公开(公告)号：DE102011055945A1

公开(公告)日：2013-06-06

申请号：DE102011055945

申请日：2011-12-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G01N21/64

Abstract: Die Erfindung betrifft eine Verfahren und eine Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe. Die Vorrichtung weist eine Lichtquelle zum Erzeugen von Anregungslicht, das mit einer Anregungspulsfrequenz aufeinanderfolgende Anregungslichtpulse beinhaltet, zum Beleuchten eines Probenbereichs mit dem Anregungslichtpuls und einen Detektor zum Detektieren des von dem Probenbereich ausgehenden Detektionslichts auf. Die Vorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor für jedes detektierte Photon des Detektionslichtes einen elektrischen Impuls und dadurch eine Folge von elektrischen Impulsen erzeugt, und dass ein Analog-Digital-Wandler vorgesehen ist, der eine digitale Datenfolge durch Abtasten der Folge von elektrischen Impulsen mit einer Abtastrate erzeugt.

公开(公告)号：DE102011055330A1

公开(公告)日：2013-05-16

申请号：DE102011055330

申请日：2011-11-14

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01N21/64 ,  G01B11/24 ,  G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Lebensdauer eines angeregten Zustandes in einer Probe, insbesondere einer Fluoreszenzlebensdauer, sowie eine Vorrichtung zum Ausführen eines solchen Verfahrens. Zunächst erfolgen das Erzeugen eines Anregungslichtpulses und das Beleuchten eines Probenbereichs mit dem Anregungslichtpuls. Anschließend wird eine erste digitale Datenfolge erzeugt, die den zeitlichen Lichtleistungsverlauf des Anregungslichtpulses repräsentiert und ein erster Schaltzeitpunkt aus der ersten digitalen Datenfolge ermittelt. Außerdem wird das von dem Probenbereich ausgehende Detektionslicht mit einem Detektor detektiert und eine zweite digitale Datenfolge erzeugt, die den zeitlichen Lichtleistungsverlauf des Detektionslichtes repräsentiert, sowie ein zweiter Schaltzeitpunkt aus der zweiten digitalen Datenfolge ermittelt. Schließlich erfolgt das Berechnen der zeitlichen Differenz zwischen dem ersten und dem zweiten Schaltzeitpunkt.

公开(公告)号：DE102011052334A1

公开(公告)日：2013-02-07

申请号：DE102011052334

申请日：2011-08-01

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01J1/00 ,  G01T1/15 ,  G01T1/17

Abstract: Beschrieben ist eine Einrichtung (10, 50) zum Zählen von Photonen, mit einer Detektoreinheit (12), einer Schalteinheit (30, 52), eine Abtasteinheit (36, 58), einer Seriell-/Parallel-Wandlereinheit (40) und einer Auswerteeinheit (49, 62). Die Schalteinheit (30, 52) wird mit einem von Detektoreinheit (12) erzeugten Detektionssignal (26) beaufschlagt. Die Abtasteinheit (36, 58) tastet ein von der Schalteinheit (30, 52) erzeugtes Zustandssignal (32, 56) ab und erzeugt so serielle Abtastdaten. Die Seriell-/Parallel-Wandlereinheit (40) fasst die seriell erzeugten Abtastdaten zu Abtastdatenpaketen zusammen. Die Auswerteeinheit (49, 62) wird mit einem vorbestimmten Arbeitstakt betrieben, der kleiner als die Abtastfrequenz der Abtasteinheit (36, 58) ist. Die Auswerteeinheit (49, 58) wertet innerhalb jedes durch den Arbeitstakt festgelegten Taktzyklus die n-Bit-Binärwerte jeweils mindestens eines der Abtastdatenpakete zur Ermittlung eines Teilzählergebnisses aus und summiert die in den einzelnen Taktzyklen ermittelten Teilzählergebnisse zu einem Gesamtzählergebnis auf, das die Anzahl der detektierten Photonen angibt.

公开(公告)号：DE112010004624A5

公开(公告)日：2012-11-15

申请号：DE112010004624

申请日：2010-11-30

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： GISKE ARNOLD ,  GUGEL HILMAR ,  DYBA MARCUS ,  SEIFERT ROLAND ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/06 ,  G01N21/64 ,  G02B21/00 ,  G02B21/24

公开(公告)号：DE102010007729A1

公开(公告)日：2011-08-18

申请号：DE102010007729

申请日：2010-02-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： BIRK HOLGER DR ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00 ,  G01B9/04 ,  G01B11/24 ,  G02B21/24

Abstract: Eine Vorrichtung zum Scannen eines Objekts hat einen Trägerkörper (10) und einen ersten elektromagnetischen Antrieb (2). Der Trägerkörper (10) ist in einer Ebene beweglich gelagert und hält ein optisches Element (12), das einen Beleuchtungslichtstrahl (19) auf eine zu der Ebene parallele erste Objektebene des Objekts fokussiert. Der erste elektromagnetische Antrieb (2) bewegt den Trägerkörper (10) mit dem optischen Element (12) und einen Fokusbereich (23) des Beleuchtungslichtstrahls (19) innerhalb der ersten Objektebene.

