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公开(公告)号：CN101512357A
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200680055827.6
申请日：2006-09-15
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/2862
Abstract: 电子元件测试装置设有将包围推进器129及插座50的空间密闭的箱体121、能够将箱体121内存在的流体升温或降温的热交换器122、使流体循环的风扇123以及将流体从热交换器122直接引导到测定位置900近傍的通道126，而且，风扇123将经由通道126引导到测定位置900的流体回收。
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公开(公告)号：CN100511625C
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200480019450.X
申请日：2004-06-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: H01L21/677 , B65G49/07 , G01R31/26
CPC classification number: H01L21/67333 , G01R31/2893 , H05K13/0084 , H05K13/021
Abstract: 一种搬运装置，其能用Z轴驱动装置使可以保持和释放专用盘KST的盘移送臂(205)沿Z轴方向移动，把该Z轴驱动装置作成在使盘移送臂(205)向Z轴下方移动的途中能把该移动动作从通常动作切换到转矩限制动作。用这样的盘移送臂(205)不必在存放专用盘KST的各存放器中设置升降机，另外，不必正确地知道专用盘KST的高度或其装载高度，进而，在不需要转矩限制的位置上，可以使盘移送臂(205)的移动速度维持高速。
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公开(公告)号：CN100504415C
公开(公告)日：2009-06-24
申请号：CN200480043126.1
申请日：2004-04-20
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893
Abstract: 在可依次对多个TCP进行试验的TCP处理装置(2)中，推压主体(33)和链轮(35a、35b)可通过联动机构(38)联动，当驱动推压主体(33)和链轮(35a、35b)中的任一方时，推压主体(33)和链轮(35a、35b)的双方联动地移动。按照该构成，推压主体(33)和链轮(35a、35b)可由单一的驱动源(伺服电动机(31))分别移动。
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公开(公告)号：CN100498361C
公开(公告)日：2009-06-10
申请号：CN200480012843.8
申请日：2004-05-28
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/2886 , G01R31/2887
Abstract: 一种电子部件试验装置，将IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)推压到测试头(150)的接触部(151)进行试验；其中：具有测试板(110)，该测试板(110)在测试板主体部(111)可摇动地对保持部(113)进行保持，该保持部(113)将IC芯片(IC)的未导出输入输出端子(HB)的背面保持在比该背面大、实质上平滑的保持面(114)，测试时，保持部(113)的侧面(113b)由设于接触部(151)周围的导向面(153)引导，同时，由保持部(113)保持着的状态的IC芯片(IC)被推压到接触部的接触销。
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公开(公告)号：CN100495046C
公开(公告)日：2009-06-03
申请号：CN200580021429.8
申请日：2005-06-13
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R27/06
CPC classification number: G01R27/28 , G01R35/005
Abstract: 本发明涉及在运算测量被测定物的电路参数时使用的夹具的特性的测定。一种用于测定具有连接DUT(2)和网络分析器(1)的信号线(3a、3b、3c、3d)的夹具(3)的夹具特性(亦即信号线(3a、3b、3c、3d)的反射特性、传输S参数等)的夹具特性测定装置，在DUT(2)不连接在信号线(3a、3b、3c、3d)上的开路状态下，测定信号线(3a、3b、3c、3d)的反射系数，在信号线(3a、3b、3c、3d)全部接地的短路状态下，测定信号线(3a、3b、3c、3d)的反射系数，根据这些测定结果，导出夹具(3)的夹具特性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100492037C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN02813838.4
申请日：2002-07-05
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2862 , G01R31/2867 , G01R31/2868 , G01R31/2874
Abstract: 一种处理器(1)具有用于内部容纳推动器(30)的散热片(40)的内室(104)，用于控制内室(104)中环境温度的温度控制装置(91)，用于内部容纳在测试头(5)和内室(104)上的插槽的测试室(102)，以及温度控制设备(90)用于控制测试室(102)中环境的温度。根据该处理器(1)，能有效地进行温度控制，以便电子部件的温度在用于预定测试所设置的温度附近。
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公开(公告)号：CN100472220C
公开(公告)日：2009-03-25
申请号：CN03826028.X
申请日：2003-01-31
Applicant: 日商·日本工程技术股份有限公司 , 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/01 , G01R31/2851
Abstract: 在TCP信息处理器2上设置：在TCP信息处理器2的实际运行中，在能使由吸附板34吸附的承载带5在X轴-Y轴方向上移动的同时，能使其围绕垂直轴旋转的推进器载台4；在TCP信息处理器2的实际运行中，在能使探针卡8在X轴-Y轴方向移动的同时，能使其围绕垂直轴旋转移动的探针卡载台7。如果采用具有这样构成的TCP信息处理器2，则能正确地进行TCP和探针卡8的对位，能减少接触不良的发生。
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公开(公告)号：CN100427955C
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：CN200480000097.0
申请日：2004-06-01
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R1/07378 , G01R31/31905
Abstract: 本发明是关于一种元件介面装置，其是一种向被测试元件施加测试被测试元件的测试信号的同时，接收从被测试元件输出的输出信号的元件介面装置，该元件介面装置包括针式电子基板、基板侧连接器(是一种设置在上述针式电子基板端部的基板侧的连接器，具有多个基板侧芯线以及基板侧遮护板)、保持上述被测试元件的插口、插口侧连接器(具有多个插口侧芯线以及插口侧遮护板)、与在插口以及上述针式电子基板之间传递传送信号的电缆元件，电缆元件具有基板嵌合连接器、插口嵌合连接器以及多个传送电缆。
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公开(公告)号：CN101267207A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200810095884.8
申请日：2000-03-24
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 川端雅之
IPC: H03M1/10
Abstract: 一种用于校准时间误差的模/数(A－D)转换装置(100，120，130)包括：模拟信号输入部分(10)；多个模拟－数字转换器(12)；提供同步采样时钟信号或提供交替采样时钟信号的采样时钟信号发生器(14)；根据同步采样时钟信号，对A－D转换器输出的数字信号进行取平均处理的取平均处理单元(18b)；以及根据交替采样时钟信号将进行采样操作的A－D转换器输出的数字信号进行交替的交替处理单元(18a)。一种A－D转换装置包括用于计算时间误差的误差计算单元(72)、误差校准值计算单元(74)以及进行校准操作的误差校准单元(70b)。校准多个A－D转换器之间产生的误差的方法。
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公开(公告)号：CN101206240A
公开(公告)日：2008-06-25
申请号：CN200710160037.0
申请日：2007-12-21
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 提供一种可以安排时间的缩短化和可以防止不良TCP的流出的TCP试验装置。TCP试验装置具备检测在载带(30)中的批量开始位置的第1照相机(27a)以及图像处理装置(29a)；搬运与载带(30)的前端部连结的读取带(40)以及载带(30)的链轮(264、265)以及伺服电机(266、267)；驱动控制伺服电机(266、267)的控制装置(29b)，控制装置(29b)根据图像处理装置(29a)的检测结果控制伺服电机(266、267)，使得链轮(264、265)在规定的搬运方向，或者和其相反的方向上搬运读取带(40)以及载带(30)。
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