来自被照射部分的样品的圆偏振光。 由于由电子束照射的样品产生的圆偏振光的强度根据照射部分的磁化方向和光的检测方向而变化,所以可以通过观察扫描图像时测量磁化分布 使用圆偏振光的强度作为亮度信号,同时扫描样品(51)的表面上的照射部分。

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