公开(公告)号：GB2475768A

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：GB201018955

申请日：2010-11-09

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHULTE LUDGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01B9/04 ,  G02B21/00

Abstract: A microscope for examining an object comprising a laser light source (22) which generates pulsed laser light for illuminating the object and a detector and a measuring system (24, 26) for detecting light from the object and generating a measurement signal (M2) in dependence on the detected detection light. A programmable integrated circuit (20) comprises a control element (32), which for controlling the detector and the measuring system (24, 26) generates a first control signal (M4) and for controlling the laser light source (22) generates a second control signal (M6), a first delay element (36) which delays the first control signal (M4) and/or a second delay element (34) which delays the second control signal (M6). The programmable IC allows the control signal delays to be adjusted to compensate tolerances of the microscope components and allows easier modification of components of the microscope.

公开(公告)号：DE102009055993A1

公开(公告)日：2011-06-01

申请号：DE102009055993

申请日：2009-11-26

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： SCHULTE LUDGER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G02B21/00

Abstract: Eine Vorrichtung nach Art eines Mikroskops zum Untersuchen eines Objekts hat eine Laserlichtquelle (22), die gepulstes Laserlicht zum Beleuchten des Objekts erzeugt, und ein Detektor- und Messsystem (24, 26), das von dem Objekt ausgehendes Detektionslicht erfasst und abhängig von dem erfassten Detektionslicht ein Messsignal (M2) erzeugt. Ein programmierbarer integrierter Schaltkreis (20) umfasst ein Steuerelement (32), das zum Steuern des Detektor- und Messsystems (24, 26) ein erstes Steuersignal (M4) und zum Steuern der Laserlichtquelle (22) ein zweites Steuersignal (M6) erzeugt, ein erstes Verzögerungselement (36), das das erste Steuersignal (M4) verzögert, und/oder ein zweites Verzögerungselement (34), das das zweite Steuersignal (M6) verzögert.

公开(公告)号：DE102009049050A1

公开(公告)日：2011-04-14

申请号：DE102009049050

申请日：2009-10-12

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WARKEN FLORIAN ,  WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER ,  SEYFRIED VOLKER

IPC: G02B21/06

Abstract: Zum Stabilisieren einer Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls (40) für ein Scan-Mikroskop (41) wird der Beleuchtungslichtstrahl (40) innerhalb eines Scanfeldes (80) abgelenkt. Das Scanfeld (80) hat zumindest ein Bildfeld (B), in dem ein Probenbereich einer Probe (58) optisch abtastbar ist, und zumindest einen Blindbereich (X, V, R), in dem keine optische Abtastung der Probe (58) erfolgt. Wenn der Beleuchtungslichtstrahl (40) in Richtung des Blindbereichs (X, V, R) abgelenkt wird, wird ein Messwert (MESS) erfasst, der repräsentativ für die Lichtleistung des auf die Probe (58) treffenden Beleuchtungslichtstrahls (40) ist. Abhängig von dem Messwert (MESS) wird die Lichtleistung des Beleuchtungslichtstrahls (40) eingestellt.

公开(公告)号：DE102008059579A1

公开(公告)日：2010-07-15

申请号：DE102008059579

申请日：2008-11-28

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： KRISHNAMACHARI VISHNU VARDHAN ,  HAY WILLIAM C ,  SEYFRIED VOLKER ,  WIDZGOWSKI BERND

IPC: G01B11/24 ,  G01J3/28 ,  G01J3/44 ,  G01S7/484 ,  G02B21/00

Abstract: Die Erfindung betrifft ein optisches Auswertungsverfahren, bei dem erste Laserpulse (11) einer ersten Art und zweite Laserpulse (12) einer davon unterscheidbaren zweiten Art auf eine zu untersuchende Probe (P) gerichtet werden, wobei bei gleichzeitigem oder zeitnahem oder zeitkorreliertem Auftreffen der beiden Laserpulse (11, 12) auf der Probe (P) ein optisches Signal entsteht. Nach Detektion des erzeugten optischen Signals mit mindestens einem Detektor (D1, D2, D3) findet eine elektronische Differenzbildung zwischen den bei gleichzeitig oder zeitnah oder zeitkorreliert auf der Probe auftreffenden Laserpulsen (11, 12) im Detektor entstehenden Signalen und den bei nicht gleichzeitig oder zeitnah oder zeitkorreliert auftreffenden Laserspulen statt.

公开(公告)号：DE102007008009B3

公开(公告)日：2008-08-14

申请号：DE102007008009

申请日：2007-02-15

Applicant: LEICA MICROSYSTEMS

Inventor： WIDZGOWSKI BERND ,  BIRK HOLGER

IPC: G02B21/00

Abstract: The method involves controlling the acquisition of image data in an acquisition step using the prepared measurement signal (144) and/or associating acquired image data with a position on a specimen (118), whereby during a synthesis step a synthetic signal is generated from the processed measurement signal containing information about the frequency and/or phase and/or amplitude of the beam deflector (130) using direct digital synthesis. An independent claim is also included for a scanning microscope.